首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 電子信息技術(shù)

分析造成元器件失效的因素 提高可靠性

  • 　　電子信息技術(shù)是當(dāng)今新技術(shù)革命的核心，電子元器件是發(fā)展電子信息技術(shù)的基礎(chǔ)。了解造成元器件失效的因素，以提高可靠性，是電子信息技術(shù)應(yīng)用的必要保證。 　　開展電子元器件失效分析，需要采用一些先進(jìn)的分析測試技術(shù)和儀器。 　　1 光學(xué)顯微鏡分析技術(shù) 　　光學(xué)顯微鏡分析技術(shù)主要有立體顯微鏡和金相顯微鏡。 　　立體顯微鏡放大倍數(shù)小，但景深大;金相顯微鏡放大倍數(shù)大，從幾十倍到一千多倍，但景深小。把這兩種顯微鏡結(jié)合使用，可觀測到器件的外觀，以及失效部位的表面形狀、分布、尺寸、組織、結(jié)構(gòu)和應(yīng)力等。如用來觀察到芯片
  • 關(guān)鍵字： 電子元器件  電子信息技術(shù)  

汽車智能傳感器

共2條 1/1 1

電子信息技術(shù)介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條電子信息技術(shù)!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對電子信息技術(shù)的理解，并與今后在此搜索電子信息技術(shù)的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473