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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 失效

LED燈具失效分析及電路保護措施

  • 　　LED燈具損壞的原因　　LED燈具失效一是來源于電源和驅(qū)動的失效，二是來源于LED器件本身的失效。通常LED電源和驅(qū)動的損壞來自于輸入電源的過電沖擊(EOS)以及負載端的斷路故障。輸入電源的過電沖擊往往會造成驅(qū)動電
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IC智能卡失效的機理研究

  • IC智能卡作為信息時代的新型高技術(shù)存儲產(chǎn)品，具有容量大、保密性強以及攜帶方便等優(yōu)點，被廣泛應用于社會生活的各個領(lǐng)域。通常所說的IC卡，是把含有非揮發(fā)存儲單元NVM或集成有微控制器MCU等的IC芯片嵌裝于塑料基片而
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TD-SCDMA網(wǎng)絡GPS同步失效的影響

  • 在3G三大標準中均是基站同步系統(tǒng)，TD-SCDMA系統(tǒng)是全網(wǎng)同步系統(tǒng)，要求所有基站之間嚴格保持時間同步對于TD-SCDMA通信系統(tǒng)的重要性不言而喻。由于缺乏先進的網(wǎng)絡同步技術(shù)，TD-SCDMA基站普遍采用全球定位系統(tǒng)(GPS)同步[
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微加速度計在溫度、濕度、振動三綜合環(huán)境下的失效機理分析

  • 1 引言 長期以來，人們對產(chǎn)品進行環(huán)境模擬試臉時，大多采用單項環(huán)境的試驗方法，即在某一時間內(nèi)只對一種產(chǎn)品施加一項環(huán)境條件，如單項濕度試驗、單項沖擊試驗等，很少在某一時間內(nèi)同時對一種產(chǎn)品施加兩項以上
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一款USBkey用MCU電路早期失效問題初探

  • 　　1 問題的提出 　　我公司生產(chǎn)的USBkey產(chǎn)品所使用的MCU電路，自2007年9月初USBkey產(chǎn)品開始量產(chǎn)化后，我們對其部分產(chǎn)品做了電老化試驗，發(fā)現(xiàn)該款電路早期失效問題達不到我們要求，上電以后一段時間內(nèi)失效率為千分之一點五左右。為此，我們從去年10月到今年2月對所生產(chǎn)的產(chǎn)品(已發(fā)出的除外)全部進行了電老化篩選，通過這項工作發(fā)現(xiàn)了一些規(guī)律性的東西，對提高電子產(chǎn)品的安全可靠性有一定指導意義。 　　2 試驗條件的設定 　　造成電路早期失效的原因很多，從IC設計到半導體生產(chǎn)工藝、電路封裝、焊接裝配等
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