si mosfet 文章 進(jìn)入si mosfet技術(shù)社區(qū)
基于NCL35076或NCL30076的高能效、高精度、高可靠性的可調(diào)光LED照明降壓方案
- 本文主要介紹安森美 (onsemi)的基于NCL35076連續(xù)導(dǎo)通模式 (CCM) DC-DC 降壓控制器的75 W方案和基于NCL30076準(zhǔn)諧振(QR)降壓控制器的100 W及240 W方案。兩款方案的典型應(yīng)用是LED照明系統(tǒng)、模擬/PWM可調(diào)光LED驅(qū)動(dòng)器,模擬調(diào)光范圍寬,從1%到100%。安森美專有的LED電流計(jì)算技術(shù)和內(nèi)部檢測及反饋放大器的零輸入電壓偏移,在整個(gè)模擬調(diào)光范圍內(nèi)進(jìn)行精確的穩(wěn)流,穩(wěn)流精度在滿載時(shí)<±2%,在1%的負(fù)載時(shí)<±20%。卓越的調(diào)光特性可根據(jù)負(fù)載情況在CCM (N
- 關(guān)鍵字: MOSFET
Microchip首款碳化硅MOSFET 可降低50%開關(guān)損耗
- 隨著對(duì)電動(dòng)公共汽車和其他電氣化重型運(yùn)輸車輛的需求增加,以滿足更低的碳排放目標(biāo),基于碳化硅的電源管理解決方案正在為此類運(yùn)輸系統(tǒng)提供更高效率。為了進(jìn)一步擴(kuò)充其廣泛的碳化硅MOSFET分離式和模塊產(chǎn)品組合,Microchip推出一款全新 ”生產(chǎn)就緒”的1200V數(shù)字柵極驅(qū)動(dòng)器,為系統(tǒng)開發(fā)人員提供多層級(jí)的控制和保護(hù),以實(shí)現(xiàn)安全、可靠的運(yùn)輸并滿足嚴(yán)格的行業(yè)要求。 Microchip推出首款碳化硅MOSFET數(shù)字柵極驅(qū)動(dòng)器,可降低50%開關(guān)損耗對(duì)于碳化硅電源轉(zhuǎn)換設(shè)備的設(shè)計(jì)人員來說,Microchip的Agi
- 關(guān)鍵字: Microchip 碳化硅 MOSFET
雙極結(jié)型晶體管——MOSFET的挑戰(zhàn)者
- 0? ?引言數(shù)字開關(guān)通常使用MOSFET 來創(chuàng)建,但是對(duì)于低飽和電壓的開關(guān)模型,雙極結(jié)型晶體管已成為不容忽視的替代方案。對(duì)于低電壓和低電流的應(yīng)用,它們不僅可以提供出色的電流放大效果,還具有成本優(yōu)勢(圖1)。圖1 雙極結(jié)型晶體管可為移動(dòng)設(shè)備提供更長的使用壽命 圖源:IB Photography/Shutterstock在負(fù)載開關(guān)應(yīng)用中,晶體管需要精確地放大基極電流,使輸出電壓接近零,以便僅測量晶體管的飽和電壓。MOSFET 通常用于這項(xiàng)用途,因?yàn)樗鼈儾恍枰魏蔚讓涌刂破髯鳛殡妷嚎刂平M件。
- 關(guān)鍵字: MOSFET 202109
使用無刷直流電機(jī)加速設(shè)計(jì)周期的3種方法
- 全球都在致力降低功耗,且勢頭愈來愈烈。許多國家/地區(qū)都要求家用電器(如圖 1 所示)滿足相關(guān)組織(如中國標(biāo)準(zhǔn)化研究院 (CNIS)、美國能源之星和德國藍(lán)天使)制定的效率標(biāo)準(zhǔn)。為了滿足這些標(biāo)準(zhǔn),越來越多的系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員在設(shè)計(jì)中放棄了簡單且易用的單相交流感應(yīng)電機(jī),轉(zhuǎn)而采用更節(jié)能的低壓無刷直流 (BLDC) 電機(jī)。為了實(shí)現(xiàn)更長的使用壽命和更低的運(yùn)行噪音,掃地機(jī)器人等小型家電的設(shè)計(jì)人員也轉(zhuǎn)而在他們的許多系統(tǒng)中使用更先進(jìn)的 BLDC 電機(jī)。同時(shí),永磁技術(shù)的進(jìn)步正不斷簡化 BLDC 電機(jī)的制造,在提供相同扭矩(負(fù)載)的
