高頻電子標(biāo)簽干擾問題分析

近幾年，13.56MHz的高頻RFID技術(shù)由于性能穩(wěn)定、價(jià)格合理，此外其讀取距離范圍和實(shí)際應(yīng)用的距離范圍相匹配，因而在公交卡、手機(jī)支付方面的應(yīng)用得到廣泛的應(yīng)用，尤其是在韓國、日本等地。下面兩張圖片，圖1為韓國某餐館用手機(jī)支付就餐費(fèi)用的實(shí)例，圖2為電子標(biāo)簽貼合在手機(jī)電池上的圖片。

　　圖 1手機(jī)通過RFID讀卡器進(jìn)行交費(fèi)

　　圖 2手機(jī)電池上的13.56MHz電子標(biāo)簽

　　圖 3手機(jī)電池上的13.56MHz電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)圖

　　圖1和圖3所示的手機(jī)交費(fèi)方法是通過13.56MHz RFID無線射頻識(shí)別系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的。該應(yīng)用的RFID智能標(biāo)簽就是貼在手機(jī)電池殼上，這樣可以最大程度地節(jié)約空間。此類RFID手機(jī)應(yīng)用在日韓等國是相當(dāng)普遍的。中國雖然在高頻RFID的研究和應(yīng)用方面相對(duì)韓日起步稍晚。近兩年，隨著配套設(shè)備的逐步健全和人們對(duì)RFID系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)的認(rèn)識(shí)加深，國內(nèi)的RFID技術(shù)的開發(fā)和應(yīng)用已經(jīng)有了突飛猛進(jìn)的發(fā)展。

　　然而，隨著RFID的應(yīng)用日漸廣泛, 其干擾破壞問題越來越突出。其破壞作用主要表現(xiàn)在兩個(gè)方面：1>識(shí)別距離遠(yuǎn)低于設(shè)計(jì)距離; 2>讀卡器和電子標(biāo)簽不響應(yīng)，讀取失敗。在實(shí)際的高頻RFID電子標(biāo)簽應(yīng)用中，我們需要著重考慮13.56MHz的RFID電子標(biāo)簽的貼合位置，由于標(biāo)簽尺寸較大，而實(shí)際允許的空間有限等原因，電子標(biāo)簽需要直接貼附在金屬表面上或同金屬器件相臨近的位置，如手機(jī)用的13.56MHz的RFID智能標(biāo)簽，因?yàn)榭臻g問題，就經(jīng)常直接集成在電池鋁合金沖壓外殼上,這樣以來，在識(shí)別過程中，電子標(biāo)簽易受電池鋁合金金屬?zèng)_壓外殼的渦流干擾，致使RFID標(biāo)簽的實(shí)際有效讀距離大大縮短或者干脆就不發(fā)生響應(yīng)，讀取徹底失敗。實(shí)踐證明這類干擾問題是經(jīng)常發(fā)生的，我們需要采取一定的措施進(jìn)行預(yù)防。深圳市德眾興科技有限公司的RFID電磁鐵氧體片具有高的磁導(dǎo)率，可以起到聚束磁通量的作用，為此類干擾問題提供有效的解決方案。

　　RFID讀取失敗的原因分析及Amotech鐵氧體片抗干擾應(yīng)用的機(jī)制分析

　　對(duì)于常規(guī)的高頻RFID電子標(biāo)簽及識(shí)別系統(tǒng)，在自由空間中沒有其它干擾源時(shí)，其發(fā)生不讀取失效的機(jī)率很小，即便有，失效原因也常常是源于RFID系統(tǒng)中某個(gè)或某部分硬件/軟件，或標(biāo)簽的匹配等原因。在手機(jī)等手持式電子設(shè)備中，電子標(biāo)簽要集成或貼合到電子設(shè)備上，作為設(shè)備的一個(gè)部件發(fā)揮功能，往往因空間有限，不可避免要將RFID標(biāo)簽(通常是被動(dòng)式的)貼在金屬等導(dǎo)電物體表面或貼在臨近位置有金屬器件的地方。這樣來，標(biāo)簽在讀卡器發(fā)出的信號(hào)作用下激發(fā)感應(yīng)出的交變電磁場很容易受到金屬的渦流衰減作用而使信號(hào)強(qiáng)度大大減弱，導(dǎo)致讀取過程失敗。因此，為了產(chǎn)品能夠更好的應(yīng)用讀卡，需要在產(chǎn)品中增加鐵氧體片。