電壓比較器VIO的開環(huán)測(cè)試(圖)
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作者：國(guó)電公司自動(dòng)化研究院 王衛(wèi)民 謝力
時(shí)間：2007-02-06
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輸入失調(diào)電壓(vio)是電壓比較器(以下簡(jiǎn)稱比較器)一個(gè)重要的電性能參數(shù)，gb/t 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時(shí)，兩輸入端間所加的直流補(bǔ)償電壓”。傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備大都采用“被測(cè)器件(dut，device under test)－輔助運(yùn)放”的測(cè)試模式，測(cè)試原理圖見圖1。
在輔助運(yùn)放a的作用下，整個(gè)系統(tǒng)構(gòu)成穩(wěn)定的閉環(huán)網(wǎng)絡(luò)，從而使vd=0，則
vc = -vs1
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