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傳感器+機(jī)器學(xué)習(xí),節(jié)省測(cè)試時(shí)間和成本

發(fā)布人:傳感器技術(shù) 時(shí)間:2024-08-10 來源:工程師 發(fā)布文章
傳感器的大規(guī)模應(yīng)用和機(jī)器學(xué)習(xí)的發(fā)展讓集中測(cè)試在一些影響力較大的領(lǐng)域成為了可能。

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機(jī)器學(xué)習(xí)和集成電路制造設(shè)備中結(jié)合了更多的傳感器,這為晶圓廠和封測(cè)代工廠對(duì)于針對(duì)性測(cè)試和更快吞吐量創(chuàng)造了新的可能性。
這種做法的目的是為了提高質(zhì)量,降低制造復(fù)雜芯片的成本。在最先進(jìn)的節(jié)點(diǎn)上,制造復(fù)雜芯片所需的時(shí)間正在增加。隨著晶體管數(shù)量的增加,更多的芯片被添加到電路板或封裝中,這導(dǎo)致了需要更多的時(shí)間去測(cè)試這些器件,也增加了總體成本,如果測(cè)試時(shí)間保持不變,就會(huì)降低被測(cè)設(shè)備在其生命周期內(nèi)的可靠性。所以,我們有必要區(qū)分哪些設(shè)備確實(shí)需要徹底測(cè)試,哪些設(shè)備已經(jīng)在硅材料中得到了充分的驗(yàn)證。這相當(dāng)于對(duì)一個(gè)測(cè)試套件進(jìn)行修剪,但是這個(gè)需要收集足夠有用的數(shù)據(jù)來進(jìn)行調(diào)用。在過去這很難做到,但是隨著更多傳感器的參與,生成了更多的數(shù)據(jù),我們就可以更細(xì)致的查看數(shù)據(jù)并從中進(jìn)行有效識(shí)別模式。PDF solutions公司表征解決方案副總裁DenNIs Ciplickas說:“如果能建立一個(gè)準(zhǔn)確率達(dá)到99.99%的模型來預(yù)測(cè)芯片何時(shí)會(huì)老化,那么你就可以跳過芯片老化的過程,從而節(jié)省成本?!辈还苣阍O(shè)定的比例是多少,20%、30%或50%的跳躍率都可以,這將節(jié)省老化成本。而且數(shù)據(jù)越多,預(yù)測(cè)就越準(zhǔn)確。困難在于如何連接正確的數(shù)據(jù)來實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)。所以如果你所有的數(shù)據(jù)都在封測(cè)代工廠上運(yùn)行,從晶圓排序、組裝,到最后的測(cè)試都在那里,你就可以整合所有的數(shù)據(jù)并從中做出預(yù)測(cè)。但如果你在不同的地方進(jìn)行的這些工序,那就必須從多個(gè)地點(diǎn)合并數(shù)據(jù),這就需要一個(gè)系統(tǒng)來做到這一點(diǎn)?!崩匣瘻y(cè)試用于檢測(cè)芯片中各種元件的早期故障。在過去,這類數(shù)據(jù)是通過數(shù)據(jù)交換共享的,雖然有用,但還不足以消除測(cè)試。Ciplickas說:“最初,數(shù)據(jù)交換網(wǎng)絡(luò)背后的初衷是建立一個(gè)數(shù)據(jù)庫(kù),這樣你就可以看到你的供應(yīng)鏈?!薄皺C(jī)器學(xué)習(xí)現(xiàn)在可以讓你把許多不同的功能放在一起,來做一些新的事情,比如預(yù)測(cè)。”所以通過從傳感器獲得的數(shù)據(jù),就可以控制老化成本。下一個(gè)步驟是使數(shù)據(jù)能夠以連貫、連接的方式一起流經(jīng)不同的站點(diǎn),通過這些來進(jìn)行預(yù)測(cè)?!睂?shí)際上,這就是一種將全流程的各種組件描述的更加精細(xì),并精確地消除不必要的測(cè)試。OptimalPlus副總裁兼總經(jīng)理Doug Elder表示:“現(xiàn)在,你可以在進(jìn)行晶圓排序和最終測(cè)試的豎井中連接所有數(shù)據(jù)源,以確定故障來自何處。你可以減少你的測(cè)試集和疑似老化的區(qū)域,你也可以運(yùn)行機(jī)器學(xué)習(xí)算法來修復(fù)測(cè)試和改進(jìn)你的方法?!痹谶^去,在現(xiàn)場(chǎng)實(shí)施之后,可能需要幾個(gè)月或幾年的時(shí)間才能顯現(xiàn)出生產(chǎn)問題。其中一些問題可以通過軟件來解決,比如智能手機(jī)的天線問題,在技術(shù)被取代之前,這些問題一直運(yùn)行良好。