EAG實(shí)驗(yàn)室將在中國舉行一系列材料分析研討會(huì)

　　EAG實(shí)驗(yàn)室宣布公司將于10月份在中國多地舉辦一系列技術(shù)研討會(huì)。EAG實(shí)驗(yàn)室是一家面向技術(shù)、生命科學(xué)相關(guān)行業(yè)提供測試、分析和表征服務(wù)的全球科學(xué)服務(wù)公司。EAG實(shí)驗(yàn)室于2017年10月17日和19日在北京、成都、上海舉辦的研討會(huì)將關(guān)注材料分析方法以及如何更加有效地使用這些方法優(yōu)化生產(chǎn)工藝和產(chǎn)品升級(jí)。

　　EAG實(shí)驗(yàn)室亞洲區(qū)高級(jí)副總裁Aoyama Tomoya博士說：“EAG實(shí)驗(yàn)室在材料科學(xué)和工程科學(xué)領(lǐng)域的測試、分析和表征技術(shù)方面有著大量的經(jīng)驗(yàn)和特長。這屆研討會(huì)將會(huì)提供一個(gè)很好的知識(shí)分享平臺(tái)，最終幫助我們的客戶以及潛在的中國客戶改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝。”

　　EAG實(shí)驗(yàn)室是一家聯(lián)系緊密的全球公司，在世界范圍內(nèi)擁有20家實(shí)驗(yàn)室，服務(wù)客戶超過4000家，能夠提供30多種分析技術(shù)服務(wù)，包括二次離子質(zhì)譜(SIMS)、輝光放電質(zhì)譜(GDMS)、四極桿二次離子質(zhì)譜(Quad SIMS)、飛行時(shí)間–二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)、電感耦合等離子體質(zhì)譜發(fā)射光譜、X射線光電子圖譜(XPS)、傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜(FTIR)、掃描電子顯微鏡/能譜分析(SEM/EDS)、聚焦離子束(FIB)、全反射X射線熒光光譜(TXRF)、原子力顯微鏡/掃描探針顯微鏡(AFM/SPM)、盧瑟福背散射譜(RBS)、氫前向散射光譜法(HFS)、質(zhì)子激發(fā)X熒光光譜分析(PIXE)、X射線熒光分析(XRF)、拉曼光譜(Raman)和氣相色譜質(zhì)譜(GC/MS)。

　　10月17日在北京舉行的研討會(huì)主要集中在表面分析技術(shù)上，如二次離子質(zhì)譜(SIMS)。同日在成都舉行的研討會(huì)則關(guān)注體相分析技術(shù)，如輝光放電質(zhì)譜(GDMS)。10月19日在上海舉行的研討會(huì)涵蓋表面分析技術(shù)(SIMS等)和體相分析技術(shù)(GDMS等)兩個(gè)方面，兩個(gè)會(huì)場全天同時(shí)進(jìn)行。

　　北京、成都、上海研討會(huì)議程

　　北京，10月17日，上午8:45~下午5:10，北京世紀(jì)蓮花酒店

　　主題：表面分析技術(shù)

　　內(nèi)容：EAG與表面分析的介紹;SIMS (1)-SIMS基礎(chǔ)、歷程與意義;X射線光電圖譜(XPS)/俄歇電子圖譜(AES);飛行時(shí)間-二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS);SIMS的應(yīng)用;透射電子顯微鏡(TEM);使用SIMS分析粉末半導(dǎo)體——以GaN與SiC為例;基于X射線的分析技術(shù)(XRD、XRF、XRR)。

　　成都， 10月17日，上午8:45~下午5:10，成都總府皇冠假日酒店

　　主題：體相分析技術(shù)

　　內(nèi)容：EAG與表面分析的介紹;GDMS介紹、溶液分析與固體分析的對(duì)比;GDMS分析的實(shí)例;激光刻蝕-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LA-ICPMS)的介紹;基于熔融(或燃燒)的分析技術(shù)(IGA、TGA、DAT、DSC)介紹;EAG針對(duì)陶瓷基復(fù)合材料分析的方案。

　　上海，10月19日午8:45~下午5:10，上海帝盛酒店

　　主題：表面與體相分析技術(shù)

　　會(huì)場A-表面分析技術(shù)

　　內(nèi)容：EAG與表面分析的介紹;SIMS (1) - SIMS基礎(chǔ)、歷程與意義;X射線光電圖譜(XPS)/俄歇電子圖譜(AES);飛行時(shí)間 - 二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS);SIMS的應(yīng)用;透射電子顯微鏡(TEM);使用SIMS分析粉末半導(dǎo)體——以GaN與SiC為例;基于X射線的分析技術(shù)(XRD、XRF、XRR)。

　　會(huì)場B-體相分析技術(shù)

　　內(nèi)容：EAG與表面分析的介紹;GDMS介紹、溶液分析與固體分析的對(duì)比;GDMS分析的實(shí)例;激光刻蝕-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LA-ICPMS)的介紹;基于加熱熔融(或燃燒)的分析技術(shù)(IGA、TGA、DAT、DSC)介紹;EAG針對(duì)陶瓷基復(fù)合材料分析的方案。

　　注冊

　　參會(huì)需要提前注冊。請(qǐng)點(diǎn)擊此處注冊或聯(lián)系Yu Zhang(yzhang@eag.com)或David Chu(fchu@eag.com)。

　　EAG實(shí)驗(yàn)室(上海)負(fù)責(zé)中國區(qū)域的技術(shù)和生命科學(xué)業(yè)務(wù)，如有任何問題咨詢EAG實(shí)驗(yàn)室，請(qǐng)聯(lián)系我們：上海市浦東新區(qū)蓮溪路1151號(hào)4號(hào)樓1層，201204。也可撥打電話021-68796088-114、15821627752(Yu Zhang)或021-68796088-113、13916767462(David Chu)。