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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 模／數(shù)轉(zhuǎn)換器

基于DPWM的高速高精度積分型模／數(shù)轉(zhuǎn)換器

  • 摘要：提出一種由單電源供電，基于數(shù)字脈寬調(diào)制(DPWM)原理實(shí)現(xiàn)、高速、高精度、積分型模／數(shù)轉(zhuǎn)換器的方法。通過對按預(yù)置規(guī)律變化的脈寬調(diào)制信號實(shí)施低
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TD-LTE規(guī)模技術(shù)試驗(yàn)主要內(nèi)容和規(guī)范體系

  • 2011年，我國在六個城市開始實(shí)施TD-LTE規(guī)模技術(shù)試驗(yàn)，試驗(yàn)將分為兩個階段，進(jìn)行終端、核心網(wǎng)、傳輸和承載、無線網(wǎng)絡(luò)性能和網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量、多天線技術(shù)、網(wǎng)管等多項測試。通過這些測試，將對TD-LTE系統(tǒng)的同頻組網(wǎng)能力進(jìn)行驗(yàn)
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ADl871型模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的應(yīng)用

  • 1 引言科學(xué)技術(shù)的發(fā)展對數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的采樣速率、分辨率、精度、接口及抗干擾能力等提出越來越高的要求。AD1871是目前市場上動態(tài)范圍、采樣速率和采樣精度等指標(biāo)都很突出數(shù)據(jù)的一款24位ADC，它的推出為設(shè)計高速、高精
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深入解析：模擬前端模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的三種類型

  • 模擬前端中三種最常見的模/數(shù)轉(zhuǎn)換器類型為逐次近似型(a)、管線型(b)和△-Sigma;型(c)。 以下這些框圖極其簡單地描述了這些不同的架構(gòu)概念。 a.在逐次近似模/數(shù)轉(zhuǎn)換器中，模擬輸入電壓通過采樣保持技術(shù)
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具有270V共模抑制性能的雙向隔離式高端電流檢測模

  • 電路功能與優(yōu)勢圖1所示電路能夠在直流電壓高達(dá)plusmn;270V的來源上監(jiān)控雙向電流，且線性誤差小于1%。負(fù)載電流通過一個電路外部的分流電阻。分流電阻值應(yīng)適當(dāng)選擇，使得在最大負(fù)載電流時分流電壓約為100mV。AD629放大
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正負(fù)100V共模高電壓輸入差動放大器

  • 電路的功能眾所周知，OP放大器的共模抑制比（CMRR）非常大。但是，如果共模電壓高于電源電壓，OP放大器就不能正常工作，通常當(dāng)電源電壓（VOO）為正負(fù)15V時，共模電壓應(yīng)在正負(fù)10V以內(nèi)。本電路中OP放大器反相工作，所以
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差分放大電路及其共模抑制特性解析

  • 差分放大電路及其共模抑制特性。從對雙端輸入信號的差模和共模分解出發(fā)，提出差分放大電路不但能進(jìn)行差分放大，而且具有共模抑制能力。 差分放大電路有二個輸入端，如圖1(a)所示。圖1 設(shè)兩個輸入信號的差模值
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一種模／數(shù)混合型FIR噪聲濾波器設(shè)計

  • 摘要：針對現(xiàn)有數(shù)字FIR噪聲濾除技術(shù)的噪聲放大問題，結(jié)合模擬電路的方法，提出一種新的混合型FIR噪聲濾波技術(shù)。該方法采用電荷泵將鎖相環(huán)中數(shù)字控制的相位誤差轉(zhuǎn)換為模擬域電荷，調(diào)制器的輸出經(jīng)過一個寄存器鏈實(shí)現(xiàn)一
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模6計數(shù)器電路圖例

  • 利用復(fù)位端構(gòu)成的模6計數(shù)器電路利用集成計數(shù)器的預(yù)置端和復(fù)位端可以構(gòu)成任意模計數(shù)器。
    下圖所示依次是利用74163和74192構(gòu)成的模6計數(shù)器，工作波形圖如圖。 利用預(yù)置端構(gòu)成的模六計數(shù)器
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基于Intel 8254的運(yùn)動平臺數(shù)／模轉(zhuǎn)換電路設(shè)計

  • 摘要：提出了一種新型的運(yùn)動平臺數(shù)／模轉(zhuǎn)換(D／A)電路。利用可鳊程定時／計數(shù)器8254具有可編程單次脈沖、對主頻進(jìn)行分頻等特點(diǎn)，設(shè)計了一種數(shù)／模轉(zhuǎn)換電路。實(shí)際應(yīng)用表明，這種數(shù)／模轉(zhuǎn)換電路簡單實(shí)用，工作穩(wěn)定，且
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中規(guī)模集成電路功能測試儀的設(shè)計

  • 設(shè)計了一款針對學(xué)校實(shí)驗(yàn)室常用的中規(guī)模集成電路芯片的功能測試儀。測試儀的核心AT89C55單片機(jī)管理和控制整個測試流程，對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理、判斷，并通過LCD、LED顯示和指示其測試結(jié)果。詳細(xì)介紹了測試儀的總體設(shè)計思
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凌力爾特推出雙通道和單通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器系列

  • 　　凌力爾特公司 (Linear Technology Corporation) 推出雙通道和單通道高 IF 采樣 14 位、170Msps、210Msps 和 250Msps 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 系列，該系列器件在輸入頻率高達(dá) 900MHz 時，仍然保持良好的 SFDR 性能。LTC2152-14 和 LTC2157-14 分別是單通道和雙通道同時采樣 ADC，提供雙數(shù)據(jù)速率 (DDR) LVDS 數(shù)字輸出。這些 ADC 專為滿足當(dāng)今通信系統(tǒng)的需要而特別設(shè)計，在此類通信系統(tǒng)中，高的欠采樣能力可通過免
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共模和差模信號與濾波器

  • 1概述隨著微電子技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用，電磁兼容已成為研究微電子裝置安全、穩(wěn)定運(yùn)行的重要課題。抑制電磁干擾采用的技術(shù)主要包括濾波技術(shù)、布局與布線技術(shù)、屏蔽技術(shù)、接地技術(shù)、密封技術(shù)等。而干擾源的傳播途徑分為傳
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如何實(shí)現(xiàn)放大器與ADC之間的共模融合

  • 當(dāng)我們拼命折騰自己，藐視摩爾定律，不斷實(shí)現(xiàn)更小的幾何尺寸和IC工藝時，供電或偏置軌也要走這條路了。大部分器件都用單邊電源給元件供電，但我們可以看到大部分信號仍是雙極性形式。為了給放大器和轉(zhuǎn)換器建立新ld
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中規(guī)模集成電路功能測試儀的設(shè)計方案

  • 集成電路的測試技術(shù)隨著集成電路開發(fā)應(yīng)用的飛速發(fā)展而發(fā)展。集成電路測試儀也從最初測試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路。集成電路測試儀按測試門類可分為：數(shù)字集成電路測試儀、存儲器測
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模／數(shù)轉(zhuǎn)換器介紹

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