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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 電子信息技術(shù)

分析造成元器件失效的因素 提高可靠性

  • 　　電子信息技術(shù)是當(dāng)今新技術(shù)革命的核心，電子元器件是發(fā)展電子信息技術(shù)的基礎(chǔ)。了解造成元器件失效的因素，以提高可靠性，是電子信息技術(shù)應(yīng)用的必要保證。 　　開(kāi)展電子元器件失效分析，需要采用一些先進(jìn)的分析測(cè)試技術(shù)和儀器。 　　1 光學(xué)顯微鏡分析技術(shù) 　　光學(xué)顯微鏡分析技術(shù)主要有立體顯微鏡和金相顯微鏡。 　　立體顯微鏡放大倍數(shù)小，但景深大;金相顯微鏡放大倍數(shù)大，從幾十倍到一千多倍，但景深小。把這兩種顯微鏡結(jié)合使用，可觀測(cè)到器件的外觀，以及失效部位的表面形狀、分布、尺寸、組織、結(jié)構(gòu)和應(yīng)力等。如用來(lái)觀察到芯片
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汽車(chē)智能傳感器

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電子信息技術(shù)介紹

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