ni-pxi 文章進(jìn)入ni-pxi技術(shù)社區(qū)

NI推出高精度多功能USB接口數(shù)據(jù)采集設(shè)備

　　2008年4月 -美國國家儀器有限公司（National Instruments,簡稱NI）推出新款M系列USB數(shù)據(jù)采集設(shè)備（DAQ），該設(shè)備支持18位模擬輸入，采樣率達(dá)到625 kS/s。NI USB-6281和USB-6289包含18位ADC，相比傳統(tǒng)16位設(shè)備其分辨率提高4倍，與高于5?位分辨率的DC測量旗鼓相當(dāng)。這些設(shè)備還提供了增強(qiáng)型模擬輸出通道，能夠?qū)崿F(xiàn)量程及偏移量可編程設(shè)定。除了標(biāo)準(zhǔn)螺絲型端子或mass終端連接器等選擇，OEM版還提供與嵌入式系統(tǒng)的集成性功能，包括34針和5
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PXI Express：支持高性能混合信號(hào)測試平臺(tái)

PXI Express的技術(shù)優(yōu)勢(shì) 由于PXI標(biāo)準(zhǔn)采用了PCIe技術(shù)，PXI自動(dòng)化測試系統(tǒng)提供了前所未有的高性能。在有些情況下，PXI儀器現(xiàn)在可以執(zhí)行一些迄今一直無法完成的測量。 PXI Express是由PXI擴(kuò)展所得。新型PXI Express機(jī)箱提供了支持PXI與PXI Express模塊協(xié)同工作于同一系統(tǒng)的混合兼容的插槽。所以
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基于虛擬儀器的熱膨脹儀測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

　　1 引言　　熱膨脹儀測試系統(tǒng)國內(nèi)目前大多使用VC開發(fā)，其編程過程復(fù)雜，儀器之間的通訊實(shí)現(xiàn)十分繁瑣，需要花費(fèi)大量的時(shí)間。美國NI公司提出的虛擬儀器是一種綜合的測試技術(shù)，它通過計(jì)算機(jī)上添加幾種共性的基本儀器硬件模塊，通過軟件的思想來組合成各種功能的儀器和系統(tǒng)的儀器設(shè)計(jì)思想。虛擬儀器技術(shù)利用LabVIEW進(jìn)行開發(fā)，LabVIEW系統(tǒng)開發(fā)能縮短復(fù)雜程序的開發(fā)時(shí)間，更迅捷、更經(jīng)濟(jì)地解決測試問題，而且它的界面友好，這使得它已經(jīng)越來越多地在應(yīng)用在測試領(lǐng)域。它內(nèi)置了PCI、DAQ、GPIB、PXI、VXI、RS一
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使用圖形化的開發(fā)環(huán)境(06-100)

　　傳統(tǒng)設(shè)計(jì)模式所應(yīng)對(duì)的挑戰(zhàn) 　　嵌入式系統(tǒng)正在滲入現(xiàn)代社會(huì)的各個(gè)方面，廣泛地應(yīng)用于航空航天、通信設(shè)備、消費(fèi)電子、工業(yè)控制、汽車、船舶等領(lǐng)域，據(jù)統(tǒng)計(jì)，在美國平均每個(gè)中產(chǎn)階級(jí)家庭要使用40~50個(gè)嵌入式系統(tǒng)。巨大的市場需求推動(dòng)了嵌入式系統(tǒng)向更高的技術(shù)水平發(fā)展。設(shè)計(jì)師們一方面采用性能更強(qiáng)大的嵌入式處理器如32位、64位RISC芯片取代傳統(tǒng)的8位、16位微處理器；另一方面嵌入式系統(tǒng)也由單處理器單操作系統(tǒng)的傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)向混合型Multi-core系統(tǒng)發(fā)展，通過采用多個(gè)處理器和OS提高系統(tǒng)并行度來提高系統(tǒng)運(yùn)行效能，并
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PXI在重離子加速器－冷卻存儲(chǔ)環(huán)控制系統(tǒng)的應(yīng)用(04-100)

　　HIRFL-CSR工程　　蘭州近代物理所HIRFL-CSR(重離子加速器－冷卻存儲(chǔ)環(huán))工程是國家九五重點(diǎn)國家重大科學(xué)工程。HIRFL-CSR是一個(gè)集加速、累積、冷卻、儲(chǔ)存、內(nèi)靶實(shí)驗(yàn)及高分辨測量于一體的多功能實(shí)驗(yàn)裝置。　　蘭州近代物理所HIRFL-CSR包括：主環(huán)(CSRm)、實(shí)驗(yàn)環(huán)(CSRe)、束運(yùn)線、放射性束(RIB)分離器、實(shí)驗(yàn)探測裝置。主環(huán)周長161米，最高加速能量為900MeV/u(12C6+)和400MeV/u(238U72+)，試驗(yàn)環(huán)周長129米，最大接收能量為600MeV/u
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NI 發(fā)表 LabVIEW 8.5 控制設(shè)計(jì)與仿真模塊

