Mentor推出MicReD工業(yè)化的1500A功率循環(huán)測試設(shè)備 用于電力電子器件功率循環(huán)測試

　　Mentor Graphics 公司 (NASDAQ：MENT)于2014年5月12日宣布推出全新MicReD® Industrial Power Tester 1500A(工業(yè)化的1500A功率循環(huán)測試設(shè)備)，用于電力電子器件的功率循環(huán)測試和熱特性測試，以模擬和測量電力電子器件壽命期內(nèi)的表現(xiàn)。MicReD工業(yè)化的1500A功率循環(huán)測試設(shè)備既可以對包括混合動力汽車及電動汽車和列車在內(nèi)的汽車和交通行業(yè)應用中越來越多的電力電子器件進行可靠性測試，還可以對發(fā)電與變頻器、風力渦輪機等可再生能源應用中越來越多的電力電子器件進行可靠性測試。它是市面上唯一結(jié)合了功率循環(huán)測試功能和瞬態(tài)熱測試功能的熱測試產(chǎn)品，它通過結(jié)構(gòu)函數(shù)提供實時故障原因診斷的數(shù)據(jù)。

　　電力電子器件在電能產(chǎn)生、轉(zhuǎn)換或控制的應用中使用，這些應用需要在多年穩(wěn)定運行中保持很高的可靠性。這款新產(chǎn)品是專為工業(yè)電力電子器件制造商通過檢測器件模塊內(nèi)由于熱量引起的老化降級來測試電力電子器件的可靠性。

　　功率循環(huán)測試和瞬態(tài)熱測試都可以在MicReD工業(yè)化1500A功率循環(huán)測試設(shè)備上進行，并不需要將被測電力電子器件從測試環(huán)境中移出。技術(shù)人員和工程師能夠看到失效的發(fā)展過程，并確定確切的時間/循環(huán)次數(shù)以及原因。

　　可靠性是在使用大功率電力電子器件的諸多行業(yè)中最關(guān)注的問題，因此，對于器件供應商、系統(tǒng)供應商和OEM廠商來說，這些器件模塊通過壽命期內(nèi)功率循環(huán)次數(shù)的加速測試是必須的要求。

　　MicReD工業(yè)化1500A功率循環(huán)測試設(shè)備能夠驅(qū)動模塊進行數(shù)萬甚至是數(shù)百萬次功率循環(huán)，與此同時提供“實時的“失效發(fā)展過程的數(shù)據(jù)進行診斷。這顯著減少了測試和實驗室分析的時間，并且消除了事后分析或者破壞性失效分析的需求。1500A功率循環(huán)測試設(shè)備可以進行”實時“分析常見的由于熱量引起的機械性失效包括：芯片焊接層、焊線的分離、芯片及封裝內(nèi)部材料的分層與破裂及焊接層的老化。

　　“它能夠準確描述和量化所有半導體器件在熱量累積過程中的老化和降級，對于目前被封裝可靠性問題所困擾的開發(fā)人員而言，它對開發(fā)高性價比封裝解決方案有很大幫助。”諾丁漢大學工程學院高級能源轉(zhuǎn)換教授Mark Johnson表示，”明導的1500A功率循環(huán)測試設(shè)備會成為研究各類功率模塊中散熱路徑的退化降級的非常寶貴的工具。”

　　MicReD 1500A功率循環(huán)測試設(shè)備是基于Mentor Graphics® T3Ster®高級瞬態(tài)熱測試設(shè)備開發(fā)而成的，后者在世界范圍內(nèi)被業(yè)內(nèi)用于半導體器件封裝和LED的精確熱特性測量。1500A功率循環(huán)測試設(shè)備是MicReD工業(yè)化產(chǎn)品線的首款產(chǎn)品，提供對電力電子器件的全自動功率循環(huán)和測試(包括熱特性和電氣特性測量)，為器件失效原因的評估提供全面的數(shù)據(jù)。這能幫助企業(yè)進行產(chǎn)品改進，實現(xiàn)高的可靠性和更高的性能。

　　MicReD工業(yè)化產(chǎn)品將具有實驗室級精度的T3Ster產(chǎn)品嵌入性能強大的機器，使操作者可以在制造工廠內(nèi)使用。

　　“我們MicReD1500A功率循環(huán)測試設(shè)備可以很好地服務(wù)于那些工作在極端工況下并具有很高可靠性的電力電子器件,”Mentor Graphics Mechanical Analysis Division總經(jīng)理Roland Feldhinkel表示，“我們利用我們在熱性測量和測試領(lǐng)域的專業(yè)經(jīng)驗，為我們認為有很大潛力的行業(yè)——從電動汽車和鐵路系統(tǒng)、到可再生能源產(chǎn)品——開發(fā)出了這款產(chǎn)品。”

　　MicReD 1500A功率循環(huán)測試設(shè)備能夠?qū)饘傺趸锇雽w場效應晶體管(MOSFET)、絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)和功率二極管進行功率循環(huán)測試。MicReD 1500A功率循環(huán)測試設(shè)備提供了用戶友好型觸摸屏界面，能在測試中記錄各種信息，如電流、電壓、芯片溫度測量等，并能提供詳細的結(jié)構(gòu)函數(shù)功能分析，以記錄封裝熱學結(jié)構(gòu)的變化。這使其成為封裝開發(fā)和生產(chǎn)前部件品質(zhì)檢查的理想平臺。

　　MicReD 1500A功率循環(huán)測試設(shè)備的主要優(yōu)勢

　　這款新的測試設(shè)備具有以下主要優(yōu)點：

　　連續(xù)的施加功率循環(huán)直至失效。這能節(jié)省時間，因為器件無需移走，到進行實驗室分析，然后返回測試設(shè)備來進行更多的功率循環(huán)。

　　實現(xiàn)多個被測電力電子器件同時測試。

　　操作中可采用不同的功率循環(huán)策略(穩(wěn)定的功率開/關(guān)時間、穩(wěn)定的殼器件溫度變化、穩(wěn)定的結(jié)溫度上升)。

　　提供“實時”結(jié)構(gòu)函數(shù)診斷功能，以顯示失效發(fā)展過程、循環(huán)次數(shù)及失效原因。

　　避免在實驗室內(nèi)進行事后分析(X光、超聲波、視覺)或破壞性失效分析。

　　可通過觸摸屏進行設(shè)置和控制，專業(yè)人員和生產(chǎn)人員都能使用。