LTE芯片及終端測試

　　LTE終端往往是多模、多技術(shù)和多頻段終端。如LTE/WCDMA/GSM，LTE/TD-SCDMA/GSM，LTE/EV-DO/cdma2000等多模，而且還可能配置WLAN/WAPI，CMMB，藍牙，GPS，F(xiàn)M立體聲等非蜂窩技術(shù)，并且還要支持每個通信標準各種頻段。因此，對LTE綜測儀第一個要求是，要能支持各種無線通信技術(shù);由于要測試的無線技術(shù)和頻段增多，可以想像，測試時間將大大加長，因此對LTE綜測儀第2個要求是，測試速度極快。RS的CMW500能滿足這兩個要求。從支持的無線技術(shù)來說，CMW500幾乎可以支持所有的無線通信技術(shù);從測試速度來說，CMW500不但測試速度比前一代綜測儀快很多，而且它還引入了如 RS創(chuàng)新的智能校準(Smart Alignment)和倍速分析(Multi-evaluation)等技術(shù)，使得其整體測試速度成倍地加快。對于生產(chǎn)測試來說，測試速度重要，但測試一次通過率(直通率)也很重要。由于CMW500在精度、測試可重復(fù)性和線性度等方面極出色的性能，可以顯著提高生產(chǎn)測試的直通率;CMW500雙通道的設(shè)計在研發(fā)階段的好處是測試MIMO性能，而在生產(chǎn)測試的好處則變成了可以同時并行測試兩臺手機，這樣自然就降低了測試成本(見圖3)。

　　圖3 RS的CMW500可以用于LTE研發(fā)和生產(chǎn)

　　5 結(jié)束語

　　從世博會、亞運會以及多次外場測試的測試結(jié)果看，TD-LTE系統(tǒng)設(shè)備商的產(chǎn)品運行基本正常，主要的問題表現(xiàn)還是在終端上。而從TD-SCDMA的發(fā)展經(jīng)歷可以看到，終端性能是影響產(chǎn)業(yè)發(fā)展的重要原因。RS全面的LTE測試解決方案可以滿足TD-LTE芯片及終端的測試需求，更好的促進產(chǎn)業(yè)發(fā)展。