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IC測試基本原理與ATE測試向量生成

作者: 時間:2017-03-23 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏


ATE向量信息以一定格式的文件保存,JC-3165向量文件為*.MDC文件。在ATE測試中,需將*.MDC文件通過圖形文件編譯器,編譯成測試程序可識別的*.MPD文件。在測試程序中,通過裝載圖形命令裝載到程序中。



圖4 ATE測試向量格式

2.2 ATE測試向量的生成

對簡單的集成電路,如門電路,其ATE測試向量一般可以按照ATE向量格式手工完成。而對于一些集成度高,功能復(fù)雜的IC,其向量數(shù)據(jù)龐大,一般不可能依據(jù)其邏輯關(guān)系直接寫出所需測試向量,因此,有必要探尋一種方便可行的方法,完成ATE向量的生成。

在IC設(shè)計制造產(chǎn)業(yè)中,設(shè)計、驗證和仿真是不可分離的。其ATE測試向量生成的一種方法是,從基于EDA工具的仿真向量(包含輸入信號和期望的輸出),經(jīng)過優(yōu)化和轉(zhuǎn)換,形成ATE格式的測試向量。

依此,可以建立一種向量生成方法。利用EDA工具建立器件模型,通過建立一個Test bench仿真驗證平臺,對其提供測試激勵,進行仿真,驗證仿真結(jié)果,將輸入激勵和輸出響應(yīng)存儲,按照ATE向量格式,生成ATE向量文件。其原理如圖5所示。



圖5 ATE向量生成示意圖

2.3測試平臺的建立

(1)DUT模型的建立

①164245模型:在Modelsim工具下用Verilog HDL語言[5],建立164245模型。164245是一個雙8位雙向電平轉(zhuǎn)換器,有4個輸入控制端:1DIR,1OE,2DIR,2OE;4組8位雙向端口:1A,1B,2A,2B.端口列表如下:

input DIR_1,DIR_2,OE_1,OE_2;

inout [0:7] a_1,a_2,b_1,b_2;

reg [0:7] bfa1,bfb1,bfa2,bfb2;//緩沖區(qū)

②緩沖器模型:建立一個8位緩沖器模型,用來做Test bench與164245之間的數(shù)據(jù)緩沖,通過在Testbench總調(diào)用緩沖器模塊,解決Test bench與164245模型之間的數(shù)據(jù)輸入問題。

(2)Test bench的建立

依據(jù)器件功能,建立Test bench平臺,用來輸入仿真向量。

Test bench中變量定義:

reg dir1,dir2,oe1,oe2;//輸入控制端

reg[0:7] a1,a2,b1,b2;//數(shù)據(jù)端

reg[0:7] A1_out[0:7];//存儲器,用來存儲數(shù)據(jù)

reg[0:7] A2_out[0:7];

reg[0:7] B1_out[0:7];

reg[0:7] B2_out[0:7];

通過Test bench提供測試激勵,經(jīng)過緩沖區(qū)接口送入DUT,觀察DUT輸出響應(yīng),如果滿足器件功能要求,則存儲數(shù)據(jù),經(jīng)過處理按照ATE圖形文件格式產(chǎn)生*.MDC文件;若輸出響應(yīng)有誤,則返回Test bench和DUT模型進行修正。其原理框圖可表示如圖6所示。



圖6 Test bench驗證平臺框圖


(3)仿真和驗證

通過Test bench給予相應(yīng)的測試激勵進行仿真,得到預(yù)期的結(jié)果,實現(xiàn)了器件功能仿真,并獲得了測試圖形。圖7和圖8為部分仿真結(jié)果。



圖7仿真數(shù)據(jù)結(jié)果


在JC-3165的*.MDC圖形文件中,對輸入引腳,用“1”和“0”表示高低電平;對輸出引腳,用“H”和“L”表示高低電平:“X”則表示不關(guān)心狀態(tài)。由于在仿真時,輸出也是“0”和“1”,因此在驗證結(jié)果正確后,對輸出結(jié)果進行了處理,分別將“0”和“1”轉(zhuǎn)換為“L”和“H”,然后放到存儲其中,最后生成*.MDC圖形文件。



圖8生成的*.MDC文件


3結(jié)論

本文在Modelsim環(huán)境下,通過Verilog HDL語言建立一個器件模型,搭建一個驗證仿真平臺,對164245進行了仿真,驗證了164245的功能,同時得到了ATE所需的圖形文件,實現(xiàn)了預(yù)期所要完成的任務(wù)。

隨著集成電路的發(fā)展,芯片設(shè)計水平的不斷提高,功能越來越復(fù)雜,測試圖形文件也將相當(dāng)復(fù)雜且巨大,編寫出全面、有效,且基本覆蓋芯片大多數(shù)功能的測試圖形文件逐漸成為一種挑戰(zhàn),在ATE上實現(xiàn)測試圖形自動生成已不可能。因此,有必要尋找一種能在EDA工具和ATE測試平臺之間的一種靈活通訊的方法。

目前常用的一種方法是,通過提取EDA工具產(chǎn)生的VCD仿真文件中的信息,轉(zhuǎn)換為ATE測試平臺所需的測試圖形文件,這需要對VCD文件有一定的了解,也是進一步的工作。


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