- 關(guān)鍵字: MOSFET BLDC
面向工業(yè)環(huán)境的大功率無線電力傳輸技術(shù)
- 1.?? 簡介隨著無線電力傳輸技術(shù)在消費(fèi)類電子產(chǎn)品中的日益普及,工業(yè)和醫(yī)療行業(yè)也把關(guān)注焦點(diǎn)轉(zhuǎn)移至這項(xiàng)技術(shù)及其固有優(yōu)勢。在如 WLAN 和藍(lán)牙(Bluetooth)等各項(xiàng)無線技術(shù)的推動(dòng)下,通信接口日益向無線化發(fā)展,無線電力傳輸技術(shù)也成為一種相應(yīng)的選擇。采用一些全新的方案,不僅能帶來明顯的技術(shù)優(yōu)勢,還能為新的工業(yè)設(shè)計(jì)開辟更多可能性。這項(xiàng)技術(shù)提供了許多新的概念,特別是在需要對(duì)抗腐蝕性清潔劑、嚴(yán)重污染和高機(jī)械應(yīng)力等惡劣環(huán)境的工業(yè)領(lǐng)域,例如 ATEX、醫(yī)藥、建筑機(jī)械等。比如,它可以替代昂貴且易損
- 關(guān)鍵字: MOSFET
仿真看世界之SiC MOSFET單管的并聯(lián)均流特性
- 開篇前言關(guān)于SiC MOSFET的并聯(lián)問題,英飛凌已陸續(xù)推出了很多技術(shù)資料,幫助大家更好的理解與應(yīng)用。此文章將借助器件SPICE模型與Simetrix仿真環(huán)境,分析SiC MOSFET單管在并聯(lián)條件下的均流特性。特別提醒仿真無法替代實(shí)驗(yàn),僅供參考。1、選取仿真研究對(duì)象SiC MOSFETIMZ120R045M1(1200V/45mΩ)、TO247-4pin、兩并聯(lián)Driver IC1EDI40I12AF、單通道、磁隔離、驅(qū)動(dòng)電流±4A(min)2、仿真電路Setup如圖1所示,基于雙脈沖的思路,搭建雙管并
- 關(guān)鍵字: MOSFET
功率半導(dǎo)體IGBT失效分析與可靠性研究
- 高端變頻空調(diào)在實(shí)際應(yīng)用中出現(xiàn)大量外機(jī)不工作,經(jīng)過大量失效主板分析確認(rèn)是主動(dòng)式PFC電路中IGBT擊穿失效,本文結(jié)合大量失效品分析與電路設(shè)計(jì)分析,對(duì)IGBT失效原因及失效機(jī)理分析,分析結(jié)果表明:經(jīng)過對(duì)IGBT失效分析及IGBT工作電路失效分析及整機(jī)相關(guān)波形檢測、熱設(shè)計(jì)分析、IGBT極限參數(shù)檢測對(duì)比發(fā)現(xiàn)IGBT失效由多種原因?qū)е?,IGBT在器件選型、器件可靠性、閂鎖效應(yīng)、驅(qū)動(dòng)控制、ESD能力等方面存在不足,逐一分析論證后從IGBT本身及電路設(shè)計(jì)方面全部提升IGBT工作可靠性。
- 關(guān)鍵字: 主動(dòng)式PFC升壓電路 IGBT SOA 閂鎖效應(yīng) ESD 熱擊穿失效 202108 MOSFET
羅姆即將亮相2021 PCIM Asia深圳國際電力元件、可再生能源管理展覽會(huì)
- 全球知名半導(dǎo)體制造商羅姆將于2021年9月9日~11日參加在深圳國際會(huì)展中心舉辦的PCIM Asia 2021深圳國際電力元件、可再生能源管理展覽會(huì)(展位號(hào):11號(hào)館B39),屆時(shí)將展示面向工業(yè)設(shè)備和汽車領(lǐng)域的、以世界先進(jìn)的SiC(碳化硅)元器件為核心的產(chǎn)品及電源解決方案。同時(shí),羅姆工程師還將在現(xiàn)場舉辦的“SiC/GaN功率器件技術(shù)與應(yīng)用分析大會(huì)”以及“電動(dòng)交通論壇”等同期論壇上發(fā)表演講,分享羅姆最新的碳化硅技術(shù)成果。展位效果圖羅姆擁有世界先進(jìn)的SiC為核心的功率元器件技術(shù),以及充分發(fā)揮其性能的控制IC和
