用高性能ADC拓展軟件定義無線電應用領域
美國國家半導體推出的全新12位模數(shù)轉換器(ADC)在采樣速率、動態(tài)性能和集成功能集方面實現(xiàn)了很大的飛躍,其采樣速率高達3.6GSPS,同時能將基底噪聲保持在-147dBm/Hz。即使是性能最接近的單片競爭產(chǎn)品,也只能實現(xiàn)在1GSPS下12位分辨率的信號采樣,這樣的性能飛躍究竟是如何實現(xiàn)的?優(yōu)良的采樣速率和噪聲特性是如何得到的?使用了哪些基礎架構和處理技術?以3.6GSPS速率采樣的12位數(shù)字數(shù)據(jù)是如何采樣及處理的?需要什么樣的時鐘電路?本文將就上述問題以及接踵而至的其它諸多問題進行討論,并將在最后總結可能將受益于該技術的一些應用領域。
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/195223.htm千兆采樣率級別的ADC設計工程師在系統(tǒng)架構上的選擇相對有限,通??扉W式(flash)或折疊式(folding)最為合適。其它諸如流水線(pipeline)架構、分級式(sub-ranging)架構或多步式(multi-step)架構均使用了某種形式的判決反饋回路。例如,在流水線架構中,被采樣的模擬信號被低分辨率的ADC轉換為數(shù)字信號,接著由低分辨率的數(shù)模轉換器(DAC)還原成模擬信號,這會產(chǎn)生一個誤差電壓,之后該電壓又一次被轉換為數(shù)字信號,再由控制邏輯進行處理。這一系列連續(xù)事件最終限制了流水線架構所能獲得的最大采樣速率。一些流水線架構的ADC可能同時使用時間交錯采樣來獲得更高的采樣速率,但這樣的方法在功耗方面的效率相對較低。
盡管由于單次轉換僅受限于并行工作的一系列比較器的開關速率,快閃型架構在理論上可實現(xiàn)最快的采樣速率,但它同樣存在一個重大弊端,即獲得N位的分辨率需要2N–1個數(shù)據(jù)比較器。在分辨率高于8位時,這樣做將以巨大的占位面積和更高的功耗為代價。此外,在分辨率為8位或更高時,對如此多的比較器輸出信號進行編碼也將帶來額外的速率限制。基于上述原因,美國國家半導體全新的12位ADC系列使用了折疊式系統(tǒng)架構,并結合了內插技術和對用戶透明的片內自校準專利技術。
折疊式架構的情況與快閃式基本一致,不同的是比較器可根據(jù)折疊階數(shù)進行共享,因此大幅減少了比較器數(shù)目。假設折疊階數(shù)為f,則n位轉換器所需的比較器數(shù)目為2N/f+f–2。內插技術還減少了所需的前端放大器數(shù)量,從而使輸入信號的負載最小化,進一步降低了功率需求。但折疊式也有一個缺點,與快閃式相比,它更容易受器件偏移的影響。為補償偏移帶來的影響,ADC12D1800采用了專利的片內自校準方案來矯正ADC前置放大電路中的偏移。這將降低折疊式架構產(chǎn)生的積分非線性(INL)誤差。與其它系統(tǒng)架構相比,折疊內插式與片內自校準技術的結合大大節(jié)省了芯片裸片面積和功耗。上電后自校準在芯片內自動運行,無需任何外部信號或控制電路。該系列ADC采用美國國家半導體自有的0.18μm純CMOS工藝制造,這種工藝是為獲得最大噪聲性能同時盡可能降低功耗而專門開發(fā)的。其它超高速ADC采用Bipolar(雙極)或BiCMOS工藝技術制造,通常需要2個或更多的電源軌且功耗極大。圖1中給出了雙ADC12D1800的模塊圖,該芯片運行在1.8V至2.0V的單軌電源下,每個通道的功耗僅為2.05W。
圖1:12位模數(shù)轉換器ADC12D1800模塊圖。
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