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MOSFET和三極管ON狀態(tài)有什么區(qū)別?

  •   MOSFET和三極管,在ON 狀態(tài)時(shí),MOSFET通常用Rds,三極管通常用飽和Vce。那么是否存在能夠反過(guò)來(lái)的情況,三極管用飽和Rce,而MOSFET用飽和Vds呢?  三極管ON狀態(tài)時(shí)工作于飽和區(qū),導(dǎo)通電流Ice主要由Ib與Vce決定,由于三極管的基極驅(qū)動(dòng)電流Ib一般不能保持恒定,因而Ice就不能簡(jiǎn)單的僅 由Vce來(lái)決定,即不能采用飽和Rce來(lái)表示(因Rce會(huì)變化)。由于飽和狀態(tài)下Vce較小,所以三極管一般用飽和Vce表示?! OS管在ON狀態(tài)時(shí)工作于線性區(qū)(相當(dāng)于三極管的飽
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解析IGBT的工作原理及作用

  •   本文通過(guò)等效電路分析,通俗易懂的講解IGBT的工作原理和作用,并精簡(jiǎn)的指出了IGBT的特點(diǎn)??梢哉f(shuō),IGBT是一個(gè)非通即斷的開(kāi)關(guān),兼有MOSFET的高輸入阻抗和GTR的低導(dǎo)通壓降兩方面的優(yōu)點(diǎn)。   IGBT(絕緣柵雙極型晶體管),是由BJT(雙極型三極管)和MOS(絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管)組成的復(fù)合全控型電壓驅(qū)動(dòng)式功率半導(dǎo)體器件,兼有MOSFET的高輸入阻抗和GTR的低導(dǎo)通壓降兩方面的優(yōu)點(diǎn)。GTR飽和壓降低,載流密度大,但驅(qū)動(dòng)電流較大;MOSFET驅(qū)動(dòng)功率很小,開(kāi)關(guān)速度快,但導(dǎo)通壓降大,載流密度小。  
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【E問(wèn)E答】搞清楚MOS管的幾種“擊穿”?

  •   MOSFET的擊穿有哪幾種?  Source、Drain、Gate  場(chǎng)效應(yīng)管的三極:源級(jí)S 漏級(jí)D 柵級(jí)G  (這里不講柵極GOX擊穿了啊,只針對(duì)漏極電壓擊穿)  先講測(cè)試條件,都是源柵襯底都是接地,然后掃描漏極電壓,直至Drain端電流達(dá)到1uA。所以從器件結(jié)構(gòu)上看,它的漏電通道有三條:Drain到source、Drain到Bulk、Drain到Gate。  1) Drain->Source穿通擊穿:  這個(gè)主要是Drain加反偏電壓后,使得Drain/Bulk
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如何避免LLC諧振轉(zhuǎn)換器中的MOSFET出現(xiàn)故障

  •   為了降低能源成本,設(shè)備設(shè)計(jì)人員正在不斷尋找優(yōu)化功率密度的新方法。通常情況下,電源設(shè)計(jì)人員通過(guò)增大開(kāi)關(guān)頻率來(lái)降低功耗和縮小系統(tǒng)尺寸。由于具有諸多優(yōu)勢(shì)如寬輸出調(diào)節(jié)范圍、窄開(kāi)關(guān)頻率范圍以及甚至在空載情況下都能保證零電壓開(kāi)關(guān),LLC 諧振轉(zhuǎn)換器應(yīng)用越來(lái)越普遍。但是,功率 MOSFET 出現(xiàn)故障一直是LLC 諧振轉(zhuǎn)換器中存在的一個(gè)問(wèn)題。在本文中,我們將闡述如何避免這些情況下出現(xiàn)MOSFET 故障。   初級(jí) MOSFET 的不良體二極管性能可能導(dǎo)致一些意想不到的系統(tǒng)或器件故障,如在各種異常條件下發(fā)生嚴(yán)重的直通
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完全自保護(hù)MOSFET功率器件分析

  •   為了提高系統(tǒng)可靠性并降低保修成本,設(shè)計(jì)人員在功率器件中加入故障保護(hù)電路,以免器件發(fā)生故障,避免對(duì)電子系統(tǒng)造成高代價(jià)的損害。這通常利用外部傳感器、分立電路和軟件來(lái)實(shí)現(xiàn),但是在更多情況下,設(shè)計(jì)人員使用完全自保護(hù)的MOSFET功率器件來(lái)完成?! D1顯示了完全自保護(hù)MOSFET的一般拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。這些器件常見(jiàn)的其他特性包括狀態(tài)指示、數(shù)字輸入、差分輸入和過(guò)壓及欠壓切斷。高端配置包括片上電荷泵功能。但是,大多數(shù)器件都具備三個(gè)電路模塊,即電流限制、溫度限制和漏-源過(guò)壓箝制,為器件提供大部分的保護(hù)?! ?nbsp;&n
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功率MOSFET在正激式驅(qū)動(dòng)電路中的應(yīng)用簡(jiǎn)析

