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測試環(huán)路濾波器及射頻電路設(shè)計(jì)詳解

• 　　小數(shù)分頻頻率合成器在測試時(shí)必須外接一個(gè)環(huán)路濾波器電路與壓控振蕩器才能構(gòu)成一個(gè)完整的鎖相環(huán)電路。其外圍電路中環(huán)路濾波器的設(shè)計(jì)好壞將直接影響到芯片的性能測試。以ADF4153小數(shù)分頻頻率合成器為例，研究了其外圍環(huán)路濾波器的設(shè)計(jì)方法，給出了基于芯片測試的環(huán)路濾波器設(shè)計(jì)流程，并進(jìn)行了驗(yàn)證測試。測試結(jié)果表明，該濾波器可滿足小數(shù)分頻頻率合成器芯片測試的需要。在進(jìn)行小數(shù)分頻頻率合成器的芯片測試時(shí)，數(shù)字部分可以通過常規(guī)的數(shù)字測試方法即可以實(shí)現(xiàn);而輸出射頻信號的相位噪聲、雜散噪聲則需要芯片工作在正常的輸出狀態(tài)下才能測試
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