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基于HMC704LP4的一種X波段跳頻源設(shè)計(jì)方案(二)

作者: 時(shí)間:2013-11-16 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
間,進(jìn)一步減小跳頻時(shí)間。利用SCLK上升沿將數(shù)據(jù)、寄存器地址、芯片地址碼依次通過SDI送給PLL內(nèi)部的移位寄存器后,令SEN變?yōu)楦唠娖綄⒁莆患拇嫫髦械臄?shù)據(jù)所存至相應(yīng)鎖存器中,鎖相環(huán)進(jìn)入相應(yīng)頻率鎖定過程。跳頻時(shí),改變頻點(diǎn)只用改變N整數(shù)寄存器和N小數(shù)寄存器即可。

  4 測試結(jié)果與結(jié)論

  采用Agilent頻譜儀N9030A和信號源分析儀E5052B分別對該的雜散、相噪和跳頻時(shí)間進(jìn)行測試。相位噪聲測試曲線如圖3所示,測試頻率為10.47 GHz,相噪指標(biāo)為-96dBc/Hz@1kHz;雜散測試如圖4、圖5所示,測試頻率為10.44 GHz,圖4為近端雜散、圖5為遠(yuǎn)端雜散。雜散優(yōu)于-70dBc.跳頻時(shí)間測試的是9.9 GHz到10.93 GHz的跳頻時(shí)間,約為36 μs.

  基于HMC704LP4的一種X波段跳頻源設(shè)計(jì)方案(二)

  基于HMC704LP4的一種X波段跳頻源設(shè)計(jì)方案(二)

  該高于指標(biāo)要求,體積為60x40×19mm3,且性能穩(wěn)定可靠。經(jīng)驗(yàn)證該設(shè)計(jì)方案可應(yīng)用于同類型的頻率頻率源設(shè)計(jì)當(dāng)中去,具有實(shí)際的指導(dǎo)意義。

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關(guān)鍵詞: HMC704LP4 X波段 跳頻源

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