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碳化硅jfets原子探針層析成像
碳化硅jfets原子探針層析成像 文章 進(jìn)入碳化硅jfets原子探針層析成像技術(shù)社區(qū)
TechInsights對(duì)于“碳化硅JFETs原子探針層析成像”的探討
- 去年,TechInsights通過(guò)一系列博客展示了電氣特性的力量,對(duì)于揭示碳化硅器件規(guī)格書(shū)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能提供的碳化硅器件特性。分析半導(dǎo)體摻雜的技術(shù)多種多樣,例如:· 掃描式電容顯微鏡(SCM ),我們經(jīng)常將它包含在我們的功耗報(bào)告中,這為我們提供了大面積的相對(duì)摻雜物分析?!?nbsp; 掃描式電阻測(cè)定(SRP)和二次離子質(zhì)譜(SIMS)可以給出定量分析,但是尺
- 關(guān)鍵字: TechInsights 碳化硅JFETs原子探針層析成像
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碳化硅jfets原子探針層析成像介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)碳化硅jfets原子探針層析成像的理解,并與今后在此搜索碳化硅jfets原子探針層析成像的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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