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LCD Driver IC 測試方法及其對測試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)

  • LCD Driver IC 測試方法及其對測試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)(2)         假設(shè)被測的是256色、384 LCD輸出且具有Dot 翻轉(zhuǎn)功能的IC,那么由公式可得需要測試的電壓值個數(shù)為:  256(顏色深度)x384(pin數(shù))x2(Dot 翻轉(zhuǎn)) =196,608  一般的DC測試部件的測試時間為幾到幾十個uS,由此可知測試時間將會比較長。如果IC的色彩深度高一些的話(65535色),測試時間根本無法讓人接受,因此在進(jìn)行此類測試時需要使用數(shù)字采樣器(Dig
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LCD Driver IC 測試方法及其對測試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)

  • LCD Driver IC 測試方法及其對測試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)LCD顯示器件在中國已有二十多年的發(fā)展歷程,已經(jīng)從最初的以數(shù)字顯示為主轉(zhuǎn)變?yōu)橐渣c陣字符、圖形顯示為主。LCD顯示設(shè)備以其低電壓驅(qū)動、微小功耗、能夠與CMOS電路和LSI直接匹配、具有極薄的扁平結(jié)構(gòu)、可以在極亮的環(huán)境光下使用、工藝簡單等等特點成為了極有發(fā)展前景的顯示器件?! CD顯示器件種類繁多、發(fā)展迅速,從種類到原理、從結(jié)構(gòu)到效應(yīng)、從使用方式到應(yīng)用范圍差異很大,從測試原理上來說也就會有一些不同,目前比較常用的是STN和TFT的LCD顯示器件。由
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1994年6月,無錫微電子工程在中國華晶電子集團(tuán)公司全面通過國家驗收

  •   1994年6月,我國“七五”電子工業(yè)的頭號工程———無錫微電子工程在中國華晶電子集團(tuán)公司全面通過國家驗收。該工程的重點2微米、3微米MOS超大規(guī)模集成電路生產(chǎn)線正式建成投產(chǎn),代表了我國當(dāng)時微電子工業(yè)大生產(chǎn)的最高水平。
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