　　NI 發(fā)表 NI LabVIEW 8.5 控制設(shè)計(jì)與模擬 (Control Design and Simulation) 模塊，為 LabVIEW 圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)平臺(tái)的延伸，可協(xié)助分析開回路 (Open-loop) 模型的行為、設(shè)計(jì)閉回路 (Closed-loop) 控制器，仿真系統(tǒng)，并建立實(shí)時(shí)建置作業(yè)。最新版模塊具有新的設(shè)計(jì)功能，如可提升系統(tǒng)閉回路穩(wěn)定性的分析式 PID 功能，與多變量 (Multivariable) 系統(tǒng)的模型預(yù)測控制。LabVIEW 控制設(shè)計(jì)與仿真 (Control Design
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NI觸摸屏計(jì)算機(jī)TPC-2012可與LabVIEW 8.20配合使用

LabVIEW提供一個(gè)統(tǒng)一的圖形化開發(fā)環(huán)境，使系統(tǒng)工程師能夠在邏輯編程環(huán)境中輕松地建立觸摸屏應(yīng)用。對(duì)于新的TPC...
關(guān)鍵字： LabVIEW HMI NI 配合使用觸摸屏計(jì)算機(jī) CE 開發(fā)環(huán)境模塊 Windows

基于NI PXI技術(shù)的無線電接收機(jī)技術(shù)

　　概述　　無線射頻接收機(jī)是一個(gè)監(jiān)測系統(tǒng)，它負(fù)責(zé)從天線上接收射頻能量，然后把信號(hào)頻率降到數(shù)字化儀可接收的范圍內(nèi)進(jìn)行采集，隨后就可以對(duì)信號(hào)進(jìn)行諸如掃頻、頻譜分析、功率計(jì)算、調(diào)制和解調(diào)參數(shù)分析的操作。一個(gè)無線監(jiān)測接收系統(tǒng)的主要指標(biāo)應(yīng)該包括：動(dòng)態(tài)范圍、靈敏度、本底噪聲、解調(diào)模式等。此文將詳細(xì)介紹基于NI PXI技術(shù)的無線電接收機(jī)技術(shù)指標(biāo)。　　NI射頻架構(gòu)綜述　　NI的射頻架構(gòu)基于虛擬儀器技術(shù)的概念，它包括：高性能的模塊化硬件(射頻信號(hào)分析儀PXI-5660、射頻信號(hào)發(fā)生器PXI-5670)以及高靈活
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PXI模塊在調(diào)試和測試移動(dòng)電話特性中的應(yīng)用

　　引言　　測試是成本中應(yīng)避免的支出。移動(dòng)電話的生產(chǎn)測試成本可能會(huì)占項(xiàng)目總成本較大的一部分。在移動(dòng)電話測試中，決定其參數(shù)和功能測試的程度是相當(dāng)復(fù)雜的，必須對(duì)生產(chǎn)線變化以及在測試過程和設(shè)計(jì)成熟時(shí)加以評(píng)估。以調(diào)試為目的進(jìn)行的測試與其它測試略有差別，調(diào)試在生產(chǎn)過程中是重要的增值步驟，而不單只是驗(yàn)證過程。調(diào)試的需求直接與器件的設(shè)計(jì)相關(guān)，在此階段采用PXI模塊儀器有助于改進(jìn)生產(chǎn)率和降低對(duì)功能測試的要求。　　生產(chǎn)測試過程　　印刷電路板(PCB)生產(chǎn)和手機(jī)生產(chǎn)是兩個(gè)分開的制程。測試過程是從PCB生產(chǎn)線已裝滿
關(guān)鍵字：模塊儀器 VXI PXI 移動(dòng)電話

NI推出首款基于PXI的源測量單元和業(yè)界最高密度的PXI開關(guān)模塊

　　美國國家儀器宣布正式發(fā)布其第一款基于PXI的源測量單元(source measure uNIt，SMU)和業(yè)界最高密度的PXI開關(guān)模塊。這兩款產(chǎn)品將PXI平臺(tái)的應(yīng)用延伸至高精密度直流測試領(lǐng)域，如半導(dǎo)體參數(shù)測試及電子設(shè)備器件的驗(yàn)證。工程師們可以同時(shí)使用這兩款模塊在多管腳設(shè)備上掃描電壓和電流的特征參數(shù)，相比傳統(tǒng)的方式，具有輕便小巧、性價(jià)比高的優(yōu)點(diǎn)。　　NI PXI-4130源測量單元是一款可編程、靈活、高功率且適合高精度直流測試應(yīng)用的3U PXI模塊。其相互隔離的SMU通道，可提供包含4線遙感的四象限
關(guān)鍵字： NI

