單片機(jī)系統(tǒng)中RAM的測試方法研究

2 基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM測試方法

基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的測試方法是在方法3的基礎(chǔ)上進(jìn)一步改進(jìn)獲得的。方法3主要是使用全O和全1兩個背景數(shù)來移位展開的，與MARCH—G算法相比獲得的故障覆蓋率稍微低些，但使用了較少的地址單元。這里我們把方法3中的背景數(shù)稱為“種子”。以地址線為8根的RAM為例，種子分別取00000000和11111111兩個數(shù)，取00000000、11111111、0000llll和llll0000四個數(shù)，以及取00000000、11111111、00001111、11110000、00110011、1100llOO、01010101和10101010八個數(shù)來移位展開測試，所達(dá)到的故障覆蓋率是不一樣的。種子數(shù)為2的改進(jìn)方法要低于MARCH—G算法的故障覆蓋率，種子數(shù)為4的改進(jìn)方法與MARCH—G算法相當(dāng)，種子數(shù)為8的改進(jìn)方法能夠超過MARCH—G算法的效果。整體上基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的改進(jìn)方法是可以代替MARCH—G算法的，但是種子數(shù)目不同所需要的尋址次數(shù)也是不同的。設(shè)地址線為n根，種子數(shù)為2時需要訪問RAM共計(jì)4”+4次，種子數(shù)為4時需要訪問RAM共計(jì)8n+8次，種子數(shù)為8時需要訪問RAM共計(jì)16n+16次，而MARCH—G算法需要訪問RAM共計(jì)6×2n次?？梢姡诜N子和逐位倒轉(zhuǎn)的改進(jìn)方法比MARCH—G算法的測試時間開銷大大降低。同時，故障覆蓋率會隨著種子數(shù)目的增加而提高，當(dāng)然不同種子數(shù)時所需要的測試時間開銷也不同。在實(shí)際測試應(yīng)用中要根據(jù)測試時間和測試故障覆蓋率的需求來選擇合適的種子數(shù)目，才能達(dá)到滿意的效果。

結(jié) 語

本文介紹了單片機(jī)系統(tǒng)RAM測試的一般方法，并在原有基礎(chǔ)上提出了一種基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM故障測試方法。它具有診斷耗時短、故障覆蓋率高的特點(diǎn)，因而有著很高的應(yīng)用價值。