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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試系統(tǒng)

寬范圍高穩(wěn)晶振頻率穩(wěn)定度測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

  • 0 引 言
    高穩(wěn)定度石英晶體諧振器(簡(jiǎn)稱高穩(wěn)晶振)是廣泛應(yīng)用于通訊、電子對(duì)抗、數(shù)傳電臺(tái)、計(jì)算機(jī)等電子信息產(chǎn)品的重要器件。高穩(wěn)晶振的指標(biāo)直接影響產(chǎn)品的可靠性,因此如何檢測(cè)其性能是非常重要的。
    代表性
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基于虛擬儀器的濁度測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

  • 0 引 言
    濁度是工業(yè)水處理(除鹽水)檢驗(yàn)水質(zhì)要求的一個(gè)重要參數(shù),對(duì)除鹽水的水質(zhì)要求較高。目前,濁度的測(cè)定大部分都是停留在傳統(tǒng)儀器的模式下,沒(méi)有擺脫獨(dú)立使用,手動(dòng)操作的模式。隨著科技的迅猛發(fā)展,計(jì)算機(jī)
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新型液壓離合器液壓操縱系統(tǒng)性能測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

基于MSP430的石油井下壓力測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

  • 1 引言
    壓力數(shù)據(jù)在油田開采過(guò)程中是一項(xiàng)極重要的資料。而這其中的射孔工藝是關(guān)鍵環(huán)節(jié),其對(duì)高質(zhì)量打開油氣層,提高油氣井產(chǎn)能都有重要影響。射孔是打開油氣層讓地層流體流入井內(nèi)的主要完井工序。測(cè)取射孔瞬間動(dòng)
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MSP430單片機(jī)在測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用

  • 1 引言
    單片機(jī)(或微控制器)技術(shù)已滲透到生活的方方面面,廣泛應(yīng)用于家用電器、通信、測(cè)試等領(lǐng)域。因此該技術(shù)正積極影響著人們的生活。這里給出一種基于MSP430單片機(jī)的測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)。MSP430系列單片機(jī)是TI公司生
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CAN總線在發(fā)動(dòng)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用

  • 本文簡(jiǎn)述了CAN總線在發(fā)動(dòng)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用。文中簡(jiǎn)要介紹了CAN現(xiàn)場(chǎng)總線的特點(diǎn),提出了對(duì)原有設(shè)備的改造方法,并對(duì)具體的改造技術(shù)給出了詳盡的描述。
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基于DSP的多頻帶混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)方案

  • 1混合信號(hào)測(cè)試的特點(diǎn)和測(cè)試要求隨著數(shù)字化浪潮的深入,具有混合信號(hào)功能的芯片越來(lái)越多地出現(xiàn)在人...
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基于μC/OS-II的Modbus協(xié)議測(cè)試系統(tǒng)

  • 基于μC/OS-II的Modbus協(xié)議測(cè)試系統(tǒng), 1 引言  Modbus 協(xié)議最初由Modicon 公司開發(fā)出來(lái),1979 年末該公司成為施耐德自動(dòng)化 (Schneider Automation)部門的一部分?,F(xiàn)在Modbus 協(xié)議已經(jīng)是工業(yè)領(lǐng)域全球最流行的協(xié) 議。Modbus 協(xié)議為應(yīng)用層報(bào)文傳輸協(xié)議
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基于AVR單片機(jī)的中頻電源測(cè)試系統(tǒng)

  • 本文介紹一種基于 AVR單片機(jī)采用交流采樣、數(shù)字濾波等技術(shù),實(shí)現(xiàn)對(duì)中頻電源的電力參數(shù)測(cè)量和實(shí)時(shí)監(jiān)控,具有較好的精確度和穩(wěn)定性,本文詳細(xì)介紹了該系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)和軟件模塊。
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基于Dasylab的網(wǎng)絡(luò)測(cè)試系統(tǒng)研究

  • 引言 隨著國(guó)防、通信、航天、航空、氣象、勘測(cè)等領(lǐng)域飛速發(fā)展,對(duì)測(cè)試的現(xiàn)場(chǎng)化、遠(yuǎn)地化、網(wǎng)絡(luò)化要求不斷升溫,特別是在危險(xiǎn)或測(cè)試人員難于進(jìn)人的軍事試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)、氣候惡劣場(chǎng)地進(jìn)行的測(cè)試工作。因此,網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試
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惠瑞捷推出零空間占用的低成本測(cè)試系統(tǒng)V101

  •   半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司日前針對(duì)晶圓測(cè)試和集成電路、微控制器的成品測(cè)試推出了一款新型測(cè)試系統(tǒng)V101。V101滿足了這些芯片的超低成本要求,以及緩解了日益增長(zhǎng)的上市時(shí)間壓力。   V101測(cè)試系統(tǒng)將于2009年7月14日-16日在美國(guó)加利福尼亞州舊金山市莫斯克尼會(huì)議中心舉行的SEMICON WEST展覽會(huì)上展出。   惠瑞捷副總裁暨ASTS事業(yè)部總經(jīng)理魏津博士表示:“V101首次讓惠瑞捷成熟的測(cè)試技術(shù)專業(yè)知識(shí)惠及這一細(xì)分市場(chǎng)。這一成本敏感型市場(chǎng)要求測(cè)試方案以最低的測(cè)試成本
  • 關(guān)鍵字: 惠瑞捷  集成電路  晶圓測(cè)試  微控制器  測(cè)試系統(tǒng)  V101  

FZC-1型發(fā)動(dòng)機(jī)性能參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)

LM-STAR基于NI軟件測(cè)試系統(tǒng)節(jié)省百萬(wàn)成本

  •   The Challenge:   針對(duì)計(jì)劃中超過(guò)3000架聯(lián)合攻擊戰(zhàn)斗機(jī)設(shè)計(jì)測(cè)試系統(tǒng),從生產(chǎn),環(huán)境應(yīng)力篩選到補(bǔ)給測(cè)試實(shí)現(xiàn)應(yīng)用。   The Solution:   設(shè)計(jì)支持航空電子測(cè)試系統(tǒng)集成的測(cè)試系統(tǒng)。使用NI TestStand及LabWindowsTM/CVI作為核心測(cè)試管理及ANSI C語(yǔ)言測(cè)試開發(fā)環(huán)境。 LM-STAR系統(tǒng)設(shè)置   "LM-STAR系統(tǒng)使用NI TestStand及LabWindows/CVI作為核心測(cè)試管理及ANSI C測(cè)試開發(fā)環(huán)境,能夠快速開發(fā)測(cè)試
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編碼式光幕立靶測(cè)試系統(tǒng)的研究

  • 介紹一種由兩套垂直放置的和平行光源構(gòu)成的編碼式光幕立靶測(cè)試系統(tǒng),可精確測(cè)試彈丸著靶位。該系統(tǒng)設(shè)計(jì)采用電路編碼替代光纖編碼,克服光纖編碼立靶測(cè)試系統(tǒng)的不足,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單易于實(shí)現(xiàn)。
  • 關(guān)鍵字: 研究  測(cè)試系統(tǒng)  編碼  

基于MCS-51單片機(jī)的微波脈沖功率測(cè)試系統(tǒng)

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測(cè)試系統(tǒng)介紹

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