利用頻譜分析來限制RF功率和寄生噪聲輻射
在固件中,頻譜分析儀將
檢測模式是另一種幅度控制方式,可用于傳統(tǒng)的掃描頻譜分析儀,但不能用于基于FFT的分析儀。可分為普通、峰值、采樣或負(fù)峰值等模式,具體檢測模式?jīng)Q定了頻譜分析儀如何減
少頻譜信息的,或者說如何壓縮頻譜信息。
另外它還影響總的功率測量。當(dāng)頻譜數(shù)據(jù)點(diǎn)超過頻譜分析儀所能顯示的點(diǎn)數(shù)時,分析儀將從數(shù)據(jù)減少策略中獲益。這將使檢測模式改變功率測量。
表2:頻譜分析儀測量模式能夠影響功率測量結(jié)果
影響精度的因素
頻譜分析儀采用起始和終止頻率之間的頻率掃描。一個模擬斜坡信號產(chǎn)生該頻率掃描信號,而起始頻率由來自高精度的時間基準(zhǔn)信號合成。于是,測量精度由模擬斜坡信號和IF濾波器的中心頻率所決定。
基于FFT的分析儀,沒有這樣的模擬斜坡信號,故沒有這些因素的限制,從而在整個測量范圍內(nèi)具有一致的精度。范圍內(nèi)的精度則取決于時基和測量算法,故可以比較容易地獲得頻率精度和重復(fù)性。
在傳統(tǒng)型掃描分析儀中,頻率誤差的原因包括基準(zhǔn)頻率誤差,頻率范圍精度(范圍的5%)和RBW(RBW的15%)。相應(yīng)地,在基于FFT的分析儀中的頻率誤差則包括基準(zhǔn)頻率誤差和RBW,具體取決于測量算法,變化范圍為RBW的>50%到10%之間。
為了比較這些誤差,就必須忽略基準(zhǔn)頻率誤差,這是因?yàn)榭梢允褂靡粋€像銣時鐘這類的精密頻率源來對其進(jìn)行補(bǔ)償。在掃頻式頻譜分析儀中,當(dāng)頻率范圍大于 50kHz以及RBW設(shè)置超過1kHz時,測量性能將受到影響,除非采用最優(yōu)化的技術(shù),例如將100MHz的頻率放置到頻率范圍的中心。
如果采用較小的RBW,意味著測試時間的拉長,這是因?yàn)閽呙钑r間的問題,因?yàn)橥ǔ5念l譜分析儀中需要150-200ms的掃描時間。測量算法限定了基于FFT的分析儀的測量精度。例如,先進(jìn)的光譜測量分析工具包中采用了內(nèi)插技術(shù),可實(shí)現(xiàn)比RBW能夠?qū)崿F(xiàn)的更高分辨率,就像上述的例子中,RBW設(shè)置到2kHz將會保證更高的精度。
基于FFT的分析儀采用可以實(shí)現(xiàn)精確測量的高RBW設(shè)置,即便是沒有利用精度優(yōu)化的測量技術(shù)。這意味著在相同的測試時間內(nèi)可以實(shí)現(xiàn)更快和更精密的測量。信號分析儀能夠執(zhí)行長度小于20ms的測試樣本,這比頻譜分析儀高6倍。
除非采用了合適的測量設(shè)置,否則即便是對于同一臺測試儀器,也會導(dǎo)致的測量結(jié)果很大變化。因此,深入理解工作原理對正確地設(shè)置測量儀器來說是至關(guān)重要的。
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