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吉時利發(fā)布4200-SCS半導體特征分析系統(tǒng)KTEI V7.1升級版

  • 　　吉時利（Keithley）儀器公司，日前發(fā)布最近針對其屢獲殊榮的4200-SCS半導體特征分析系統(tǒng)推出了KTEI（吉時利交互式測試環(huán)境）V7.1版。經(jīng)過此次軟件升級之后，KTEI支持更高功率半導體器件的測試。這樣，4200-SCS就支持從低到高各種功率水平的器件的特征分析，從而成為市場上最完整的半導體特征分析儀，大大降低了一些復雜測量的難度，并且通過保護用戶的固定資產(chǎn)投資降低了用戶的測試成本。 　　KTEI V7.1的此次升級融合了多種新特征和新功能，擴寬了4200-CVU（電容-電壓單元）的功能，
  • 關鍵字： 吉時利  Keithley  半導體  KTEI  
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