- 關(guān)鍵字: MOSFET
了解熱阻在系統(tǒng)層級(jí)的影響
- 在電阻方面,電流流動(dòng)的原理可以比作熱從熱物體流向冷物體時(shí)遇到的阻力。每種材料及其接口都有一個(gè)熱阻,可以用這些數(shù)字來計(jì)算從源頭帶走熱的速率。在整合式裝置中,半導(dǎo)體接面是產(chǎn)生熱的來源,允許接面超過其最大操作溫度將導(dǎo)致嚴(yán)重故障。整合式裝置制造商雖使用一些技術(shù)來設(shè)計(jì)保護(hù)措施,以避免發(fā)生過熱關(guān)機(jī)等情況,但不可避免的是仍會(huì)造成損壞。一個(gè)更好的解決方案,就是在設(shè)計(jì)上選擇抑制 (或至少限制) 會(huì)造成接面溫度超過其操作最大值的情況。由于無法直接強(qiáng)制冷卻接面溫度,透過傳導(dǎo)來進(jìn)行散熱是確保不會(huì)超過溫度的唯一方法。工程師需要在這
- 關(guān)鍵字: MOSFET
BUCK轉(zhuǎn)換器的PCB布局設(shè)計(jì)
- 討論了BUCK轉(zhuǎn)換器的開通回路、關(guān)斷回路的電流特性,具有高電流變化率di/dt的輸入回路,以及具有高的電壓變化率dV/dt的開關(guān)節(jié)點(diǎn)是其關(guān)鍵回路和關(guān)鍵 節(jié)點(diǎn),使用盡可能小的環(huán)路,短粗布線,優(yōu)先對(duì)其進(jìn)行PCB布局。給出了多層板的信號(hào)分配原則,也給出了分立和集成的BUCK轉(zhuǎn)換器的PCB布局技巧和一些實(shí)例,分析了它們的優(yōu)缺點(diǎn)。
- 關(guān)鍵字: PCB布局 磁場干擾 電場干擾 MOSFET 202108
碳化硅邁入新時(shí)代 ST 25年研發(fā)突破技術(shù)挑戰(zhàn)
- 1996年,ST開始與卡塔尼亞大學(xué)合作研發(fā)碳化硅(SiC),今天,SiC正在徹底改變電動(dòng)汽車。為了慶祝ST研發(fā)SiC 25周年,我們決定探討 SiC在當(dāng)今半導(dǎo)體行業(yè)中所扮演的角色,ST的碳化硅研發(fā)是如何取得成功的,以及未來發(fā)展方向。Exawatt的一項(xiàng)研究指出,到2030年, 70%的乘用車將采用SiC MOSFET。這項(xiàng)技術(shù)也正在改變其他市場,例如,太陽能逆變器、儲(chǔ)能系統(tǒng)、服務(wù)器電源、充電站等。因此,了解SiC過去25年的發(fā)展歷程是極其重要的,對(duì)今天和明天的工程師大有裨益。碳化硅:半導(dǎo)體行業(yè)如何克服技術(shù)
- 關(guān)鍵字: MOSFET
Maxim Integrated發(fā)布來自Trinamic子品牌的3相MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)器,可最大程度地延長電池壽命并將元件數(shù)量減半
- TRINAMIC Motion Control GmbH & Co. KG (Maxim Integrated Products, Inc子公司)近日宣布推出完全集成的TMC6140-LA ?3相MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)器,有效簡化無刷直流(DC)電機(jī)驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì),并最大程度地延長電池壽命。TMC6140-LA 3相MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)器為每相集成了低邊檢流放大器,構(gòu)成完備的電機(jī)驅(qū)動(dòng)方案;與同類產(chǎn)品相比元件數(shù)量減半,且電源效率提高30%,大幅簡化設(shè)計(jì)。TMC6140-LA針對(duì)較寬的電壓范圍進(jìn)行性
