首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> t5833

愛德萬測試發(fā)表全新多功能存儲器測試系統(tǒng)T5833，同時支持Mobile DRAM與NAND閃存測試

  • 　　2015 年6 月16 日，全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體測試設(shè)備供應(yīng)商愛德萬測試發(fā)表全新存儲器測試系統(tǒng)T5833，新系統(tǒng)同時支持DRAM 與NAND 閃存器件的晶圓測試及后道封裝測試，可滿足低成本大規(guī)模量產(chǎn)測試需求。T5833 預(yù)定本月開始出貨。 　　隨著移動電子設(shè)備銷售量的不斷攀升，主要搭載于智能手機及平板電腦上的DRAM、NAND 閃存與多芯片封裝存儲器 (MCP) 正朝著快速提升速度與容量的方向發(fā)展，這個趨勢也同樣顯見于網(wǎng)絡(luò)和云端服務(wù)器市場。然而，當(dāng)今存儲器種類繁多，測試成本是一大障礙，因此芯片制造商急需
  • 關(guān)鍵字： 愛德萬，T5833  
共1條 1/1 1

t5833介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條t5833!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對t5833的理解，并與今后在此搜索t5833的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473