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用于下一代結(jié)構(gòu)化專用集成電路的測(cè)試系統(tǒng)

作者: 時(shí)間:2004-11-12 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  科利登系統(tǒng)公司日前宣布,AMI 半導(dǎo)體(AMIS) 購(gòu)買了多臺(tái)Sapphire NP™ 。AMIS在半導(dǎo)體解決方案設(shè)計(jì)和制造方面,包括專用集成電路(ASIC)和專用標(biāo)準(zhǔn)器件(ASSP),處于業(yè)界領(lǐng)先地位,公司將采用該系統(tǒng)對(duì)其現(xiàn)有的和下一代的結(jié)構(gòu)化專用集成電路XPressArray™ (XPA) 進(jìn)行工程驗(yàn)證和生產(chǎn)測(cè)試。XPA的開發(fā)是由FPGA轉(zhuǎn)化而來的,其基于標(biāo)準(zhǔn)單元的設(shè)計(jì)使該器件較之FPGA有很多優(yōu)勢(shì),包括較低的功耗、成本、較短的工程開發(fā)周期。 AMIS 選擇Sapphire NP是因?yàn)槠潇`活性能同時(shí)滿足高性能和低生產(chǎn)成本的要求。此外,根據(jù)器件管腳和工作頻率的增加Sapphire NP可以很容易地?cái)U(kuò)展系統(tǒng)性能。

  AMIS需要高靈活性的測(cè)試解決方案,并且需要該方案性能廣泛,能夠滿足公司多種產(chǎn)品系列的測(cè)試需要,適應(yīng)轉(zhuǎn)向結(jié)構(gòu)化測(cè)試的趨勢(shì)。 Sapphire NP具有從DC 到GHz的測(cè)試能力,能夠進(jìn)行混合信號(hào)和系統(tǒng)級(jí)芯片 (SoC) 的測(cè)試。該系統(tǒng)允許AMIS 在工程驗(yàn)證和生產(chǎn)測(cè)試中使用單一測(cè)試平臺(tái),縮短產(chǎn)品進(jìn)入量產(chǎn)的時(shí)間。AMIS全球測(cè)試部門的副總裁Johan Heyman說:“Sapphire NP系統(tǒng)已經(jīng)成功的集成到我們的測(cè)試環(huán)境。并且我們可以很容易地對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行配置,包括200, 400 或800 Mbps的數(shù)據(jù)傳輸率,根據(jù)需要選擇任意數(shù)量的測(cè)試管腳,增加模擬測(cè)試能力?!?BR>

 



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