PXI射頻模塊儀表在手機(jī)生產(chǎn)測試上的應(yīng)用

　　如今的手機(jī)生產(chǎn)測試面臨越來越復(fù)雜的環(huán)境，一邊是多種頻段和多制式的挑戰(zhàn)，一邊是生產(chǎn)測試速度的壓力，同時(shí)還面臨測試成本的壓力。確定手機(jī)射頻參數(shù)和功能檢驗(yàn)測試的合適的深度和廣度是比較復(fù)雜的，它需要我們隨著生產(chǎn)線的變化，產(chǎn)品本身的成熟度的提升不斷尋找平衡點(diǎn)。射頻校準(zhǔn)在整個(gè)生產(chǎn)流程中，它是一個(gè)增加產(chǎn)品價(jià)值的步驟，它的測試要求直接與產(chǎn)品的設(shè)計(jì)有關(guān)。生產(chǎn)測試流程　　這里的生產(chǎn)測試不包括PCB（印刷電路板）生產(chǎn)，當(dāng)PCB投入到手機(jī)組裝線上時(shí)，生產(chǎn)測試流程開始，由此手機(jī)將經(jīng)歷5個(gè)操作步驟：　　&midd
關(guān)鍵字： PXI，射頻模塊儀表

2008年3月5日，NI中國慶祝成立十周年

　　2008年3月5日，NI(中國)有限公司十周年慶典在上海金茂大廈音樂廳隆重舉行。NI在中國的全體員工、合作伙伴以及客戶、供應(yīng)商、媒體代表數(shù)百人齊聚一堂，慶賀NI在中國走過的輝煌十年。
關(guān)鍵字： NI 測試測量

基于Labview & PXI的發(fā)動(dòng)機(jī)管理模塊測試

介紹：發(fā)動(dòng)機(jī)管理模塊作為汽車傳動(dòng)力控制的核心部件，其生產(chǎn)質(zhì)量檢測是保證整個(gè)產(chǎn)品生產(chǎn)過程完整的重要步驟。為了模擬發(fā)動(dòng)機(jī)特定的實(shí)際工作狀況，需要在同一系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)多輸入輸出信號(hào)的集成控制和采集。為此，我們使用NI公司的基于PXI總線及其部件的硬件平臺(tái)，配以虛擬儀器技術(shù)LabVIEW開發(fā)的軟件控制系統(tǒng)，設(shè)計(jì)了一套高度集成，穩(wěn)定可靠的自動(dòng)化測試系統(tǒng)。該測試系統(tǒng)由PXI測試儀，配線板，信號(hào)調(diào)理及通訊板，電源，負(fù)載箱，測試夾具組成。測試時(shí)操作員將模塊放入夾具后，掃描條碼后開始自動(dòng)測試。根據(jù)不同的車型編寫配置文件，完成對(duì)康
關(guān)鍵字： Labview ， PXI，發(fā)動(dòng)機(jī)管理模塊

基于LabVIEW和PXI的轉(zhuǎn)向架測試平臺(tái)

在城市軌道車輛轉(zhuǎn)向架測試中，需要測量大量的應(yīng)變、電壓和加速度等信號(hào)，這不僅要求數(shù)據(jù)的高速實(shí)時(shí)采集而且也要設(shè)備具有很高的穩(wěn)定性和可靠性。使用美國National Instruments 高效可靠的PXI 總線設(shè)備和LabVIEW 快速圖形開發(fā)環(huán)境，快速建立起的多功能轉(zhuǎn)向架測試平臺(tái)。實(shí)踐應(yīng)用證明，完全達(dá)到了系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)的各項(xiàng)要求。
關(guān)鍵字： LabVIEW，PXI，測試平臺(tái)

基于LabVIEW和PXI的軋機(jī)振動(dòng)紋在線監(jiān)診系統(tǒng)

本文采用PXI體系結(jié)構(gòu)，以NI公司的LabVIEW 6i為軟件開發(fā)平臺(tái)，結(jié)合Sound and Vibration Toolkit提供的強(qiáng)大的分析功能，對(duì)現(xiàn)場生產(chǎn)過程實(shí)現(xiàn)監(jiān)測診斷功能。該系統(tǒng)能在工業(yè)現(xiàn)場環(huán)境下穩(wěn)定可靠地實(shí)時(shí)采集振動(dòng)、工藝和設(shè)備參數(shù)，指導(dǎo)生產(chǎn)操作和設(shè)備維護(hù)，為提高鋼鐵產(chǎn)品的質(zhì)量提供手段。
關(guān)鍵字： LabVIEW，PXI，SCXI，帶鋼，振動(dòng)紋