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基于JTAG的星型掃描接口的設計及其仿真

  • 　　邊界掃描測試技術飛速發(fā)展，測試與調試功能不斷增強，硬件IP模塊向集成多個內核方向發(fā)展，以往芯片中傳統(tǒng)的測試訪問端口(TAP)中嵌入單一的測試訪問端口控制器(TAPC)逐漸被系統(tǒng)芯片中嵌入多個TAPC所取代。為使單芯片中集成多TAPC的操作規(guī)范標準化，2009年提出的新的測試標準IEEE 1149.7。為解決系統(tǒng)集成復雜度越來越高所帶來的測試調試任務困難，標準規(guī)范了一種支持星型掃描功能的IEEE 1149.7測試訪問端口(在本文中稱為TAP.7接口)，其接口在原有的IEEE1149.1端口(JTAG)器
  • 關鍵字： JTAG  TAPC  
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