香港科技大學在高交會中展示其RFID基準測試技術研究成果

　　香港科技大學計算機科學及工程學系于第十一屆中國國際高新技術成果交易會中展示射頻識別技術基準測試方法學的研究，并與商界交流及分享研究成果。

　　射頻識別技術基準測試方法學的研究范疇廣泛，而「多天線多標簽」測試研究則為其中一個應用范圍，亦是該系在今屆交易會中所展示的主要項目。于展會期間，研究人員向在場參觀的廠商、學術界人士講解研究項目的目標及研究過程，并分享研究測試中所遇的挑戰(zhàn)和所得的成果。研究小組期望把項目的研究結果和心得跟業(yè)界交流，以協(xié)助商界解決在應用射頻識別技術上的問題，藉以鼓勵不同的業(yè)界使用射頻識別技術，推動技術的發(fā)展。

　　當射頻識別技術應用于商界作業(yè)時，經(jīng)常要面對同時使用多個天線及標簽的實際操作環(huán)境，而「多天線多標簽」的測試研究能夠模仿常見的射頻識別技術的應用環(huán)境，測試使用多個天線及多個標簽時的數(shù)據(jù)採集結果，以基準測試方法來減少或消除各種能影響射頻識別設備的因素，從而掌握最優(yōu)的天線及貨品擺放位置。此外，在射頻識別技術的應用上，技術的性能經(jīng)常受不同因素所影響，例如天線高度、標簽密度、天線的數(shù)量、讀取距離、包裝等等。因此，「多天線多標簽」測試研究能協(xié)助解決由環(huán)境、材料和設備所造成的限制，并確保所有的標簽都能被正確地識別。

　　香港科技大學計算機科學及工程學系獲香港創(chuàng)新科技署及香港物流及供應鏈管理應用技術研發(fā)中心資助，致力于射頻識別技術的基準測試研究，并推動技術在商界的廣泛應用。今屆中國國際高新技術成果交易會于深圳會展中心舉行，展期為11月16日至21日。