使用示波器進行EMI診斷

羅德與施瓦茨公司推出的RTO數(shù)字示波器可以幫助開發(fā)工程師進行電子設(shè)計時在時域和頻域來分析EMI問題，并且能夠幫助定位EMI的產(chǎn)生原因。RTO數(shù)字示波器具備極低的輸入噪聲，在0-4GHz全帶寬范圍內(nèi)，靈敏度可以達到1mv/div。RTO實時FFT頻譜分析能力，配合近場探頭分析診斷EMI問題。

EMI診斷的關(guān)鍵是FFT技術(shù)。傳統(tǒng)示波器的FFT功能，在頻域進行參數(shù)設(shè)置很困難，并且頻譜分析需要很長的時間。由于RS RTO示波器的FFT操作界面是基于頻譜分析儀的，因此用戶可以像使用頻譜分析儀一樣，直接設(shè)置參數(shù)，包括起始頻率，截止頻率，帶寬分辨率和探測器類型。

強大的FFT技術(shù)配合RTO示波器的大存儲深度，使得用戶可以獨立設(shè)置時域和頻域參數(shù)，靈活的在時域和頻域進行分析。這些功能使得用戶可以盡快發(fā)現(xiàn)輻射干擾源。

RS RTO示波器使用Overlap FFT進行頻域分析。重疊FFT技術(shù)可以實現(xiàn)對雜散輻射的高靈敏度，能夠捕獲到偶發(fā)雜散頻點。示波器首先將被捕獲的時域信號分割成若干個時間段，然后分別進行FFT計算得到每一個時間段的頻譜，這樣能在頻譜中捕獲到低能量的偶發(fā)雜散信號。

然后，對出現(xiàn)頻率不同的信號標注以不同的顏色，所有時間段FFT分析頻譜組合成完整的頻譜。

輻射與偶發(fā)的輻射會以標注不同的顏色進行區(qū)分。使用不同顏色標示技術(shù)的頻譜分析能夠完美的展示出EMI輻射出現(xiàn)的類型和頻率。

加窗FFT技術(shù)使用戶可以通過在被捕獲的信號上自定義一個時間窗口，僅對時間窗口內(nèi)的信號進行FFT分析，并且通過滑動這個窗口，分析出每一段時域信號與頻譜的對應(yīng)關(guān)系。例如，可以使用該技術(shù)分析由于開關(guān)電源的晶體管過沖導致的EMI問題。確認問題點之后，用戶可以迅速對整改后的效果進行驗證。

在分析雜散的輻射問題時，模板工具也非常有效。用戶在頻域定義模板，并對違規(guī)信號做相應(yīng)的設(shè)置，這樣就可以準確地判斷是哪些信號造成了頻譜違規(guī)。甚至對已經(jīng)捕獲的信號，用戶也可以調(diào)整FFT參數(shù)，例如加窗的大小以及頻率分辨率等。如此強大的功能使用戶可以對很難捕獲到的EMI輻射進行仔細的分析。

RS RTO示波器憑借其豐富的捕獲特性和分析特性，為示波器樹立了一個新的標桿。同時，配合以豐富的附件，例如RS HZ-15近場探頭，提供了一整套完善的EMI診斷方案。

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Fig: RS RTO數(shù)字示波器 —— 低噪聲前端/高性能FFT鑄造出強大的EMI診斷工具