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簡易發(fā)光二極管測試方法

作者: 時(shí)間:2012-03-22 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
譜輻射帶寬和光譜功率分布

  c) 3000類 光電特性

  --方法3001 開關(guān)時(shí)間

  6.1 1000類 電特性

  6.1.1 方法1001:正向電壓

  6.1.1.1 目的

  測量LED器件在規(guī)定正向工作電流下,兩電極間產(chǎn)生的電壓降。

  6.1.1.2 測試框圖(見圖3)

  圖3 方法1001測試框圖

  

3.jpg

  D--被測LED器件;

  G--恒流源;

  A--電流表;

  V--電壓表。

  6.1.1.3 測試步驟

  a) 按圖3原理連接測試系統(tǒng),并使儀器預(yù)熱;

  b) 調(diào)節(jié)恒流源,使電流表讀數(shù)為規(guī)定值,這時(shí)在直流電壓表上的讀數(shù)即為被測器件的正向電壓。

  6.1.1.4 規(guī)定條件

  環(huán)境或管基溫度;

  電源電壓;

  正向偏置電流。

  6.1.2 方法1002:反向電壓

  6.1.2.1 目的

  測量通過LED器件的反向電流為規(guī)定值時(shí),在兩電極之間產(chǎn)生的反向電壓。

  6.1.2.2 測試框圖(見圖4)

  圖4 方法1002測試框圖

  

4.jpg

  D--被測LED器件;

  G--穩(wěn)壓源;

  A--電流表;

  V--電壓表。

  6.1.2.3 測試步驟

  a) 按圖4原理連接測試系統(tǒng),并使儀器預(yù)熱。

  b) 調(diào)節(jié)穩(wěn)壓電源,使電流表讀數(shù)為規(guī)定值,這時(shí)在直流電壓表上的讀數(shù)即為被測器件的反向電壓。

  6.1.2.4 規(guī)定條件

  環(huán)境或管基溫度;

  電源電壓;

  反向電流。

  6.1.3 方法1003:反向電流

  6.1.3.1 目的

  測量在被測LED器件施加規(guī)定的反向電壓時(shí)產(chǎn)生的反向電流。

6.1.3.2 測試框圖(見圖5)

  圖5 方法1003測試框圖

  

1003測試框圖

  D--被測LED器件;

  G--穩(wěn)壓源;

  A--電流表;

  V--電壓表。

  6.1.3.3 測試步驟

  a) 按圖5原理連接測試系統(tǒng),并使儀器預(yù)熱。

  b) 調(diào)節(jié)穩(wěn)壓電源,使電壓表讀數(shù)為規(guī)定值,這時(shí)在直流電流表上的讀數(shù)即為被測器件的反向電流。

  6.1.3.4 規(guī)定條件

  環(huán)境或管基溫度;

  電源電壓;

  反向電流。

  6.1.4 方法1004:總電容

  6.1.4.1 目的

  在被測LED器件施加規(guī)定的正向偏壓和規(guī)定頻率的信號時(shí),測量被測器件兩端的電容值。

  6.1.4.2 測試框圖(見圖6)

  圖6 方法1004測試框圖

  

6.jpg

  D--被測LED器件;

  C0--隔離電容;

  A--電流表;

  V--電壓表;

  L--電感。

  6.1.4.3 測試步驟

  a) 按圖6原理連接測試系統(tǒng),并使儀器預(yù)熱;

  b) 調(diào)節(jié)電壓源和調(diào)節(jié)電容儀,分別給被測LED器件施加規(guī)定的正向偏壓和規(guī)定頻率的信號,將電容儀刻度盤上讀數(shù)扣去電容C0等效值即為被測LED器件總電容值。

  6.1.4.4 規(guī)定條件

  環(huán)境或管基溫度;

  正向偏置電壓;

  電容儀提供規(guī)定頻率的信號。

  6.2 2000類 光特性

  6.2.1 方法2001:平均LED強(qiáng)度

  6.2.1.1 目的

  測量半導(dǎo)體平均LED強(qiáng)度。

  6.2.1.2 測試框圖(見圖7)

  圖7 方法2001測試框圖

  

7.jpg

  D--被測LED器件;

  G--電流源;

  PD--包括面積為A的光闌D1的光度探測器;

  D2、D3--消除雜散光光欄, D2,D3不應(yīng)限制探測立體角;

  d--被測LED器件與光闌D1之間的距離。

  注1:調(diào)整被測LED器件使它的機(jī)械軸通過探測器孔徑的中心。

  注2:光度探測器的光譜靈敏度在被測器件發(fā)射的光譜波長范圍內(nèi)應(yīng)該校準(zhǔn)到CIE(國際照明委員會)標(biāo)準(zhǔn)光度觀測者光譜曲線;測試輻射參數(shù)時(shí)應(yīng)采用無光譜選擇性的光探測器。 測試系統(tǒng)應(yīng)該按距離d和光闌D1用標(biāo)準(zhǔn)器校正。測量距離d應(yīng)按CIE推薦的標(biāo)準(zhǔn)條件A和B設(shè)置。在這兩種條件下,所用的探測器要求有一個(gè)面積為100mm2(相應(yīng)直徑為11.3mm)的園入射孔徑。

  CIE推薦 LED頂端到探測器的距離d 立體角 平面角(全角)

