集成電路的檢測(cè)與代換

1．集成電路的檢測(cè)

檢測(cè)集成電路是否正常，可采用以下幾種方法：

（1）邏輯分析法

所謂邏輯分析法是指若懷疑某一集成電路有問(wèn)題，可先測(cè)量該集成電路的輸入信號(hào)是否正常，再測(cè)量集成電路的輸出信號(hào)是否正常，若有輸入而無(wú)輸出，一般可判斷為該集成電路損壞。

（2）直流電阻比較法

直流電阻比較法是把要檢測(cè)的集成電路各引腳的直流電阻值與正常集成電路的直流電阻值相比較，以此來(lái)判斷集成電路的好壞。測(cè)量時(shí)要使用同一只萬(wàn)用表，同一個(gè)電阻擋位，以減小測(cè)量誤差。直流電阻比較法可以對(duì)不同機(jī)型、不同結(jié)構(gòu)的集成電路進(jìn)行檢測(cè)，但須以相同型號(hào)的正常集成電路作為參照。

（3）排除法

排除法是指維修中若判斷某一部分電路（包含有集成電路）有故障，可先檢測(cè)此部分電路的分立元件是否正常，若分立元件正常，則說(shuō)明集成電路有問(wèn)題，應(yīng)考慮更換集成電路。

此法不需要集成電路的參考資料，而且不必了解電路內(nèi)部的工作原理，在液晶顯示器維修中經(jīng)常使用此方法。

（4）直流電壓測(cè)量法

直流電壓測(cè)量法是檢測(cè)集成電路的常用方法，主要是測(cè)量集成電路各引腳對(duì)地的直流工作電壓值，再與標(biāo)稱(chēng)值相比較，從而判斷集成電路的好壞。

2．集成電路的代換

集成電路的內(nèi)部基本上全是半導(dǎo)體，它是將數(shù)以萬(wàn)計(jì)的晶體管集中制成一個(gè)體積很小的器件。正因?yàn)槿绱耍泻芏嗉呻娐肥强梢曰ハ啻鷵Q的，只要它們的引腳功能相同、工作電壓一致，各引腳的電壓也一樣，一般就可以互換使用（對(duì)于MCU和存儲(chǔ)器，還要求內(nèi)部程序相同）。這一特點(diǎn)對(duì)于某些在市場(chǎng)上買(mǎi)不到或售價(jià)過(guò)高的集成電路的更換是非常有用的。另外，集成電路的質(zhì)量是有產(chǎn)地之別的，進(jìn)口產(chǎn)品質(zhì)量最好，合資產(chǎn)品次之，國(guó)產(chǎn)產(chǎn)品較差，所以它們的價(jià)格也是相差懸殊的。區(qū)分國(guó)產(chǎn)集成電路并不是很難，型號(hào)前綴為“CD”的是國(guó)產(chǎn)產(chǎn)品。