在射頻產(chǎn)品設(shè)計中將仿真與測量相結(jié)合
當(dāng)前的EDA軟件的一個新特性是能夠不斷提高EDA環(huán)境和測試軟件間軟件之間連通性。更具體地說,這種連通性能夠?qū)崿F(xiàn):(1)現(xiàn)代的EDA軟件環(huán)境推動測量軟件的發(fā)展,以及(2)測量自動化環(huán)境能夠?qū)崿F(xiàn)EDA設(shè)計環(huán)境的自動化。
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/136704.htm連通設(shè)計和測試軟件環(huán)境的好處之一是,它允許設(shè)計工程師在設(shè)計過程的早期階段就使用更為豐富的測量算法。這不僅讓工程師在設(shè)計過程中及早地了解其設(shè)計相關(guān)的重要信息,而且還能夠?qū)碜则炞C/確認(rèn)過程的測量數(shù)據(jù)與仿真建立關(guān)聯(lián)。增加EDA和測試環(huán)境的連通性的第二個好處是,它允許測試工程師在設(shè)計過程中更快地開發(fā)工作測試代碼——最終減少復(fù)雜產(chǎn)品的上市時間。
EDA豐富了測量的內(nèi)容
EDA和測試軟件的連通性改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計過程的方法之一是提供了更豐富的測量。從根本上說,EDA工具使用行為模型來預(yù)測新設(shè)計產(chǎn)品的行為。但可惜的是,仿真設(shè)計的驗證所使用的測量標(biāo)準(zhǔn),與用于驗證最終產(chǎn)品的測量標(biāo)準(zhǔn)完全不同——這使得關(guān)聯(lián)仿真和測量數(shù)據(jù)變得相當(dāng)困難。
一個日益明顯的趨勢是:在設(shè)計和測試過程中使用相同的工具鏈——這種趨勢最終能夠使工程師將測量結(jié)果及早引入到設(shè)計流程中。
例如,考慮一個蜂窩多模式RF功率放大器的設(shè)計案例。過去,這種類型的放大器使用RF EDA工具來設(shè)計和建模,如AWR Microwave Office。在EDA環(huán)境中,工程師們通常“測量”RF的特性,如效率、1-dB壓縮點,并通過仿真獲取這些參數(shù)。但是,最終的產(chǎn)品必須應(yīng)用額外的RF測量標(biāo)準(zhǔn),以符合公開發(fā)布的蜂窩通信標(biāo)準(zhǔn),例如,GSM/EDGE、 WCDMA、和 LTE。
從過去來看,針對特定標(biāo)準(zhǔn)的參數(shù)測量數(shù)據(jù),例如LTE標(biāo)準(zhǔn)的誤差向量幅度(EVM)和相鄰信道泄露比(ACLR),都需要連接被測設(shè)備的測量儀器,因為其測量方法非常復(fù)雜。而展望未來,由于EDA軟件和自動化軟件之間的連通性,能夠在EDA環(huán)境中的仿真設(shè)備上實現(xiàn)這些復(fù)雜的測量算法, 因此,工程師能夠及早地在設(shè)計階段就識別出系統(tǒng)相關(guān)的或者復(fù)雜產(chǎn)品相關(guān)的問題,從而大大地縮短產(chǎn)品的設(shè)計時間。
產(chǎn)品開發(fā)流程的并行化
將設(shè)計和測試過程連通的另一個趨勢是:使用EDA生成的行為模型,可加速產(chǎn)品驗證/確認(rèn)過程和生產(chǎn)測試軟件的開發(fā)。過去,導(dǎo)致產(chǎn)品設(shè)計過程中效率低下的原因之一就是:對于一個特定的產(chǎn)品,只有在完成第一個物理原型后,才能夠開始開發(fā)測試代碼。
改進(jìn)這一過程的方法之一就是:針對一個特定的產(chǎn)品設(shè)計,建立其軟件原型,并將其作為編寫特性測試或產(chǎn)品測試代碼時的待測設(shè)備(DUT)。通過這一方法,特性測試或產(chǎn)品測試軟件的開發(fā)過程能夠與產(chǎn)品的設(shè)計過程并行,從而減少產(chǎn)品投向市場的總體時間。
以Medtronic公司的工程師在最近的一個起搏器產(chǎn)品設(shè)計過程中所使用的方法為例,他們采用了一個新的軟件工具,將Mentor Graphics EDA環(huán)境與NI LabVIEW軟件連通。在連通這兩個軟件環(huán)境之后,Medtronic公司的工程師可以在生產(chǎn)出實際的產(chǎn)品之前,就開始著手建立一個測試工作站。這種設(shè)計方法所實現(xiàn)的固有的并行機(jī)制,能夠讓工程師比過去更快地將產(chǎn)品推向市場。
Mentor Graphics公司系統(tǒng)工程部門的副總裁Serge Leef指出:“將EDA工具和我們的測試軟件連通,能夠在開發(fā)產(chǎn)品的同時開發(fā)測試工作站,并將測試結(jié)果更早地反饋至開發(fā)過程中,通過開發(fā)過程與測試過程的并行運行,而非串行運行,大大地縮短產(chǎn)品設(shè)計周期。”
評論