  •   功率MOSFET在目前一些大功率電源的產(chǎn)品設(shè)計(jì)中得到了廣泛的應(yīng)用,此前本文曾經(jīng)就幾種常見(jiàn)的MOSFET電路設(shè)計(jì)類型進(jìn)行了簡(jiǎn)單總結(jié)和介紹。在今天的文章中,本文將會(huì)就這一功率器件的另一種應(yīng)用方式,即有隔離變壓器存在的互補(bǔ)驅(qū)動(dòng)電路,進(jìn)行簡(jiǎn)要分析。  有隔離變壓器的互補(bǔ)驅(qū)動(dòng)電路作為一種比較常見(jiàn)的驅(qū)動(dòng)電路形式,在目前的家電產(chǎn)品設(shè)計(jì)中應(yīng)用較多,其典型電路結(jié)構(gòu)如圖1(a)所示。在圖1(a)所給出的電路結(jié)構(gòu)中,V1、V2為互補(bǔ)工作,電容C起隔離直流的作用,T1為高頻、高磁率的磁環(huán)或磁罐?! ?nbsp; 
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入門必看的MOSFET小功率驅(qū)動(dòng)電路知識(shí)分享

  •   功率器件MOSFET是目前應(yīng)用頻率最高的電子元件之一,也是很多電子工程師在入門學(xué)習(xí)時(shí)的重點(diǎn)方向。如果設(shè)計(jì)得當(dāng),MOSFET驅(qū)動(dòng)電路可以幫助工程師快速、高效、節(jié)能的完成電路系統(tǒng)的驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì),本文在這里將會(huì)分享一種比較常見(jiàn)的MOSFET驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)方案,該方案尤其適用于小功率電路系統(tǒng)的采用。  下圖中,圖1(a)所展示的是一種目前業(yè)內(nèi)比較常用的小功率MOSFET驅(qū)動(dòng)電路,這一電路系統(tǒng)的特點(diǎn)是簡(jiǎn)單可靠,且設(shè)計(jì)成本比較低,尤其適用于不要求隔離的小功率開(kāi)關(guān)設(shè)備。圖1(b)所示驅(qū)動(dòng)電路開(kāi)關(guān)速度很快,驅(qū)動(dòng)能力強(qiáng),為防
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Diodes 40V車用MOSFET適用于電機(jī)控制應(yīng)用

  •   Diodes公司 (Diodes Incorporated) 新推出的兩款40V車用MOSFET DMTH4004SPSQ及DMTH4005SPSQ溫度額定值高達(dá)+175°C,非常適合在高溫環(huán)境下工作。DMTH4004SPSQ旨在滿足水泵和燃油泵等超過(guò)750W的高功率無(wú)刷直流電機(jī)應(yīng)用的要求;DMTH4005SPSQ則適用于低功率無(wú)刷直流應(yīng)用,包括備用泵和暖通空調(diào)系統(tǒng)?! MTH4004SPSQ及DMTH4005SPSQ為滿足三相無(wú)刷直流電機(jī)控制應(yīng)用的嚴(yán)格要求,
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Fairchild新一代PowerTrench MOSFET提供一流性能

  •   全球領(lǐng)先的高性能功率半導(dǎo)體解決方案供應(yīng)商Fairchild (NASDAQ: FCS) 在2016年APEC上發(fā)布了新一代100V N溝道Power MOSFET旗艦產(chǎn)品——FDMS86181 100V屏蔽柵極PowerTrench? MOSFET。 FDMS86181是Fairchild新一代PowerTrench MOSFET系列的首款器件,能夠使需要100V MOSFET的電源、電機(jī)驅(qū)動(dòng)和其他應(yīng)用
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怎樣降低MOSFET損耗并提升EMI性能

  •   一、引言  MOSFET作為主要的開(kāi)關(guān)功率器件之一,被大量應(yīng)用于模塊電源。了解MOSFET的損耗組成并對(duì)其分析,有利于優(yōu)化MOSFET損耗,提高模塊電源的功率;但是一味的減少M(fèi)OSFET的損耗及其他方面的損耗,反而會(huì)引起更嚴(yán)重的EMI問(wèn)題,導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)不能穩(wěn)定工作。所以需要在減少M(fèi)OSFET的損耗的同時(shí)需要兼顧模塊電源的EMI性能?! 《?、開(kāi)關(guān)管MOSFET的功耗分析        MOSFET的損耗主要有以下部分組成:1.通態(tài)損耗;2.導(dǎo)通損耗;3.關(guān)斷損耗;4.驅(qū)動(dòng)
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【E課堂】MOSFET管驅(qū)動(dòng)電路基礎(chǔ)總結(jié)

