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新型光學觸摸屏的實現(xiàn)

作者:張兵 馮金垣 戚其豐 時間:2014-09-25 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
編者按:  摘要:本文解決了目前市售觸摸屏存在的有觸摸死角、假兩點等問題。設計了一套實驗裝置用來求取攝像頭模塊中的攝像頭的內(nèi)參數(shù)和畸變參數(shù),方法為在觸摸區(qū)域拍攝多幅圖,通過每幅圖上多個點的像素數(shù)和這些像素點對應的觸摸點在觸摸區(qū)域的世界坐標的關系求得一個內(nèi)參數(shù)矩陣,之后對獲取的多個內(nèi)參數(shù)矩陣進行優(yōu)化以求取內(nèi)參數(shù)的最優(yōu)解,之后再求取畸變參數(shù)的最優(yōu)解。求解過程中多次用Levenberg-Marquardt優(yōu)化算法對實驗數(shù)據(jù)進行優(yōu)化處理,由于該算法是較為有效的修正的最小二乘法,所求參數(shù)的精確度較高。   引言   光

  求出的Ai(i=1,2,…,5)存在誤差,需要進一步優(yōu)化。設第i幅圖 17個點的像素數(shù)誤差之和為εi。對于每一幅圖,把第一幅圖對應的內(nèi)參數(shù)矩陣A1和該幅圖中點的相應坐標帶入式(2-4)求取εi,其表達式如下:

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/263366.htm

  在對五幅圖的Rti 的參數(shù)ri、ti1、ti2 進行最優(yōu)化之后,設 5幅圖的所有點的像素數(shù)誤差加之和為ε,其表達式如下:

  2.3.2 畸變參數(shù)的求取

  求取畸變參數(shù)最優(yōu)解也用Levenberg-Marquardt優(yōu)化方法,本文畸變參數(shù)的求取僅僅考慮了徑向畸變,選取的徑向畸變的數(shù)學模型為:

  φ =k1 r+k2 r3+k3 r (2-7)

  其中r=|ud| 為像點到圖像中心的距離,k1 、k2 、k3為徑向畸變系數(shù),仍然用這五幅圖的數(shù)據(jù)求取最優(yōu)的 k1 、k2 、k3。設第i(i=1,2,…,5)幅圖


  3 結(jié)論

  實現(xiàn)的新型能夠克服目前市售觸摸屏存在的設計缺陷,解決了存在觸摸死區(qū)和假兩點等問題。提出了求取內(nèi)參數(shù)的方法,該方法簡單易行,操作性強。求取內(nèi)參數(shù)的過程中多次Levenberg-Marquardt優(yōu)化,Levenberg-Marquardt優(yōu)化算法的優(yōu)越性決定了所求參數(shù)的高精確度。

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