但隨著越來越多的芯片被用于工業(yè)和汽車應(yīng)用上,這種方法已經(jīng)不再適用。Elder表示:“如果你能在檢查中或老化階段發(fā)現(xiàn)這些問題,那么你就能將老化測(cè)試時(shí)間減少10%到20%?!薄斑@對(duì)制造商來說是個(gè)很大的數(shù)字。在實(shí)時(shí)情況下,通過查看自適應(yīng)測(cè)試時(shí)間的減少量,估測(cè)哪些測(cè)試沒有失敗。這樣就可以減少測(cè)試時(shí)間,并且你可以通過一個(gè)閉環(huán)系統(tǒng)將其添加回測(cè)試循環(huán)中,該系統(tǒng)可以包含從晶圓排序到最終測(cè)試的所有內(nèi)容。此外,重新測(cè)試也會(huì)增加我們的額外成本。但在損壞之前,你能重新測(cè)試多少次呢?其中一個(gè)案例:一個(gè)設(shè)備被重新測(cè)試了17次,直到最終通過測(cè)試?!?可以看出,這對(duì)正在測(cè)試的設(shè)備來說并不是好事,既昂貴又耗時(shí)。在晶圓廠,每分每秒都有成本。更好的數(shù)據(jù),更好的結(jié)果“好的”數(shù)據(jù)在不同的市場(chǎng)可能意味著不同的東西,甚至常常在同一個(gè)市場(chǎng)中也是如此。數(shù)據(jù)之所以有用,是因?yàn)樗鼘?duì)特定的操作、過程或設(shè)備都有效。但需要大量的專業(yè)領(lǐng)域知識(shí)來做此決定。yieldHUB首席執(zhí)行官John O’Donnell表示:“我們發(fā)現(xiàn)一些較小的公司并不是在每個(gè)領(lǐng)域都有專長(zhǎng)?!薄坝绕涫窃谄囶I(lǐng)域,有些公司可能在設(shè)計(jì)方面很強(qiáng)大,但在測(cè)試方面就沒那么精通?!边@就給復(fù)雜的芯片設(shè)計(jì)帶來了一個(gè)問題,久而久之,對(duì)芯片來說,問題將變得更加關(guān)鍵。但它也突顯了貫穿整個(gè)設(shè)計(jì)到制造鏈的一個(gè)挑戰(zhàn),即確保參與其中的人都能理解其他工序的工作。“有人可能會(huì)問,‘我們真的需要把時(shí)間花在這塊嗎?重要的是團(tuán)隊(duì)中的每個(gè)人都必須看清這一點(diǎn),” Donnell解釋到:“你可能是某個(gè)芯片特定部分的專家,而不是另一個(gè)部分的專家,所以你就需要合作和分析,還要在知識(shí)庫(kù)中進(jìn)行維護(hù)。這使得你對(duì)特定領(lǐng)域有了足夠的信心,你可以將你的知識(shí)添加到系統(tǒng)分析中,以此減少測(cè)試數(shù)量所需的成本。確保數(shù)據(jù)質(zhì)量的另一種方法是對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行連續(xù)饋送。因此,與所有外部數(shù)據(jù)不同,其中一些數(shù)據(jù)可以在設(shè)備運(yùn)行時(shí)進(jìn)行測(cè)量。proteanTecs的首席執(zhí)行官Shai Cohen說:“有了在線數(shù)據(jù),你就能不斷提高性能,做出正確的決定。”“在工序和內(nèi)存中你都可以權(quán)衡參數(shù)缺陷。這提供了很高的覆蓋率,但是你需要添加多維代理,這些代理可以通過機(jī)器學(xué)習(xí)進(jìn)行測(cè)量和處理?,F(xiàn)在你可以為特定的設(shè)計(jì)配備代理,重建數(shù)據(jù),以便更好地了解正在發(fā)生的事情?!?span style="margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; box-sizing: border-box !important; overflow-wrap: break-word !important; color: rgb(0, 82, 255);">空空如也,垃圾滿天飛
