新聞中心

EEPW首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 新品快遞 > Keithley多通道源測(cè)量測(cè)試卡適用于4500-MTS多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)

Keithley多通道源測(cè)量測(cè)試卡適用于4500-MTS多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)

作者:eaw 時(shí)間:2005-05-07 來(lái)源:eaw 收藏

(吉時(shí)利)儀器公司推出適用于4500-MTS多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的兩款全新的多通道源-測(cè)量測(cè)試卡4510或4511 Quad I-V。新產(chǎn)品每通道都可以提供一個(gè)高功率電流源子通道、一個(gè)低功率電壓源子通道、以及一個(gè)用于讀取DUT對(duì)源激勵(lì)反應(yīng)的5-1/2位ADC。其中4510型卡具有


關(guān)鍵詞: Keithley

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