JESD204B發(fā)射器的三個關鍵物理層性能指標
隨著JESD204接口更多地被數(shù)據轉換器所采用,急需對其性能加以重視,并優(yōu)化數(shù)字接口。重點不應只放在數(shù)據轉換器的性能上。該標準的最初兩個版本,即2006年發(fā)布的JESD204和2008年發(fā)布的JESD204A,其額定數(shù)據速率為3.125 Gbps。最新的版本為2011年發(fā)布的JESD204B,列出了3個速度等級,最大數(shù)據速率為12.5 Gbps。這三個速度等級遵循三個不同的電氣接口規(guī)范,由光互連論壇(OIF)定義。OIF-Sx5-01.0針對最高3.125 Gbps的數(shù)據速率,詳細定義了電氣接口規(guī)范;CEI-6G-SR和CEI-11G-SR則分別對應最高6.375 Gbps和12.5 Gbps的數(shù)據速率,并詳細定義了接口規(guī)范。高速數(shù)據速率需要更為謹慎地從設計與性能方面考慮高速CML驅動器、接收器和互連網絡,這些器件構成JESD204B接口的物理層(PHY)。
若要評估JESD204B發(fā)射器的PHY性能,則需評估一些性能指標。這些指標包括共模電壓、差分峰峰值電壓、差分阻抗、差分輸出回損、共?;負p、發(fā)射器短路電流、眼圖模板和抖動。
本文將討論三個關鍵的性能指標。這些指標通常用于評估發(fā)射器信號質量、眼圖、浴盆圖和直方圖。由于信號必須在接收器端被正確解碼,這些測量亦在接收器端完成。眼圖覆蓋輸出數(shù)據傳送的多路采集路徑以生成曲線,以多種參數(shù)表示鏈路質量??赏ㄟ^該曲線觀察JESD204B物理接口的許多特性,如阻抗不連續(xù)和不當端接。這僅是評估物理層的一種方法。浴盆圖和直方圖是可用來評估JESD204B鏈路質量的另外兩種重要性能指標。測量單位間隔(UI)時,浴盆圖可直觀地表示針對給定眼圖開口寬度的比特誤差率(BER)。單位間隔是JESD204B物理層規(guī)范中指定的時間,表示數(shù)據傳輸?shù)臅r間間隔。第三個測量數(shù)據是直方圖,表示被測UI值變化的分布。該測量數(shù)據還可表示被測信號的抖動量。直方圖、眼圖和浴盆圖可用于表示JESD204B接口物理層的整體性能。本例采用輸出數(shù)據速率為5.0Gbps的JESD204B發(fā)射器。該數(shù)據速率下發(fā)射器的性能由OIF CEI-6G-SR規(guī)范詳細定義。
眼圖
圖1表示5.0Gbps數(shù)據速率的JESD204B發(fā)射器眼圖。理想波形與測量波形相疊加。理想情況下,傳輸應在無過沖或欠沖的情況下瞬間完成,不產生任何振鈴。此外,決定UI的交叉點應當不存在抖動。如圖1所示,由于信號在非理想介質中傳輸,存在損耗與不完全匹配的端接,因此在實際系統(tǒng)中不可能獲得理想波形。該眼圖在JESD204B系統(tǒng)的接收器端測得。在到達測量點之前,信號通過連接器、經長度約為20cm的差分傳輸線傳輸。這幅眼圖表示發(fā)射器和接收器之間的阻抗匹配較為合理,傳輸介質良好且無較大的阻抗不連續(xù)產生。它確實存在一定的抖動,但不超過JESD204接口規(guī)范中的定義。該眼圖未發(fā)現(xiàn)任何過沖,但由于減緩信號在傳輸介質中的傳輸,上升沿存在微量欠沖。這在信號通過連接器和20cm差分傳輸線之后是可以預期的。當信號存在少量抖動時,UI平均值似乎與大致為200ps的預期UI值相匹配??傊?,該眼圖表示傳輸至接收器的信號良好,因此,理應不存在恢復內嵌的數(shù)據時鐘和正確解碼數(shù)據的問題。
除端接阻抗不正確之外,圖2所示眼圖的傳輸介質與圖1中所使用的相同。其造成的影響可從交點處以及非轉換區(qū)域的信號抖動量增加看出。許多采集的數(shù)據中存在整體幅度壓縮,造成眼圖開始閉合。這種信號惡化將使得接收器的BER增加;若眼圖的閉合程度超過接收器的容差,則可能導致接收器端的JESD204B鏈路丟失。
圖3中的眼圖表示另一種非理想數(shù)據傳輸?shù)那闆r。該情況下,在發(fā)射器和接收器中間某點上顯示存在阻抗不連續(xù)(本例中為示波器)。由圖中可看出性能的惡化:眼圖開口趨向閉合,表示轉換點內部區(qū)域正逐漸變小。數(shù)據上升沿和下降沿由于傳輸線上的阻抗不連續(xù)而嚴重惡化。阻抗不連續(xù)還會造成數(shù)據轉換點的抖動量增加。一旦眼圖閉合超過接收器解碼數(shù)據流的能力極限,則數(shù)據鏈路丟失。圖3這種情況下,許多接收器將可能無法解碼數(shù)據流。
浴盆圖
除了眼圖,浴盆圖也可提供JESD204B鏈路上串行數(shù)據傳輸?shù)挠杏眯畔ⅰT∨鑸D測量的是BER(比特誤差率),隨著眼圖的時間推移,它是采樣點的函數(shù)。浴盆圖通過使采樣點在眼圖內移動,并在每個點上測量BER所得。如圖4所示,采樣點越靠近眼圖中心,BER越低。隨著采樣點向眼圖的轉換點移動,BER也隨之增加。給定BER情況下,浴盆圖兩條斜線之間的距離便是特定BER的眼圖開口區(qū)域(本例中為10-12)。
