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基于FPGA的線性卷積的實(shí)時(shí)實(shí)現(xiàn)

作者: 時(shí)間:2010-08-10 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏


觀察圖8可知,經(jīng)過(guò)FFT變換和IFFT變換以后的累積相對(duì)誤差保持在±3%以內(nèi),主要原因是計(jì)算FFT和IFFT過(guò)程中由于精度的要求,進(jìn)行數(shù)據(jù)舍去,造成誤差的產(chǎn)生。這種誤差是由硬件客觀條件限制的,不可避免,但是±3%的誤差精度完全可以滿足實(shí)際應(yīng)用。
本系統(tǒng)由于涉及到高速A/D、高速D/A,所以在PCB設(shè)計(jì)過(guò)程中必須考慮電磁兼容EMC(Electro Magnetic Compatibility)和抗電磁干擾EMI(Electro Magnetic Interference)性和信號(hào)的完整性??傮w來(lái)說(shuō),在進(jìn)行高速PCB設(shè)計(jì)過(guò)程中,不僅要考慮PCB的元器件布局和布線,同時(shí)設(shè)計(jì)中的接地、去耦和旁路同樣重要。例如在A/D部分這種混合信號(hào)PCB設(shè)計(jì)中,由于混合了模擬信號(hào)與數(shù)字信號(hào),只有盡可能減小電流環(huán)路的面積才能降低數(shù)字信號(hào)與模擬信號(hào)之間的相互干擾。一個(gè)可行的方法是將地平面分割,然后在A/D轉(zhuǎn)換器下面將模擬地和數(shù)字地連接在一起。
在處理FFT和IFFT核的指數(shù)問(wèn)題時(shí),正常做法是在FFT結(jié)束后直接做一次指數(shù)調(diào)整,在IFFT結(jié)束后再做一次指數(shù)調(diào)整。設(shè)經(jīng)過(guò)FFT核后的直接輸出結(jié)果為X’(k)、對(duì)應(yīng)指數(shù)輸出為(-expl),x(n)的真實(shí)結(jié)果為X(k),則有

由式(12)可知,F(xiàn)FT和IFFT的兩次指數(shù)調(diào)整實(shí)際可以在IFFT合為一次,可以減少控制的復(fù)雜程度。兩次調(diào)整指數(shù)的示意圖如圖9所示。一次調(diào)整指數(shù)的示意圖如圖10所示。

6 結(jié)束語(yǔ)
本文基于Altera的 EP2S60F1 020C8,搭建了結(jié)合A/D,D/A等功能的配套處理平臺(tái),完成了對(duì)高速離散卷積的硬件實(shí)現(xiàn),使該系統(tǒng)在100 MHz時(shí)工作正常,滿足了設(shè)計(jì)要求。同時(shí),分析了影響處理速度的多個(gè)方面,提出了對(duì)應(yīng)的改進(jìn)方法,為系統(tǒng)的升級(jí)提供了依據(jù)。隨著電子技術(shù)的發(fā)展,更高性能的處理芯片的出現(xiàn)和各種商業(yè)IP核的技術(shù)升級(jí),本文提出的高速卷積的硬件實(shí)現(xiàn)方法在速度和靈活性等方面均逐漸展現(xiàn)出優(yōu)越性。


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