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CCD原理

作者:何富和 時(shí)間:2015-06-26 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  導(dǎo)讀:大家在使用數(shù)碼相機(jī)將身邊的美好事物拍下的時(shí)候,有沒有想過為什么相機(jī)能夠?qū)D像攝下?今天小編帶你了解的工作原理,它可是相機(jī)中不可缺的一部分哦。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/276342.htm

原理——特性

  傳感器將光學(xué)信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬電流信號(hào),通過放大和模數(shù)轉(zhuǎn)換,實(shí)現(xiàn)圖像的獲取、存儲(chǔ)、傳輸、處理和復(fù)現(xiàn)。其顯著特點(diǎn)是:

 ?、?體積小重量輕;

 ?、?功耗小,工作電壓低,抗沖擊與震動(dòng),性能穩(wěn)定,壽命長;

 ?、箪`敏度高,噪聲低,動(dòng)態(tài)范圍大;

 ?、?響應(yīng)速度快,有自掃描功能,圖像畸變小,無殘像;

 ?、?應(yīng)用超大規(guī)模集成電路工藝技術(shù)生產(chǎn),像素集成度高,尺寸精確,商品化生產(chǎn)成本低。

  因此,許多采用光學(xué)方法測量外徑的儀器,把CCD器件作為光電接收器。

——分類

  CCD在功能上可分為線陣CCD和面陣CCD兩類。

  線陣CCD通常將CCD內(nèi)部電極分成數(shù)組,每組稱為一相,并施加同樣的時(shí)鐘脈沖。所需相數(shù)由CCD芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)決定,結(jié)構(gòu)相異的CCD可滿足不同場合的使用要求。線陣CCD有單溝道和雙溝道之分,其光敏區(qū)是MOS電容或光敏二極管結(jié)構(gòu),生產(chǎn)工藝相對較簡單。它由光敏區(qū)陣列與移位寄存器掃描電路組成,特點(diǎn)是:處理信息速度快,外圍電路簡單,易實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)控制,但獲取信息量小,不能處理復(fù)雜的圖像。

  用于掃描儀中的線性CCD

  面陣CCD的結(jié)構(gòu)要復(fù)雜得多,它由很多光敏區(qū)排列成一個(gè)方陣,并以一定的形式連接成一個(gè)器件,獲取信息量大,能處理復(fù)雜的圖像。

——光電轉(zhuǎn)換與儲(chǔ)存

  CCD的工作過程分為四個(gè)部分,分別是光電轉(zhuǎn)換、電荷儲(chǔ)存、電荷轉(zhuǎn)移、電荷檢測。

  光電轉(zhuǎn)換就是將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),CCD內(nèi)部是由許多的光敏像素組成的,每像素就是一個(gè)光敏二極管,檢測像素上產(chǎn)生的電荷,產(chǎn)生的信號(hào)電荷的數(shù)量直接與入射光的強(qiáng)度及曝光時(shí)間成正比。

——電荷的轉(zhuǎn)移

  CCD的移位寄存器是一列排列緊密的MOS電容器,它的表面由不透光的鋁層覆蓋,以實(shí)現(xiàn)光屏蔽。 MOS電容器上的電壓愈高,產(chǎn)生的勢阱愈深,當(dāng)外加電壓一定,勢阱深度隨阱中的電荷量增加而線性減小.利用這一特性,通過控制相鄰MOS電容器柵極電壓高低來調(diào)節(jié)勢阱深淺.制造時(shí)將MOS電容緊密排列,使相鄰的MOS電容勢阱相互“溝通”.認(rèn)為相鄰MOS電容兩電極之間的間隙足夠小(目前工藝可做到0.2μm),在信號(hào)電荷自感生電場的庫侖力推動(dòng)下,就可使信號(hào)電荷由淺處流向深處,實(shí)現(xiàn)信號(hào)電荷轉(zhuǎn)移。

CCD原理——電荷的測量

  CCD的電荷測量是將轉(zhuǎn)移的信號(hào)電荷轉(zhuǎn)換成電信號(hào)的過程,有兩種方法。

 ?、瘢焊≈脭U(kuò)散放大器

  Ⅱ:浮置柵極放大器

  在CCD的圖像傳感器中使用較多的是浮置擴(kuò)散放大器。

  浮置擴(kuò)散輸出端是信號(hào)電荷注入末級浮置擴(kuò)散的PN結(jié)之后, 所引起的電位改變作用于MOSFET的柵極。這一作用結(jié)果必然調(diào)制其源-漏極間電流, 這個(gè)被調(diào)制的電流即可作為輸出。 當(dāng)信號(hào)電荷在浮置柵極下方通過時(shí), 浮置柵極輸出端電位必然改變, 檢測出此改變值即為輸出信號(hào)。

  總結(jié):CCD的原理是通過鏡頭濾光,以保證光線的直線射入,CCD內(nèi)部的感光元件將光能轉(zhuǎn)換為電信號(hào),通過工藝排列將感光出的電荷轉(zhuǎn)移,再浮置擴(kuò)散放大器或浮置柵極放大器進(jìn)行檢測。

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