  標(biāo)準(zhǔn)條件A 316mm 0.001sr 2o

  標(biāo)準(zhǔn)條件B 100mm 0.01sr 6.5o

  注3:對于脈沖測量,電流源應(yīng)該提供所要求的幅度,寬度和重復(fù)率的電流脈沖。探測器上升時(shí)間相

  對于脈沖寬度應(yīng)該足夠小,系統(tǒng)應(yīng)該是一個(gè)峰值測量儀器。

  6.2.1.3 測量步驟

  被測LED器件按照選定的形式定位給被測器件加上規(guī)定的電流,在光度測量系統(tǒng)測量平均LED強(qiáng)度。

  6.2.1.4 規(guī)定條件

  環(huán)境溫度和合適的大氣條件;

  正向電流和,需要的話,寬度和重復(fù)率;

  6.2.2 方法2002:半強(qiáng)度角和偏差角

6.2.2.1 目的

  測量半導(dǎo)體在規(guī)定的工作電流下的平均LED強(qiáng)度的空間分布和半最大強(qiáng)度角及偏差角。半強(qiáng)度角 θ1/2是發(fā)光(或輻射)強(qiáng)度大于等于最大強(qiáng)度一半構(gòu)成的角度(見圖8),在平均LED強(qiáng)度分布圖形中,最大強(qiáng)度方向(光軸)與機(jī)械軸Z之間的夾角即為偏差角Δθ (見圖8)。

  6.2.2.1 測試框圖(見圖8)

  圖8 方法2002測試框圖

  

8.jpg

  D:被測LED器件;

  G:電流源;

  PD:包括面積為A的光闌D1的光度探測器;

  D2,D3:消除雜散光光欄, D2,D3不應(yīng)限制探測立體角;

  d:被測LED器件與光闌D1之間的距離;

  θ:Z軸和探測器軸之間的夾角。

  注1:距離d應(yīng)該設(shè)置為CIE標(biāo)準(zhǔn)條件A或B;

  注2:對于脈沖測量,電流源應(yīng)該提供所要求的幅度、寬度和重復(fù)率的電流脈沖,探測器上升時(shí)間相

  對于脈沖寬度應(yīng)該足夠小,系統(tǒng)應(yīng)該是一個(gè)峰值測量儀器;

  注3:被測LED定位在一種裝置上(如:旋轉(zhuǎn)中心位于系統(tǒng)光軸上的角度盤上,度盤應(yīng)該有足夠的角

  度刻度精度),要求:

  --被測LED器件位置可精確再現(xiàn);

  --變化角度θ、器件D光學(xué)窗口的中心能保持固定;

  --能測量夾角θ;

  --能繞被測器件Z軸旋轉(zhuǎn);

  --能測量關(guān)于X軸的旋轉(zhuǎn)角。

  6.2.2.2 測量步驟

  a) 給被測器件加上規(guī)定的工作電流。調(diào)正被測器件D的機(jī)械軸與光探測器軸重合,即θ=0,測量光探測器的信號,把這個(gè)值設(shè)置為 I0=100%;

  b) 從0-±90°旋轉(zhuǎn)度盤,光電測量系統(tǒng)測量各個(gè)角度時(shí)的發(fā)光強(qiáng)度值,得到相對強(qiáng)度I /I0 與θ之間的關(guān)系,優(yōu)先采用極坐標(biāo)圖來表示,其它形式,如直角坐標(biāo)圖,在空白詳細(xì)規(guī)范中定義后可以使用。在該圖上分別讀取半最大強(qiáng)度點(diǎn)對應(yīng)的角度θ1 θ2 ,半強(qiáng)度角Δθ=|θ2 -θ1 |。偏差角就是Imax 和I0 方向之間的夾角。

  6.2.2.3 規(guī)定條件

  環(huán)境和管基溫度;

  規(guī)定正向電流IF 或者輻射功率Φe;

  機(jī)械參照平面。

  6.2.3 方法2003:光通量和發(fā)光效率

  6.2.3.1 目的

  測量被測LED器件在規(guī)定條件下的光通量和發(fā)光效率。

  6.2.3.2 測試框圖(見圖9)

  圖9 方法2003測試框圖

  

10.jpg

  圖9 方法2003測試框圖

  注1:被測LED器件發(fā)射的光輻射經(jīng)積分球壁的多次反射,導(dǎo)致產(chǎn)生一個(gè)均勻的與光通量成比例的面出光度,一個(gè)位于球壁的探測器測量這個(gè)面出光度,一個(gè)漫射屏擋住光線,不使探測器直接照射到被測器件的光輻射;

  注2:被測器件、漫射屏、開孔的面積和球面積比較應(yīng)該相對較小,球內(nèi)壁和漫射屏表面應(yīng)有均勻的高反射率漫反射鍍層(最小0.8)。球和探測器組合應(yīng)該校準(zhǔn),應(yīng)該考慮到峰值發(fā)射波長和光通量由于功率消耗產(chǎn)生的變化。

  注3:也可以用變角光度計(jì)測量。

  6.2.3.3 測量步驟

  被測量器件放在積分球入口處,不要使光線直接到達(dá)探測器。給被測器件施加規(guī)定的正向電流IF ,光度探測系統(tǒng)測量出光通量。將光通量數(shù)值除以正向電流IF 和正向電壓VF 的乘積值即為發(fā)光效率。



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