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基于RFID標簽芯片基帶處理器的低功耗設(shè)計

作者: 時間:2013-05-01 來源:網(wǎng)絡 收藏

設(shè)計中采用的是臺積電提供的0.18μm數(shù)字標準單元,標準工作電壓為0.9 V~1.1 V.而EEPROM工作電壓為0.9 V~1.2 V@讀數(shù)據(jù)/1.8 V@寫數(shù)據(jù),所以進行寫操作時需要用到電平轉(zhuǎn)換將1.0 V轉(zhuǎn)換到1.8 V的電壓,以便進行數(shù)據(jù)的交互。

2.3門控時鐘的設(shè)計

為了降低芯片的,設(shè)計中使用了門控時鐘:用使能信號控制寄存器的時鐘端,當使能信號有效時時鐘翻轉(zhuǎn),否則時鐘保持在固定電平。因此時鐘使能可以將電路中的部分電路處于空閑狀態(tài),阻止寄存器內(nèi)部翻轉(zhuǎn)和寄存器之間組合邏輯開關(guān)動作,以達到節(jié)省的目的。圖3所示為門控時鐘的設(shè)計方案。

門控時鐘的設(shè)計

表1給出利用綜合工具Design Compiler對當前設(shè)計進行綜合后的和面積報告??梢钥闯觯驹O(shè)計使用門控時鐘后,總的動態(tài)功耗降低了很多,并且在降低功耗的同時,面積也有了一定的減小。

利用綜合工具Design Compiler對當前設(shè)計進行綜合后的功耗和面積報告

2.4組織模塊設(shè)計方法

由于在設(shè)計中并不是所有的模塊都同時工作,而是在某一個狀態(tài)下,只開啟一個或幾個模塊,其他模塊處于關(guān)閉狀態(tài),所以如果有效組織模塊的開關(guān),將會減少寄存器的開關(guān)翻轉(zhuǎn)動作。設(shè)計中利用有限狀態(tài)機根據(jù)不同的指令和狀態(tài)轉(zhuǎn)換開啟不同的模塊來完成數(shù)據(jù)的處理要求和存儲操作:當接收前向數(shù)據(jù)時,開啟編碼器、CRC計算/校驗、和串并轉(zhuǎn)換;當處理數(shù)據(jù)時,開啟模塊有限狀態(tài)控制機、EEPROM控制模塊、靜默計數(shù)器、隨機數(shù)產(chǎn)生器;當返回數(shù)據(jù)時,開啟模塊有限狀態(tài)控制機、EEPROM控制模塊、數(shù)據(jù)輸出控制端、編碼器其他模塊關(guān)閉。

3 芯片測試

首先采用FPGA完成芯片的功能驗證,以FPGA的可編程邏輯陣列為基本單元,實現(xiàn)ISO18000-6B的數(shù)字基帶功能的硬件仿真驗證。然后使用ASIC芯片設(shè)計EDA工具將RTL頂層描述映射為基于TSMC提供的目標工藝庫的基本數(shù)字單元的物理電路,并生成CAD版圖且提交給TSMC半導體工廠制作出來。

進行芯片測試時,利用先施閱讀器產(chǎn)生RFID各種命令信號,經(jīng)解調(diào)后輸入到待測試芯片的數(shù)據(jù)輸入端。芯片在、時鐘源信號、復位信號的共同激勵下進入正常工作狀態(tài)并對輸入命令數(shù)據(jù)進行響應,將數(shù)據(jù)輸出到調(diào)制電路,然后反射回閱讀器。閱讀器根據(jù)接收到的信號決定下一步操作。在閱讀器和待測芯片的交互過程中,可用邏輯分析儀觀察中間過程。圖4為先施閱讀器對測試芯片發(fā)送read命令時,用邏輯分析儀捕捉的內(nèi)部信號,其中信號data_in為解調(diào)器解調(diào)出的前向鏈路數(shù)據(jù),信號data_out為芯片的返回數(shù)據(jù)。

先施閱讀器對測試芯片發(fā)送read命令時,用邏輯分析儀捕捉的內(nèi)部信號

從已流片芯片的測試結(jié)果看,標簽芯片數(shù)字系統(tǒng)的設(shè)計很好地完成了符合ISO18000-6B協(xié)議的所有強制命令以及讀寫操作和鎖存、查詢鎖存等基本功能,且在閱讀器存盤操作下的平均速率為45~60張/s,功耗為3.10μW,很好地完成了低功耗無源電子標簽的設(shè)計。


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