浴盆圖還可提供信號中抖動(Tj)成分的信息。如圖5所示,當測量點接近或等于轉換點時,抖動相對平坦,且主要屬于確定性抖動。和眼圖測量一樣,浴盆圖的測量基于JESD204B 5.0 Gbps發(fā)射器,信號通過連接器以及約為20 cm的傳輸線后,對接收器進行測量所得。隨著測量點向眼圖開口中心移動,抖動機制的主要成分變?yōu)殡S機抖動。隨機抖動由大量的運算處理產生,量綱通常極小。典型來源為:熱噪聲、布線寬度的變化、散粒噪聲等。隨機噪聲的PDF(概率密度函數(shù))一般遵循高斯分布。另一方面,少量的運算處理產生的確定性抖動可能具有較大的量綱,并且可能互相關聯(lián)。確定性抖動的PDF是受限的,并且具有明確定義的峰峰值。它的形狀可能會改變,且通常不服從高斯分布。
圖4中討論的浴盆圖其展開圖形見圖6。在5.0 Gbps串行數(shù)據傳輸以及BER為10-12情況下,該圖表示接收器端眼圖開口約為0.6 UI(單位間隔)。特別需要注意的是,類似圖6:5.0Gbps浴盆圖。
圖中所示的浴盆圖采用的是外推測量。用于捕捉數(shù)據的示波器根據一系列測量結果,經外推得到浴盆圖。若需使用BERT(比特誤差率測試儀)并獲取足夠的測量數(shù)據以建立浴盆圖,則可能需耗時數(shù)小時以致數(shù)天,哪怕采用最新的高速運算測量設備。
和眼圖一樣,系統(tǒng)中不當端接或阻抗不連續(xù)可通過浴盆圖發(fā)現(xiàn)。對比圖6,圖7和圖8中的浴盆圖兩端的斜率都較為平緩。此時,BER在10-12情況下的眼圖開口僅為0.5 UI,比良好情況下的0.6UI低了10%。不當端接和阻抗不連續(xù)導致系統(tǒng)產生大量隨機抖動。BER為10-12時,浴盆圖兩側較為平緩的斜率以及收窄的眼圖開口表明系統(tǒng)中有大量隨機抖動。確定性抖動亦有少量上升。浴盆圖邊緣附近的斜率下降再次證明了這點。
直方圖
第三個有用的測量數(shù)據是直方圖。該圖表示數(shù)據傳輸時,所測得的轉換點之間的間隔分布。和眼圖和浴盆圖測量一樣,直方圖的測量基于JESD204B 5.0Gbps發(fā)射器,信號通過連接器以及約為20cm的傳輸線后,對接收器進行測量所得。圖9表示5.0Gbps速率時,系統(tǒng)表現(xiàn)相對較好的直方圖。該直方圖表示185ps和210ps間測得的間隔大致符合高斯分布。5.0Gbps信號的預期間隔為200ps,這表示圖中間隔大致分布在預期值兩側的-7.5%至+5%范圍內。
如圖10所示,當產生不當端接時,則分布范圍變得更寬,將在170ps和220ps之間變動。它將使得分布百分比變?yōu)?15%至+10%,是圖9中的兩倍。這些圖形表示信號存在隨機抖動,因為它們具有形似高斯分布的形狀。然而,由于這些圖形并非真正的高斯分布,這表示至少存在少量的確定性抖動。
圖11所示直方圖表示傳輸線上存在阻抗不連續(xù)的情況。該圖形并不類似高斯分布,而是具有第二個較小的波峰。測量周期的平均值也發(fā)生了偏斜。與圖9和圖10中的波形不一樣,該波形的平均值不再是200ps,它偏移至大約204ps。形狀更似雙峰的分布表示系統(tǒng)中存在更多的確定性抖動。這是由于傳輸線路上存在阻抗不連續(xù),以及由此造成的預料中的影響。對間隔測量所得數(shù)值雖然不如不當端接情況下擴大的多,但范圍卻再次擴大了。該例中的范圍為175ps至215ps,約位于預測間隔兩側的-12.5%至+7.5%。雖然范圍不算很大,但再次強調,其分布本質上更接近雙峰分布。
結束語
JESD204B發(fā)射器的物理層性能可通過一些性能指標來評估,這些指標包括共模電壓、差分峰峰值電壓、差分阻抗、差分輸出回損、共模回損、發(fā)射器短路電流、眼圖模板和抖動。本文討論了可用來評估發(fā)射信號質量的三個關鍵的性能指標。眼圖、浴盆圖和直方圖就是用來評估JESD204B鏈路質量的三大重要性能指標的。不當端接和阻抗不連續(xù)等系統(tǒng)問題會嚴重影響物理層的性能,而這些影響可通過眼圖、浴盆圖和直方圖中顯示出來的圖形退化觀察到。保持良好的設計實踐,以便正確端接系統(tǒng),以及避免在傳輸介質中產生阻抗不連續(xù)是非常重要的,因為這些問題可對數(shù)據傳輸產生明顯的不利影響,從而導致JESD204B的發(fā)射器和接收器之間數(shù)據鏈路故障。如果使用一定的技術避免這些問題,就可確保系統(tǒng)的正常工作。
參考文獻:
JEDEC標準:JESD204B(2011年7月)。JEDEC固態(tài)技術協(xié)會。www.jedec.org
應用筆記(5989-5718EN):利用時鐘抖動分析降低串行數(shù)據應用中的BER。Agilent Technoloiges,2006年12月。
應用筆記(5988-9109EN):數(shù)字系統(tǒng)的測量。Agilent Technologies,2008年1月。
評論