JTAG接口技術(shù)及ETM

— DDEN在ARM9TDMI內(nèi)部測(cè)試模式下，是可獲取、可測(cè)試的。在ARM9TDMI外部測(cè)試模式下低電平表示將獲取數(shù)據(jù)總線上輸入的數(shù)據(jù)，高電平表示將要輸出掃描鏈上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。

— 在ARM9TDMI進(jìn)入調(diào)試狀態(tài)時(shí)，SYSSPEED將輸出。低電平表示微內(nèi)核現(xiàn)在進(jìn)入斷點(diǎn)調(diào)試，高電平表示微內(nèi)核進(jìn)入觀察點(diǎn)調(diào)試狀態(tài)。

ETM嵌入式跟蹤宏

基于ARM的具有Embedded ICE和JTAG TAP的系統(tǒng)芯片通過JTAG端口和協(xié)議轉(zhuǎn)換器與主機(jī)相連。這種裝置支持正常的斷點(diǎn)、觀察點(diǎn)以及處理器和系統(tǒng)訪問狀態(tài)。但如果要進(jìn)行代碼的實(shí)時(shí)跟蹤就要引入嵌入式跟蹤宏ETM。它提供了ARM處理器系列的指令和數(shù)據(jù)跟蹤。跟蹤協(xié)議被設(shè)計(jì)成可嵌入大規(guī)模專用集成電路（ASIC）中的ARM處理器內(nèi)核提供實(shí)時(shí)跟蹤能力。由于ASIC通常包含片上cache和其他電路，因此，不可能通過觀察ASIC引腳來決定處理器核的操作，可見跟蹤口是了解處理器操作所必需的。

ETM能捕獲指令和數(shù)據(jù)序列，訪問并把它們的記錄發(fā)送給芯片上或芯片外的緩沖器，ARM的ETM既可設(shè)置成允許觸發(fā)器工作也可設(shè)置成允許跟蹤結(jié)果被濾出。使用ETM的過濾功能，可以只捕獲特別中斷的或特殊文件的代碼執(zhí)行，即相當(dāng)于提供了對(duì)代碼的壓縮功能。

ETM由如下兩部分組成：

— 跟蹤端口，用于實(shí)時(shí)執(zhí)行的跟蹤。代碼執(zhí)行時(shí)，CPU發(fā)送串行、經(jīng)過編碼、壓縮的分支目標(biāo)地址、管線狀態(tài)、讀寫數(shù)據(jù)給ETM。

— 觸發(fā)裝置，規(guī)范已被開發(fā)。該規(guī)范允許指定特定應(yīng)用所需的觸發(fā)源的準(zhǔn)確集合。資源包括地址和數(shù)據(jù)比較器、計(jì)數(shù)器和定序器。

軟件調(diào)試器提供與ETM的接口。調(diào)試器允許所有的ETM裝置通過JTAG接口來配置。若跟蹤口已實(shí)現(xiàn)，那么調(diào)試器就可以用容易理解的格式顯示捕獲的跟蹤信息。

ETM壓縮跟蹤信息并通過跟蹤口輸出。外部跟蹤口分析器TPA（trace port analyzer）用于捕獲跟蹤信息。

當(dāng)跟蹤信息已被捕獲時(shí)，調(diào)試器從TPA提取壓縮信息，并將其解壓縮以提供執(zhí)行代碼的完整反匯編。調(diào)試器還可以將其與原高級(jí)代碼連接以提供代碼如何在目標(biāo)系統(tǒng)執(zhí)行的信息。

在實(shí)際的調(diào)試系統(tǒng)中ETM用于實(shí)時(shí)指令追蹤以控制寄存器、總線和存儲(chǔ)器。觸發(fā)點(diǎn)和過濾功能由調(diào)試軟件配置并通過標(biāo)準(zhǔn)JTAG接口傳輸?shù)紼TM上。利用已有可編程的跟蹤器，追蹤端口可配置為4位、8位或16位數(shù)據(jù)總線寬度。同時(shí)在仿真時(shí)外設(shè)和中斷程序依然能夠繼續(xù)運(yùn)行。

ETM7和ETM9的結(jié)構(gòu)和工作原理基本相同。如它們的跟蹤保護(hù)（trace protocol）和TPA是相同的。