- 關(guān)鍵字: MOSFET
電動(dòng)汽車用SiC和傳統(tǒng)硅功率元器件都在經(jīng)歷技術(shù)變革
- 近年來,在全球“創(chuàng)建無碳社會(huì)”和“碳中和”等減少環(huán)境負(fù)荷的努力中,電動(dòng)汽車(xEV)得以日益普及。為了進(jìn)一步提高系統(tǒng)的效率,對(duì)各種車載設(shè)備的逆變器和轉(zhuǎn)換器電路中使用的功率半導(dǎo)體也提出了多樣化需求,超低損耗的SiC 功率元器件(SiC MOSFET、SiC SBD等)和傳統(tǒng)的硅功率元器件(IGBT、SJ-MOSFET 等)都在經(jīng)歷技術(shù)變革。在OBC(車載充電機(jī))方面,羅姆以功率器件、模擬IC 以及標(biāo)準(zhǔn)品這三大產(chǎn)品群進(jìn)行提案。羅姆半導(dǎo)體(上海)有限公司 技術(shù)中心 副總經(jīng)理 周勁1? ?Si
- 關(guān)鍵字: MOSFET 202108
功率因素校正電路旁路二極管的作用
- 本文總結(jié)了功率因素校正電路加旁路二極管作用的幾種不同解釋:減少主二極管的浪涌電流;提高系統(tǒng)抗雷擊的能力;減少開機(jī)瞬間系統(tǒng)的峰值電流,防止電感飽和損壞功率MOSFET。具體分析了輸入交流掉電系統(tǒng)重起動(dòng),導(dǎo)致功率MOSFET驅(qū)動(dòng)電壓降低、其進(jìn)入線性區(qū)而發(fā)生損壞,才是增加旁路二極管最重要、最根本的原因。給出了在這種模式下,功率MOSFET發(fā)生損壞的波形和失效形態(tài),同時(shí)給出了避免發(fā)生這種損壞的幾個(gè)措施。
- 關(guān)鍵字: 功率因素校正 旁路二極管 線性區(qū) 欠壓保護(hù) 202103 MOSFET
簡易直流電子負(fù)載的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)*
- 隨著電力電子技術(shù)的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)負(fù)載測試電源性能的方法在高科技產(chǎn)品的生產(chǎn)中逐漸暴露出許多的不足之處。為了解決采用傳統(tǒng)負(fù)載測試方法存在功耗較大、效率與調(diào)節(jié)精度低、體積大等問題,設(shè)計(jì)并制作一款適合隨頻率、時(shí)間變化而發(fā)生改變的被測電源的簡潔、實(shí)用、方便的直流電子負(fù)載。系統(tǒng)主要由STC12C5A60S2單片機(jī)主控、增強(qiáng)型N溝道場效應(yīng)管IRF3205功率管、矩陣按鍵、D/A和A/D電路等部分組成。實(shí)現(xiàn)了在一定電壓與電流范圍內(nèi)恒壓恒流任意可調(diào),并通過LCD12864液晶顯示屏顯示被測電源的電壓值、電流值及相應(yīng)的設(shè)定值
- 關(guān)鍵字: STC12C5A60S2單片機(jī) 恒流恒壓 IRF3205 負(fù)載調(diào)整率 202105 MOSFET
si mosfet介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條si mosfet!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)si mosfet的理解,并與今后在此搜索si mosfet的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)si mosfet的理解,并與今后在此搜索si mosfet的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473