電子基礎(chǔ)知識：開關(guān)電源設(shè)計知識介紹二

　　在一定的應(yīng)力水平下，元器件的失效率會大大下降。為剔除不符合使用要求的元器件，包括電參數(shù)不合格、密封性能不合格、外觀不合格、穩(wěn)定性差、早期失效等，應(yīng)進(jìn)行篩選試驗，這是一種非破壞性試驗。通過篩選可使元器件失效率降低1～2個數(shù)量級，當(dāng)然篩選試驗代價(時間與費用)很大，但綜合維修、后勤保障、整架聯(lián)試等還是合算的，研制周期也不會延長。電源設(shè)備主要元器件的篩選試驗一般要求：

    ①電阻在室溫下按技術(shù)條件進(jìn)行100％測試，剔除不合格品。

    ②普通電容器在室溫下按技術(shù)條件進(jìn)行100％測試，剔除不合格品。

    ③接插件按技術(shù)條件抽樣檢測各種參數(shù)。

    ④半導(dǎo)體器件按以下程序進(jìn)行篩選：

    目檢→初測→高溫貯存→高低溫沖擊→電功率老化→高溫測試→低溫測試→常溫測試篩選結(jié)束后應(yīng)計算剔除率Q

    Q=(n/N)