新聞中心

EEPW首頁 > 嵌入式系統(tǒng) > 設(shè)計應(yīng)用 > 基于LpLVDS和CTL技術(shù)的便攜系統(tǒng)/O設(shè)計

基于LpLVDS和CTL技術(shù)的便攜系統(tǒng)/O設(shè)計

作者: 時間:2012-08-13 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

具有低電磁干擾、高吞吐量、低功耗、抗噪聲干擾等特性的接口技術(shù),將成為超便攜和消費產(chǎn)品市場的重要組成部分。本文將討論基于下一代I/O技術(shù)的一些應(yīng)用,這種新的I/O技術(shù)能把重新設(shè)計的風險降至最低,從而加快視頻基帶設(shè)計,并降低電磁干擾(EMI)和總體成本。

亞太地區(qū)(尤其是中國)的手機和便攜設(shè)備市場是世界最大的市場。這些市場的競爭焦點不僅在于這類產(chǎn)品的成本和性能,而且在于它們投入市場的時間。在中國,本地手機供應(yīng)商占了總體市場過半。隨著中國手機制造商研發(fā)能力快速增長,他們能夠迅速在設(shè)計中采用無線射頻(RF)和基帶設(shè)計等新技術(shù),工程師和最終用戶對于能夠縮短設(shè)計周期、降低成本和改善系統(tǒng)性能的技術(shù)極感興趣。以下將要討論基于下一代I/O技術(shù)的一些應(yīng)用。

設(shè)計挑戰(zhàn)

1、高數(shù)據(jù)吞吐量需要新的信令方案

由于高端手機LCD顯示器的分辨率超過了(800×600),而翻蓋式電話中應(yīng)用處理器和LCD模塊之間的RGB數(shù)據(jù)吞吐量甚至超過750Mbps(XGA模式,60Hz刷新速度)?,F(xiàn)有的晶體管-晶體管邏輯(TTL)技術(shù)在基帶控制器和LCD模塊之間的高擺幅(0V至VCC)限制了邏輯轉(zhuǎn)換之間的信號數(shù)據(jù)吞吐量,特別是低電磁干擾要求對邊緣速率提出了限制。對于數(shù)據(jù)傳輸速率較高的TTL技術(shù),移動電話的翻蓋和機體之間的低帶寬柔性電纜也可能會增加誤碼率,以致需要返修和重新設(shè)計基帶,從而嚴重推遲產(chǎn)品上市時間。

此外,由于下一代拍照手機具有三百萬像素以上的分辨率,RGB數(shù)據(jù)吞吐量(在快拍時被讀回至基帶處理器)進一步把現(xiàn)有TTL技術(shù)推向極限。在所有這些因素下,業(yè)界需要一種新的信令方案來解決這類問題。


圖1:各種接口信號技術(shù)的簡要比較以及在1Gbps速度下的眼圖

2、電磁干擾和敏感性

低電磁干擾幾乎成為所有手機設(shè)計人員普遍面對的設(shè)計挑戰(zhàn)。由于具有較大的振幅,為了快速切換邏輯狀態(tài),傳統(tǒng)的TTL技術(shù)通常具有較高的邊緣速率,因而造成反射和電磁干擾問題。降低TTL信號的邊緣速率雖然可以減小反射和電磁干擾,但卻限制了數(shù)據(jù)吞吐量。這一問題在使用低帶寬柔性電纜發(fā)送信號的手機設(shè)計中更為明顯。為了達到更大的數(shù)據(jù)吞吐量,TTL邏輯的邊沿變化速率必須提高,但這也會造成更高的電流變化速率,并且會在一個較大的頻率段上引起更高的電磁干擾輻射。此外,在邏輯電平變換時發(fā)生的任何反射不僅會引起更多磁性輻射而且會增加誤碼率。對于手機設(shè)計而言,柔性電纜周圍的電磁干擾噪聲很大,因此需要更好的共模噪聲抑制能力,而這正是低電壓差分信令(LVDS)等差分信號技術(shù)的特點。

電焊機相關(guān)文章:電焊機原理

上一頁 1 2 下一頁

關(guān)鍵詞: LpLVDS CTL技術(shù) SVGA

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