新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 基于嵌入式的裂紋實(shí)時(shí)測量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

基于嵌入式的裂紋實(shí)時(shí)測量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

作者: 時(shí)間:2012-01-30 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

引 言

在建筑業(yè)中,評價(jià)墻體裂紋,地面裂紋是評價(jià)房屋質(zhì)量的一項(xiàng)重要指標(biāo)。一個(gè)嵌入式系統(tǒng)裝置一般都由嵌入式計(jì)算機(jī)系統(tǒng)和執(zhí)行裝置組成,嵌入式計(jì)算機(jī)系統(tǒng)是整個(gè)嵌入式系統(tǒng)的核心,由硬件層、中間層、系統(tǒng)軟件層和應(yīng)用軟件層組成。執(zhí)行裝置也稱為被控對象,它可以接受嵌入式計(jì)算機(jī)系統(tǒng)發(fā)出的控制命令,執(zhí)行所規(guī)定的操作或任務(wù)。執(zhí)行裝置可以很簡單,如手機(jī)上的一個(gè)微小型的電機(jī),當(dāng)手機(jī)處于震動(dòng)接收狀態(tài)時(shí)打開;也可以很復(fù)雜,如SONY 智能機(jī)器狗,上面集成了多個(gè)微小型控制電和多種傳感器,從而可以執(zhí)行各種復(fù)雜的動(dòng)作和感受各種狀態(tài)信息。嵌入式系統(tǒng)硬件層的核心是嵌入式微處理器,嵌入式微處理器與通用CPU最大的不同在于嵌入式微處理器大多工作在為特定用戶群所專用設(shè)計(jì)的系統(tǒng)中,它將通用CPU許多由板卡完成的任務(wù)集成在芯片內(nèi)部,從而有利于嵌入式系統(tǒng)在設(shè)計(jì)時(shí)趨于小型化,同時(shí)還具有很高的效率和可靠性。

本研究將問題劃分為以下兩個(gè)部分:

(1)裂紋寬度測量算法;

(2)將以上所開發(fā)軟件移植到ARM開發(fā)板,并優(yōu)化算法提高軟件運(yùn)行速度。

1 裂紋寬度測量算法

計(jì)算裂縫寬度關(guān)鍵是要利用圖像分割技術(shù)得到裂縫的真正邊緣。雖然已有文獻(xiàn)介紹了多種分割方法,但是未見有針對裂縫測試儀采集到的裂縫圖像進(jìn)行處理的方法。

1.1 圖像獲取

圖像獲取過程如圖1所示:被檢測的裂縫通過光學(xué)系統(tǒng)在CMOS圖像傳感器上成像,然后通過USB接口將裂縫圖像輸出到ARM上進(jìn)行處理。ARM(Advanced RISC Machines)是微處理器行業(yè)的一家知名企業(yè),設(shè)計(jì)了大量高性能、廉價(jià)、耗能低的RISC處理器、相關(guān)技術(shù)及軟件。技術(shù)具有性能高、成本低和能耗省的特點(diǎn)。適用于多種領(lǐng)域,比如嵌入控制、消費(fèi)/教育類多媒體、DSP和移動(dòng)式應(yīng)用等。


圖像獲取

裂縫圖像如圖2所示。裂縫寬度分布范圍較廣,自幾十至幾百像素不等,但遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于圖像的寬度值。裂縫周圍有部分噪聲,有的圖像含有大量污染區(qū)域,這成為裂縫位置鎖定的難點(diǎn)。


裂縫圖像

結(jié)果

1.2

通過與已有圖像分割方法如:直方圖法、OTSU法、區(qū)域分割法等進(jìn)行比較發(fā)現(xiàn),OTSU在最后的效果上占有明顯的優(yōu)勢。

圖像分割的結(jié)果如圖3所示。觀察結(jié)果,很容易發(fā)現(xiàn)圖像的邊緣很大區(qū)域被錯(cuò)分為與裂縫一樣。于是直接計(jì)算裂縫寬度時(shí)會導(dǎo)致將錯(cuò)分的區(qū)域計(jì)算成裂縫。因此除了計(jì)算裂縫寬度外,對候選裂縫集合進(jìn)行有效剔除是另一個(gè)重要任務(wù)。


算子

分割完圖像后,計(jì)算所有可能成為裂縫的區(qū)域的寬度。采用從圖像給定行的起始位置開始計(jì)算裂縫寬度,當(dāng)發(fā)現(xiàn)像素灰度由0變?yōu)?55,記為一個(gè)裂縫的左邊緣起始位置;當(dāng)查找到像素灰度由255變?yōu)?,記為一個(gè)裂縫的右邊緣結(jié)束位置。通過這種方法可以獲取給定行的所有可能的裂縫寬度。但是在具體試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn),計(jì)算對單行的裂縫進(jìn)行寬度測量還是存在比較大的誤差。于是采用求取給定行上下5行共10行的平均值的方法。


上一頁 1 2 3 下一頁

評論


技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