Cadence聯(lián)合IBM、三星和特許半導(dǎo)體聯(lián)合推出65納米參考流程
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Cadence與Common Platform技術(shù)合作伙伴緊密合作,開發(fā)65納米流程。它基于Cadence數(shù)字IC設(shè)計平臺,包含Encounter Timing System和CPF,可加快低功耗系統(tǒng)級芯片(SoC)設(shè)計的上市時間。
這種RTL-to-GDSII 參考流程建立于Cadence Encounter數(shù)字IC設(shè)計平臺,能夠?qū)崿F(xiàn)更高的生產(chǎn)力,并提高芯片質(zhì)量(QoS)。該流程強調(diào)臨界低功耗設(shè)計挑戰(zhàn),從芯片打樣到功率、時序和面積優(yōu)化,面向無線、有線和消費應(yīng)用設(shè)備。
該流程為Encounter平臺以及Cadence Logic Design Team Solution加入了多種創(chuàng)新技術(shù),包括配備全局合成技術(shù)的Cadence Encounter RTL Complier、Cadence SoC Encounter RT
L-to-GDSII系統(tǒng)、Cadence Encounter Test和Cadence Encounter Conformal® Low-Power。其它Cadence組件包括VoltageStorm®功率分析,以及Encounter時序系統(tǒng),使用有效的電流源模型(ECSM)讓設(shè)計師縮短低功耗消費應(yīng)用設(shè)備的量產(chǎn)時間。ARM® Metro™ 低功耗產(chǎn)品作為Artisan®實體IP系列的一部分,也被應(yīng)用到流程開發(fā)中。
供貨情況
本套面向成品率的65納米低功耗設(shè)計參考流程即日推出,可通過發(fā)送郵件至common_platform_65LP@cadence.com索取。 本參考流程工具包包含了一份參考設(shè)計、文件和腳本用于運行該參考流程
在線研討會
2007年6月13日星期三太平洋標準時間下午4點,Cadence、Chartered、IBM和三星將會舉辦一場免費的在線研討會,主題是在本參考流程中使用的高級低功耗設(shè)計技術(shù)。有關(guān)此次會議登記的詳情,請訪問:http://www.cadence.com/webinars/cdn_65nm_lowpower/index.aspx.
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