一種用于CMOS圖像傳感器集成ADC的性能測試系統(tǒng)

隨著CMOS技術(shù)的迅猛發(fā)展，CMOS圖像傳感器以其高集成度、低功耗、低成本等優(yōu)點，已廣泛用于超微型數(shù)碼相機、PC機電腦眼、指紋識別、手機等圖像采集的領(lǐng)域。

CMOS圖像傳感器的工作流程可以簡單表述為：外界光信號由像素陣列采集并轉(zhuǎn)換為模擬信號，再通過讀出電路傳輸給A/D轉(zhuǎn)換器，最后交于后續(xù)數(shù)字電路進行處理。由此可見，A/D轉(zhuǎn)換器在整個CMOS圖像傳感器中起著“承上啟下”的作用，其性能指標直接影響著整個系統(tǒng)的優(yōu)劣，從而使得ADC的性能測試變得十分重要。

目前業(yè)界已經(jīng)存在一些通用的ADC測試方法，例如針對靜態(tài)指標測試的直方圖法，針對動態(tài)指標測試的快速傅式變換法，以及專門針對ENOB的正弦波適應(yīng)法等，但是還沒有單一的測試方法能夠有效測試出所有的ADC參數(shù)。

ADC測試需要解決成本和效率的問題，故需要根據(jù)ADC典型應(yīng)用的環(huán)境，選取一些關(guān)鍵指標和有效的測試方法，制定合理的測試方案。本文中ADC主要用于CMOS圖像傳感器的數(shù)字輸出，結(jié)合Labview軟件分析程序和測試儀器，搭建了一套ADC綜合性能測試系統(tǒng)。

1 ADC性能測試系統(tǒng)

1.1 ADC性能參數(shù)

表征ADC性能的參數(shù)通?？煞譃殪o態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)。其中，靜態(tài)參數(shù)描述的是ADC自身的內(nèi)在特性，與所設(shè)計的ADC內(nèi)部電路的誤差和噪聲有關(guān)，這些誤差包括ADC的增益誤差、失調(diào)誤差、積分非線性(INL)和微分非線性(DNL)等，主要關(guān)注的是具體的模擬輸入電平與相應(yīng)數(shù)字輸出代碼之間的關(guān)系，表征靜止的模擬輸入信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字輸出信號的精確度;而動態(tài)參數(shù)描述的是ADC采樣和重現(xiàn)時序變化信號的能力，關(guān)注ADC在交流條件情況下的性能表現(xiàn)，主要包括信噪比(SNR)、無雜散動態(tài)范圍(SFDR)、總諧波失真(THD)、信納比(SINAD)以及有效位數(shù)(EN OB)等，這些參數(shù)的測試都是通過對輸入合適的正弦模擬信號并獲取了芯片正確轉(zhuǎn)換得到的數(shù)字碼之后，進行快速傅氏變換(FFT)計算得來的。表1為ADC典型參數(shù)的公式定義。

1.2 測試原理和方法

目前常規(guī)的測試系統(tǒng)不能同時分析多種性能參數(shù)，例如：一般的動態(tài)測試系統(tǒng)只能測試ADC動態(tài)參數(shù)，如信噪比和信號噪聲失真比等參數(shù)，而傳遞特性的測試系統(tǒng)只能測試傳遞特性等，具有適應(yīng)性比較差、使用不方便等缺點。針對這些缺點，本文開發(fā)了一套由Labview軟件分析程序和測試儀器構(gòu)建的綜合性能測試系統(tǒng)。在該系統(tǒng)中，測試程序?qū)煞N測試分析方法綜合到一起，采用了碼密度直方圖測試法測試靜態(tài)特性參數(shù)、FFT測試法測試動態(tài)特性參數(shù)。在測試程序中，這些測試方法只是數(shù)學分析算法上的不同，硬件基本一致。因此可很方便的根據(jù)外加測試條件的不同而一鍵選擇不同的測試方法。

1.2.1 碼密度直方圖測試法

該方法通過統(tǒng)計學的原理，對輸入正弦波情況下的輸出數(shù)字碼進行振幅域的分布統(tǒng)計。圖1就是通過這種方法生成的浴盆曲線。