傳感器不夠精確,不要緊。以波音737 MAX為例,故障傳感器可能是兩起墜機(jī)和一系列恐慌背后的罪魁禍?zhǔn)?。其中一個(gè)問題是,數(shù)據(jù)需要更廣泛地共享,才能識(shí)別錯(cuò)誤,而系統(tǒng)供應(yīng)商往往將這些數(shù)據(jù)作為競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)加以保護(hù)。"在測(cè)試方面,我們一般遵循標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試去設(shè)計(jì)芯片,但原始設(shè)備制造商對(duì)此缺乏足夠的信任?!癗ational Instruments運(yùn)輸部門首席解決方案經(jīng)理Doug Farrell表示?!八麄儾辉敢夥窒頂?shù)據(jù),這種情況必須改變,因?yàn)槟悴豢赡茉谝患夜纠飺碛幸磺?。在自?dòng)駕駛方面尤其如此,一級(jí)汽車制造商和原始設(shè)備制造商正在進(jìn)行激烈的競(jìng)爭(zhēng)。”所以我們只有不斷的測(cè)試傳感器,以確保數(shù)據(jù)的質(zhì)量。Farrell說:“對(duì)于操作車隊(duì)的人來說,他們可以在換班結(jié)束時(shí)對(duì)傳感器進(jìn)行診斷,并對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)?!薄昂枚喙咎^了中間步驟,直接從純粹的模擬轉(zhuǎn)向?qū)鞲衅靼惭b在汽車上,因此診斷是必不可少的。”為防止將來出現(xiàn)問題,數(shù)據(jù)本身也要存儲(chǔ)。PDF的Ciplickas說:“我們?cè)噲D避免的是無聲數(shù)據(jù)的破壞?!薄爱?dāng)這種事發(fā)生的時(shí)候,你無法預(yù)測(cè)?!睂?duì)于安全關(guān)鍵型應(yīng)用程序,結(jié)果可能比這糟糕得多?,F(xiàn)在,這些設(shè)備的功能帶來了責(zé)任,而數(shù)據(jù)是確定哪里出了問題以及原因的最佳方法。OptimalPlus電子部門總經(jīng)理Uzi Baruch表示:“汽車行業(yè)與半導(dǎo)體行業(yè)的根本區(qū)別在于,測(cè)試只是汽車行業(yè)的一個(gè)載體?!薄斑@比你通常在半導(dǎo)體行業(yè)看到的要多,不僅限于電子產(chǎn)品,這是一條完整的裝配線,有多個(gè)接觸點(diǎn)?!?span style="margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; box-sizing: border-box !important; overflow-wrap: break-word !important; color: rgb(0, 82, 255);">設(shè)計(jì)檢查檢查在高級(jí)節(jié)點(diǎn)和某些類型的高級(jí)封裝中變得越來越困難。因此,人們要在更多的地方安裝更多的傳感器——無論是在設(shè)備中還是在封裝中——并要使這些傳感器更小、更快、功耗更低。CyberOptics首席執(zhí)行官Subodh Kulkarni表示:“目前晶圓廠和封測(cè)代工廠已經(jīng)在進(jìn)行抽樣檢測(cè)?!薄艾F(xiàn)在我們正在對(duì)封裝進(jìn)行功能檢查。問題是在我們進(jìn)行100%的檢查之前會(huì)有多少放射性塵埃。但由于封裝太貴了,有必要對(duì)其進(jìn)行合理的成本檢查。”隨著新材料的引入和新結(jié)構(gòu)的加入,這種檢查會(huì)變得更加困難。此外,由于漫射光不同于其他物質(zhì),所以不同的材料需要不同的檢查技術(shù)。Kulkarni指出,這兩種方法都需要重新校準(zhǔn)光學(xué)攝像機(jī)等檢查設(shè)備。他說:“這讓先進(jìn)的封裝檢驗(yàn)和模塊檢驗(yàn)變得越來越困難,尤其像HBM?!薄霸谶^去,2D檢查就足夠了?,F(xiàn)在你需要對(duì)存儲(chǔ)模塊進(jìn)行3D光學(xué)檢查?!边@將花費(fèi)更多的時(shí)間,生成更多需要分析的數(shù)據(jù)。在制造業(yè)中,將傳感器數(shù)據(jù)和機(jī)器學(xué)習(xí)結(jié)合使用的方法剛剛興起,但是提高質(zhì)量和減少測(cè)試時(shí)間的機(jī)會(huì)是巨大的。這也有助于減少冗余的設(shè)計(jì),這在部件、功率和重量方面都是難能可貴的。proteanTecs首席商務(wù)官Raanan Gewirtzman表示:“我們的目標(biāo)是終止增長(zhǎng)的冗余?!睂?duì)于ISO 26262規(guī)定尤其重要,因?yàn)樗枰欢ǔ潭鹊娜哂唷5覀兛梢酝ㄟ^增加更好的測(cè)量代理來解決?!边@需要用一種完全不同的方式來看待和使用數(shù)據(jù),但是以更少的成本提供更好的覆蓋范圍的前景得到了多方的關(guān)注,最大的問題是這種方法能擴(kuò)展到什么程度。


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