jtag 文章 進(jìn)入jtag技術(shù)社區(qū)
JTAG測(cè)試(05-100)
- 現(xiàn)在,邊界掃描技術(shù)可用于以器件為中心方式的測(cè)試中,使得在開發(fā)、調(diào)試和生產(chǎn)測(cè)試環(huán)境中采用JTAG(聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組)測(cè)試技術(shù)。
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試測(cè)量 JTAG 聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組 XJTAG
ADSP-21262型DSP的監(jiān)控設(shè)計(jì)
- 1 引言 隨著數(shù)字信號(hào)處理理論的日趨完善和超大規(guī)模集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展,在各種實(shí)時(shí)處理應(yīng)用需求的推動(dòng)下,數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)也得到了越來越廣泛的應(yīng)用。 DSP的監(jiān)控是DSP開發(fā)和應(yīng)用中十分重要的環(huán)節(jié)。目前在DSP的開發(fā)過程中,最常用的方式是通過購買處理器的JTAG仿真器和開發(fā)軟件包實(shí)現(xiàn)對(duì)DSP的調(diào)試和監(jiān)控。JTAG調(diào)試工具的功能十分強(qiáng)大,對(duì)于不熟悉DSP內(nèi)部結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)的開發(fā)者而言是一種非常不錯(cuò)的選擇。但是此種方法也有其缺陷:首先,開發(fā)成本比較昂貴,一般購買正版仿真器和軟件包的價(jià)格都在
- 關(guān)鍵字: DSP 監(jiān)控 JTAG PC
利用JTAG OCD加速Linux設(shè)備開發(fā)
- 引言 傳統(tǒng)上,調(diào)試嵌入式Linux產(chǎn)品需要將硬件和軟件工具結(jié)合起來,如用JTAG工具進(jìn)行硬件bring-up,用基于代理(agent-based)的解決方案進(jìn)行軟件開發(fā)。這些JTAG和基于代理的工具相結(jié)合的方法通常可以解決單點(diǎn)問題,但它們最初并不是專門針對(duì)集成化的Linux開發(fā)而設(shè)計(jì)的。因而,在當(dāng)今集成化的產(chǎn)品開發(fā)中,這些傳統(tǒng)方法常常是不可行的。 但是,我們可以在Linux內(nèi)核的配置、補(bǔ)丁管理以及在基于Eclipse的IDE環(huán)境中的用戶空間應(yīng)用開發(fā)、調(diào)試和分析之中,將傳統(tǒng)JTAG硬件調(diào)試融
- 關(guān)鍵字: JTAG OCD Linux Boot Loader
微處理器和JTAG總線橋接接口(06-100)
- 數(shù)字邏輯設(shè)計(jì)人員在實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)目標(biāo)時(shí)有不少工具可用。為適應(yīng)所需的大量邏輯數(shù)和數(shù)據(jù)率,設(shè)計(jì)人員可選用FPGA。FPGA在相對(duì)小的空間內(nèi),以多引腳數(shù)封裝提供巨大數(shù)量的數(shù)字邏輯門。 在印刷電路板(PCB)放置多個(gè)多引腳FPGA和其他器件,確保所有互連的完整無損是比較困難的。在制造中用X射線技術(shù)可以檢驗(yàn)大概的互連問題, 而需要更精確的方法來檢測(cè)制造、調(diào)試和復(fù)雜PCB更換的互連問題。 一種方法是JTAG(IEEE1149.1)技術(shù)。JTAG(聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組)功能包括基本的輸入/輸出邊界掃描控制(由114
- 關(guān)鍵字: FPGA 微處理器 JTAG
JTAG接口在嵌入式中的作用
- 1用于燒寫FLASH 燒寫FLASH的軟件有很多種包括jatg.exe fluted flashpgm等等,但是所有這些軟件都是通過jtag接口來燒寫flash的,由于pc機(jī)上是沒有jtag接口的,所以利用并口來傳遞信息給目標(biāo)板的jtag接口。所以就需要并口轉(zhuǎn)jtag接口的電路。 2 用于調(diào)試程序 同時(shí)應(yīng)該注意到j(luò)tag接口還可以用來調(diào)試程序。而調(diào)試程序(如ARM開發(fā)組件中的AXD)為了通過jtag接口去調(diào)試目標(biāo)板上的程序,同樣是使用pc的
- 關(guān)鍵字: JTAG 接口 嵌入式系統(tǒng) 單片機(jī) 嵌入式
華邦電子發(fā)布工業(yè)控制用8位控制器Rich系列
