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CMOS電路中ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)原理與要求

作者: 時(shí)間:2015-01-21 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  (靜電放電)是電路中最為嚴(yán)重的失效機(jī)理之一,嚴(yán)重的會(huì)造成電路自我燒毀。論述了集成電路保護(hù)的必要性,研究了在電路中保護(hù)結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)原理,分析了該結(jié)構(gòu)對(duì)版圖的相關(guān)要求,重點(diǎn)討論了在I/O電路中ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)要求。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/268454.htm

  1 引言

  靜電放電會(huì)給電子器件帶來(lái)破壞性的后果,它是造成集成電路失效的主要原因之一。隨著集成電路工藝不斷發(fā)展,CMOS電路的特征尺寸不斷縮小,管子的柵氧 厚度越來(lái)越薄,芯片的面積規(guī)模越來(lái)越大,MOS管能承受的電流和電壓也越來(lái)越小,而外圍的使用環(huán)境并未改變,因此要進(jìn)一步優(yōu)化電路的抗ESD性能,如何使 全芯片有效面積盡可能小、ESD性能可靠性滿(mǎn)足要求且不需要增加額外的工藝步驟成為IC設(shè)計(jì)者主要考慮的問(wèn)題。

  2 ESD保護(hù)原理

  ESD保護(hù)電路的設(shè)計(jì)目的就是要避免工作電路成為ESD的放電通路而遭到損害,保證在任意兩芯片引腳之間發(fā)生的ESD,都有適合的低阻旁路將ESD電流 引入電源線(xiàn)。這個(gè)低阻旁路不但要能吸收ESD電流,還要能箝位工作電路的電壓,防止工作電路由于電壓過(guò)載而受損。在電路正常工作時(shí),抗靜電結(jié)構(gòu)是不工作 的,這使ESD保護(hù)電路還需要有很好的工作穩(wěn)定性,能在ESD發(fā)生時(shí)快速響應(yīng),在保護(hù)電路的同時(shí),抗靜電結(jié)構(gòu)自身不能被損壞,抗靜電結(jié)構(gòu)的負(fù)作用(例如輸 入延遲)必須在可以接受的范圍內(nèi),并防止抗靜電結(jié)構(gòu)發(fā)生閂鎖。

  3 CMOS電路ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)

  大部分的ESD電流來(lái)自電路外部,因此ESD保護(hù)電路一般設(shè)計(jì)在PAD旁,I/O電路內(nèi)部。典型的I/O電路由輸出驅(qū)動(dòng)和輸入接收器兩部分組成。ESD 通過(guò)PAD導(dǎo)入芯片內(nèi)部,因此I/O里所有與PAD直接相連的器件都需要建立與之平行的ESD低阻旁路,將ESD電流引入電壓線(xiàn),再由電壓線(xiàn)分布到芯片各 個(gè)管腳,降低ESD的影響。具體到I/O電路,就是與PAD相連的輸出驅(qū)動(dòng)和輸入接收器,必須保證在ESD發(fā)生時(shí),形成與保護(hù)電路并行的低阻通路,旁路 ESD電流,且能立即有效地箝位保護(hù)電路電壓。而在這兩部分正常工作時(shí),不影響電路的正常工作。

  常用的ESD保護(hù)器件有電阻、二極管、雙極性晶體管、MOS管、可控硅等。由于MOS管與CMOS工藝兼容性好,因此常采用MOS管構(gòu)造保護(hù)電路。

  CMOS工藝條件下的NMOS管有一個(gè)橫向寄生n-p-n(源極-p型襯底-漏極)晶體管,這個(gè)寄生的晶體管開(kāi)啟時(shí)能吸收大量的電流。利用這一現(xiàn)象可在 較小面積內(nèi)設(shè)計(jì)出較高ESD耐壓值的保護(hù)電路,其中最典型的器件結(jié)構(gòu)就是柵極接地NMOS(GGNMOS,GateGroundedNMOS)。

  在正常工作情況下,NMOS橫向晶體管不會(huì)導(dǎo)通。當(dāng)ESD發(fā)生時(shí),漏極和襯底的耗盡區(qū)將發(fā)生雪崩,并伴隨著電子空穴對(duì)的產(chǎn)生。一部分產(chǎn)生的空穴被源極吸 收,其余的流過(guò)襯底。由于襯底電阻Rsub的存在,使襯底電壓提高。當(dāng)襯底和源之間的PN結(jié)正偏時(shí),電子就從源發(fā)射進(jìn)入襯底。這些電子在源漏之間電場(chǎng)的作 用下,被加速,產(chǎn)生電子、空穴的碰撞電離,從而形成更多的電子空穴對(duì),使流過(guò)n-p-n晶體管的電流不斷增加,最終使NMOS晶體管發(fā)生二次擊穿,此時(shí)的 擊穿不再可逆,則NMOS管損壞。

  為了進(jìn)一步降低輸出驅(qū)動(dòng)上NMOS在ESD時(shí)兩端的電壓,可在ESD保護(hù)器件與GGNMOS之間加一個(gè)電阻。這個(gè)電阻不能影響工作信號(hào),因此不能太大。畫(huà)版圖時(shí)通常采用多晶硅(poly)電阻。

  只采用一級(jí)ESD保護(hù),在大ESD電流時(shí),電路內(nèi)部的管子還是有可能被擊穿。GGNMOS導(dǎo)通,由于ESD電流很大,襯底和金屬連線(xiàn)上的電阻都不能忽 略,此時(shí)GGNMOS并不能箝位住輸入接收端柵電壓,因?yàn)樽屳斎虢邮斩藮叛趸鑼拥碾妷哼_(dá)到擊穿電壓的是GGNMOS與輸入接收端襯底間的IR壓降。為避 免這種情況,可在輸入接收端附近加一個(gè)小尺寸GGNMOS進(jìn)行二級(jí)ESD保護(hù),用它來(lái)箝位輸入接收端柵電壓,如圖1所示。

  

CMOS電路中ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)原理與要求

 

  圖1 常見(jiàn)ESD的保護(hù)結(jié)構(gòu)和等效電路。

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