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jtag 文章 進(jìn)入jtag技術(shù)社區(qū)
多核軟件調(diào)試的難點(diǎn)及新方法
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字: 多核軟件調(diào)試 JTAG SoC 片上調(diào)試
JTAG仿真接口的電路設(shè)計(jì)
- JTAG仿真接口的電路設(shè)計(jì),連接測(cè)試組(JTAG,Joint Test Action Group)接口用于連接最小系統(tǒng)板和仿真器,實(shí)現(xiàn)仿真器對(duì)DSP的訪問(wèn),JTAG接口的連接需要和仿真器上的接口一致。不論什么型號(hào)的仿真器,其JTAG接口都滿足IEEE 1149.1的標(biāo)準(zhǔn)。滿足IEE
- 關(guān)鍵字: 電路設(shè)計(jì) 接口 仿真 JTAG
探討基于JTAG技術(shù)的嵌入式系統(tǒng)測(cè)試的各個(gè)階段
- 引言 IEEE 1149.1邊界掃描測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來(lái)進(jìn)行復(fù)雜IC與電路板上的特性測(cè)試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法,大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標(biāo)準(zhǔn)。為了更好地理解這種
- 關(guān)鍵字: JTAG 技術(shù)的嵌入式 系統(tǒng)測(cè)試
基于SOPC的M8051嵌入式調(diào)試器設(shè)計(jì)
- 摘要:調(diào)試器是嵌入式系統(tǒng)軟件開(kāi)發(fā)的重要工具。本文設(shè)計(jì)了一款基于USB接口并以SOPC方式實(shí)現(xiàn)的M8051嵌入式調(diào)試 ...
- 關(guān)鍵字: SOPC M8051 嵌入式調(diào)試器 JTAG
滿足的嵌入式系統(tǒng)電路特性測(cè)試需求的JTAG技術(shù)
- 引言:EEE 1149.1邊界掃描測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來(lái)進(jìn)行復(fù)雜IC與電路板上的特性測(cè)試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法,大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標(biāo)準(zhǔn)。為了更好地理解這種
- 關(guān)鍵字: JTAG 嵌入式系統(tǒng) 電路 特性測(cè)試
基于JTAG的互連測(cè)試技術(shù)
- 一、引言隨著微電子技術(shù)進(jìn)入超大規(guī)模集成電路(VLSI)時(shí)代,VLSI電路的高度復(fù)雜性及多層印制板、表面貼裝(SMT)、圓片規(guī)模集成(WSI)和多芯片模塊 (MCM)技術(shù)在電路系統(tǒng)中的運(yùn)用,使得電路節(jié)點(diǎn)的物理可訪問(wèn)性正逐
- 關(guān)鍵字: JTAG 互連 測(cè)試技術(shù)
多核處理器架構(gòu)及調(diào)試方案
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字: 處理架構(gòu) 多核處理器 調(diào)試方案 JTAG
jtag介紹
JTAG是英文“Joint Test Action Group(聯(lián)合測(cè)試行為組織)”的詞頭字母的簡(jiǎn)寫(xiě),該組織成立于1985 年,是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測(cè)試訪問(wèn)端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后,IEEE 分別于1993 年和 [ 查看詳細(xì) ]
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