嵌入式系統(tǒng)中存儲器性能研究
加入技術(shù)交流群
2 測試用數(shù)據(jù)
由前節(jié)討論可知，動態(tài)內(nèi)存除了內(nèi)存單元，還有地址譯碼器，選擇器，控制器，放大器等部件。為此針對不同的部件，設(shè)計(jì)了不同的數(shù)據(jù)和讀寫方式來進(jìn)行測試。
2．1 普通數(shù)據(jù)
普通數(shù)據(jù)就是全“0”或者全“1”。寫入全“0”或者全“1”的數(shù)據(jù)，然后讀取校驗(yàn)，來驗(yàn)證內(nèi)存單元是否正常工作。
2．2 棋盤數(shù)據(jù)
圖4表示了棋盤數(shù)據(jù)。在內(nèi)存單陣列中寫入如國際象棋棋盤一樣的數(shù)據(jù)。由于與每一位數(shù)據(jù)相鄰的數(shù)據(jù)都不一樣，棋盤數(shù)據(jù)可以用來檢測內(nèi)存單元間的泄漏。本文引用地址：http://butianyuan.cn/article/149522.htm
2．3 行帶狀數(shù)據(jù)
圖5表示了行帶狀數(shù)據(jù)。采用行帶狀數(shù)據(jù)可以檢測Word線之間的泄漏。
2．4 列帶狀數(shù)據(jù)
圖6表示了列帶狀數(shù)據(jù)，用來檢測Bit線(數(shù)據(jù)線)之間的泄漏。
2．5 移位數(shù)據(jù)
讀取內(nèi)存數(shù)據(jù)時，Word線選中一行內(nèi)存單元，數(shù)據(jù)還要通過選擇器，經(jīng)過列地址選擇，到達(dá)數(shù)據(jù)線。使用移位數(shù)據(jù)，使得每次只有一個數(shù)據(jù)引腳為1，其余都為0，檢測相互是否有影響。
評論