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用開放測試平臺R&S CompactTSVP快速實現(xiàn)數(shù)字功能性測試

• 借助羅德與施瓦茨公司基于PXI的生產(chǎn)測試平臺R&S CompactTSVP的新選件，即使在需要進行大量數(shù)據(jù)運算的領(lǐng)域，快速數(shù)字功能性測試也可以實現(xiàn)。全新的高速數(shù)字測試模塊R&S TS-PHDT支持高達(dá)40MHz的數(shù)據(jù)速率以及1.5GB的存儲容量。測試電子組件所需要的激勵信號、期望值以及實測值都可以存儲在本地。由于模塊內(nèi)部能實時對比實測值與期望值，記錄的測試數(shù)據(jù)不再需要傳送到系統(tǒng)控制器，因此節(jié)約了大量的測試時間。 R&S TS PHDT，這個小
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