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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 讀出

利用單片機(jī)從LCD顯示屏上讀出所測(cè)得電阻值解析方案

  • 1引言在電路測(cè)試過(guò)程中常常會(huì)碰到由于忽略某些小電阻的影響引起實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與理論值之間存在較大誤差，從而影響測(cè)試效果例如電感器變壓器中往往存在銅電阻，地鐵鐵軌的電阻;由于其數(shù)值較小，一般的指針萬(wàn)用表無(wú)法測(cè)量出
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CPU讀/寫存儲(chǔ)器的步驟過(guò)程舉例說(shuō)明

  • 1)存儲(chǔ)器的讀操作。例如，若要將存儲(chǔ)器40H中的內(nèi)容50H讀出，其過(guò)程如下： ①CPU將地址碼40H送到地址總線上，經(jīng)存儲(chǔ)器地址譯碼器選通地址為40H的存儲(chǔ)單元： ②CPU發(fā)出“瀆”信號(hào)，存儲(chǔ)器讀/寫控制開
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Vernier陽(yáng)極探測(cè)器及其電子讀出電路的設(shè)計(jì)

  • 介紹基于一維游標(biāo)陽(yáng)極的紫外單光子計(jì)數(shù)成像探測(cè)系統(tǒng)及其信號(hào)預(yù)處理電路的原理，重點(diǎn)設(shè)計(jì)和制作了一維游標(biāo)陽(yáng)極探測(cè)器的前端電子讀出電路，用以探測(cè)脈寬100～200 ms，電荷量為1～20 pc的脈沖。通過(guò)使用自己實(shí)驗(yàn)室搭建的單光子計(jì)數(shù)成像系統(tǒng)對(duì)電子讀出電路進(jìn)行了測(cè)試。測(cè)試結(jié)果表明，電子讀出電路能夠滿足探測(cè)系統(tǒng)的成像要求，并在實(shí)驗(yàn)中利用電路對(duì)掩膜板成像，成功獲得了灰度圖像。
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