  •   關(guān)于MOSFET很多人都不甚理解,這次小編再帶大家仔細(xì)梳理一下,也許對(duì)于您的知識(shí)系統(tǒng)更加全面。下面是對(duì)MOSFET及MOSFET驅(qū)動(dòng)電路基礎(chǔ)的一點(diǎn)總結(jié),其中參考了一些資料?! ≡谑褂肕OS管設(shè)計(jì)開(kāi)關(guān)電源或者馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電路的時(shí)候,大部分人都會(huì)考慮MOS的導(dǎo)通電阻,最大電壓等,最大電流等,也有很多人僅僅考慮這些因素。這樣的電路也許是可以工作的,但并不是優(yōu)秀的,作為正式的產(chǎn)品設(shè)計(jì)也是不允許的?! ?、MOS管種類和結(jié)構(gòu)  MOSFET管是FET的一種(另一種是JFET),可以被制造成增強(qiáng)型或耗盡型,P溝道或N
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同步降壓 MOSFET 電阻比的正確選擇

  •   進(jìn)行這種折中處理可得到一個(gè)用于 FET 選擇的非常有用的起始點(diǎn)。通常,作為設(shè)計(jì)過(guò)程的一個(gè)組成部分,你會(huì)有一套包括了輸入電壓范圍和期望輸出電壓的規(guī)范,并且需要選擇一些 FET。另外,如果你是一名 IC 設(shè)計(jì)人員,你還會(huì)有一定的預(yù)算,其規(guī)定了 FET 成本或者封裝尺寸。這兩種輸入會(huì)幫助您選擇總 MOSFET 芯片面積。之后,這些輸入可用于對(duì)各個(gè) FET 面積進(jìn)行效率方面的優(yōu)化。        圖 1 傳導(dǎo)損耗與 FET 電阻比和占空比相關(guān)   首先,F(xiàn)ET 電阻與其面積成反比例關(guān)系。
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看懂MOSFET數(shù)據(jù)表,第5部分—開(kāi)關(guān)參數(shù)

  •   最后,我們來(lái)到了這個(gè)試圖破解功率MOSFET數(shù)據(jù)表的“看懂MOSFET數(shù)據(jù)表”博客系列的收尾部分。在這個(gè)博客中,我們將花時(shí)間看一看MOSFET數(shù)據(jù)表中出現(xiàn)的某些其它混合開(kāi)關(guān)參數(shù),并且檢查它們對(duì)于總體器件性能的相關(guān)性(或者與器件性能沒(méi)什么關(guān)系)。   另一方面,諸如FET固有體二極管的輸出電荷 (QOSS) 和反向恢復(fù)電荷(Qrr) 等開(kāi)關(guān)參數(shù)是造成很多高頻電源應(yīng)用中大部分FET開(kāi)關(guān)損耗的關(guān)鍵因素。不好意思,我說(shuō)的這些聽(tīng)起來(lái)有點(diǎn)兒前言不搭后語(yǔ),不過(guò)設(shè)計(jì)人員在根據(jù)這些參數(shù)比較不同
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估算熱插拔 MOSFET 的瞬態(tài)溫升——第 2 部分

  •   在《估算熱插拔 MOSFET 的瞬態(tài)溫升——第 1 部分》中,我們討論了如何設(shè)計(jì)溫升問(wèn)題的電路類似方法。我們把熱源建模成了電流源。根據(jù)系統(tǒng)組件的物理屬性,計(jì)算得到熱阻和熱容。遍及整個(gè)網(wǎng)絡(luò)的各種電壓代表各個(gè)溫度?! ”疚闹校覀儼褕D 1 所示模型的瞬態(tài)響應(yīng)與圖 3 所示公開(kāi)刊發(fā)的安全工作區(qū)域(SOA 曲線)部分進(jìn)行了對(duì)比?! ?nbsp;     圖 1 將散熱容加到&nb
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估算熱插拔 MOSFET 的瞬態(tài)溫升——第 1 部分

  •   在本文中,我們將研究一種估算熱插拔 MOSFET 溫升的簡(jiǎn)單方法。  熱插拔電路用于將電容輸入設(shè)備插入通電的電壓總線時(shí)限制浪涌電流。這樣做的目的是防止總線電壓下降以及連接設(shè)備運(yùn)行中斷。通過(guò)使用一個(gè)串聯(lián)組件逐漸延長(zhǎng)新連接電容負(fù)載的充電時(shí)間,熱插拔器件可以完成這項(xiàng)工作。結(jié)果,該串聯(lián)組件具有巨大的損耗,并在充電事件發(fā)生期間產(chǎn)生溫升。大多數(shù)熱插拔設(shè)備的制造廠商都建議您查閱安全工作區(qū)域 (SOA) 曲線,以便設(shè)備免受過(guò)應(yīng)力損害。圖 1 所示 
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s7 mosfet介紹

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