- 華邦電子推出新款8位控制器Rich系列:W79E217/W79E227/W79E225。Rich系列采用4個(gè)頻率執(zhí)行一條指令周期的華邦8051核心為基礎(chǔ),內(nèi)建64K/64K/16K閃存,具備高度整合外圍功能(如10位ADC、UART、I2C與SPI串口接口、PWM、內(nèi)部復(fù)位等),并整合了眾多關(guān)鍵特性,包括有:執(zhí)行速度快、高抗干擾、工業(yè)規(guī)格等等,適合在要求高性能和高質(zhì)量的通用嵌入式應(yīng)用。 Rich系列設(shè)計(jì)方案對(duì)于要求封裝體積小又要有足夠I/O及記憶容量之應(yīng)用,提供一個(gè)典型的解決方案,此系列產(chǎn)品可適
- 關(guān)鍵字: 華邦電子 JTAG 仿真器 遙控技術(shù)
多核調(diào)試新方法探討
- 對(duì)于嵌入式裝置而言,多核技術(shù)可以提供更高的處理器性能、更有效的電源利用率,并且占用更少的物理空間,因而具有許多優(yōu)勢(shì)。 要想充分發(fā)揮多核以及多處理解決方案的潛能,僅僅擁有高性能的芯片是不夠的,還需要采用新的編程方法、調(diào)試方法和工具。在傳統(tǒng)上,JTAG技術(shù)主要是用于硬件調(diào)試,如今也常常用于基于代理的調(diào)試(Agent-based debugging)。然而,在多核和多處理的環(huán)境中,片上調(diào)試(On-chip debugging)正在扮演著越來越重要的角色。 多核軟件調(diào)試的難點(diǎn) 多核環(huán)境顯著增
- 關(guān)鍵字: 0712_A 雜志_技術(shù)長(zhǎng)廊 多核 內(nèi)存 JTAG MCU和嵌入式微處理器
什么是JTAG及JTAG接口簡(jiǎn)介
- 1 JTAG(Joint Test Action Group;聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)小組)是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片內(nèi)部測(cè)試?,F(xiàn)在多數(shù)的高級(jí)器件都支持JTAG協(xié)議,如DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線:TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時(shí)鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。 JTAG最初是用來對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試的,JTAG的基本原理是在器件內(nèi)部定義一個(gè)TAP(Test Access&n
- 關(guān)鍵字: JTAG 接口
選擇合適的嵌入式系統(tǒng)軟、硬件調(diào)試工具
- 嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員正同時(shí)面臨著調(diào)試工具的漸變和劇變。在漸變方面,調(diào)試工具正遵循著一般的設(shè)計(jì)趨勢(shì),向標(biāo)準(zhǔn)化開放式系統(tǒng)邁進(jìn)。而劇變則可能表現(xiàn)在操作層面,因?yàn)殚_發(fā)人員在向嵌入式調(diào)試工具中增加無線連接功能。 嵌入式系統(tǒng)需要兩種調(diào)試形式,其中一種基于軟件,另一種則以硬件為中心。而且,業(yè)界在這兩方面都已經(jīng)做了大量標(biāo)準(zhǔn)化工作。其中,基于軟件的調(diào)試正在轉(zhuǎn)向一種基于Eclipse框架的開放式系統(tǒng)方法。大多數(shù)軟件開發(fā)工具公司現(xiàn)在都有相應(yīng)的插件,使其調(diào)試工具成為Eclipse集成開發(fā)環(huán)境(IDE)的一部分。例如,由
- 關(guān)鍵字: 嵌入式系統(tǒng) 單片機(jī) JTAG 處理器
Tensilica獲ByteTools JTAG仿真器支持
- ByteTools和Tensilica 公司今天共同宣布,Tensilica Diamond標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)核和Xtensa可配置處理器內(nèi)核的所有客戶可以開始獲得ByteTools公司為Tensilica設(shè)計(jì)的低成本Catapult JTAG probe。用戶不需要安裝任何額外的軟件,只需采用Tensilica 提供的軟件開發(fā)工具,既可使用Catapult Probe。Catapult Probe 的接口是標(biāo)準(zhǔn)的XOCD 14
- 關(guān)鍵字: JTAG Tensilica 單片機(jī) 嵌入式系統(tǒng) 測(cè)試測(cè)量
jtag介紹
JTAG是英文“Joint Test Action Group(聯(lián)合測(cè)試行為組織)”的詞頭字母的簡(jiǎn)寫,該組織成立于1985 年,是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測(cè)試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后,IEEE 分別于1993 年和 [ 查看詳細(xì) ]
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