基于ARM Cortex-M3的過采樣技術(shù)

文中在通過對(duì)過采樣技術(shù)的分析，將此技術(shù)應(yīng)用在TI公司LM3S8962片內(nèi)ADC上，在不使用昂貴片外ADC的情況下同樣獲得較高的分辨率。既節(jié)約了成本，又節(jié)省電路板空間，同時(shí)也提高了系統(tǒng)整體可靠性。

1 過采樣技術(shù)分析
1．1 過采樣原理
過采樣是對(duì)待測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行多次采樣，獲取樣本數(shù)據(jù)，累計(jì)求和這些樣本數(shù)據(jù)，并對(duì)它們均值濾波，減小噪聲后最終獲得采樣結(jié)果。過采樣在一定條件下能夠提高信噪比(SNR)，同時(shí)使噪聲減弱，從而提升測(cè)量分辨率。過采樣技術(shù)將采樣頻率提高到被采樣頻率的4倍，能過濾掉高于3fb的分量，用數(shù)字濾波器過濾fb～3fb的分量，最終有用分量被完全保存下來。若采取足夠多次采樣，則能重現(xiàn)原始信號(hào)。式(1)是過采樣的頻率要求

式(1)中，F(xiàn)o為過采樣頻率；n為希望增加的分辨率位數(shù)；fb為初始采樣頻率要求。
1．2 過采樣與噪聲、分辨率的關(guān)系
在提出過采樣與噪聲的對(duì)應(yīng)關(guān)系之前，對(duì)量化噪聲作一簡單描述。量化誤差是由相鄰ADC碼的間距所決定，因此相鄰ADC碼之間的距離為

式(2)中，N為ADC碼的位數(shù)；Vr為基準(zhǔn)電壓。式(3)為量化誤差ed的關(guān)系式。
奈奎斯特定理指出，如果被測(cè)信號(hào)的頻帶寬度小于采樣頻率的1／2，那么可以重建此信號(hào)?，F(xiàn)用白噪聲近似描繪實(shí)際信號(hào)中的噪聲，在信號(hào)頻帶中的噪聲能量譜密度為

式(4)中，e(f)為帶內(nèi)能量譜密度；ea為平均噪聲功率；fs為采樣頻率。

ADC量化噪聲的功率關(guān)系如式(5)所示。由于量化噪聲會(huì)引發(fā)固定噪聲功率，因此針對(duì)增加的有效位數(shù)能夠計(jì)算過采樣比

式(6)中P為過采樣比；fs為采樣頻率；fm為輸入信號(hào)最高頻率。低通濾波器輸出端的帶內(nèi)噪聲功率見式(7)。其中n2是濾波器輸出的噪聲功率

由此可見，過采樣能減少噪聲功率卻又對(duì)信號(hào)功率不產(chǎn)生影響，在減小量化誤差的同時(shí)，能夠獲得與高分辨率ADC相同的信噪比，從而增加被測(cè)數(shù)據(jù)的有效位數(shù)。通過提高采樣頻率或過采樣比可提高ADC有效分辨率。

2 過采樣滿足條件及操作步驟
對(duì)于過采樣，理論上需要信號(hào)有一定噪聲，并且必須近似白噪聲，幅度足夠大。若噪聲信號(hào)不能滿足前面講述的理論要求，就需要引入噪聲激勵(lì)。因此，選用周期性噪聲作為激勵(lì)信號(hào)。同時(shí)對(duì)激勵(lì)噪聲有一定要求：激勵(lì)噪聲幅度≥1 LSB；噪聲均值在添加激勵(lì)噪聲時(shí)必須是0。
在理解過采樣理論及需要滿足的條件后，出于對(duì)具體應(yīng)用的考慮，設(shè)計(jì)了過采樣的操作步驟，概括如下：
(1)判斷被采樣信號(hào)是否有噪聲，如果沒有噪聲，則疊加周期性激勵(lì)噪聲。
(2)對(duì)信號(hào)進(jìn)行4n次過采樣(n為希望增加的分辨率位數(shù))。如果使用片內(nèi)10位ADC，希望得到14位的ADC精度，則需要44即256次10位的過采樣。
(3)抽取數(shù)字序列，對(duì)各個(gè)采樣值進(jìn)行累加。
(4)對(duì)累加后的采樣數(shù)據(jù)，若提高n位精度則右移n位，最終得到過采樣值。