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利用APTIX MP3C和Spartan-IIE FPGA實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)系統(tǒng)的

  • 隨著數(shù)字電路設(shè)計(jì)的規(guī)模及復(fù)雜程度的提高，對其進(jìn)行測試試驗(yàn)證所花費(fèi)的時(shí)間和費(fèi)用也隨之提高，所以減少測試驗(yàn)證成本是當(dāng)前數(shù)字電路設(shè)計(jì)的關(guān)鍵。
  • 關(guān)鍵字： Spartan-IIE  APTIX  MP3C  FPGA    
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